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2025年8月29日 14:00

基于深度学习的方法可以实现小麦中旗叶角的现场测量

Deep-learning-based method enables field measurement of flag leaf angle in wheat

由中国科学院（CAS）的遗传学和发育生物学研究所（IGDB）领导的研究团队提出了一种具有成本效益的方法，可用于在现场获取旗帜叶角（Flang）图像，并开发了一种轻量级的深度学习模型，以进行准确的叶子，flang flang估算。