中路

使用门集断层扫描技术表征超导量子比特的中路测量 Kenneth Rudinger、Guilhem J. Ribeill、Luke CG Govia、Mat

发生在量子电路内部层的测量（中电路测量）是一种重要的量子计算原语，最显著的特点是用于量子误差校正。中电路测量既有经典输出也有量子输出，因此它们可能会受到终止量子电路的测量所不存在的误差模式的影响。在这里，我们展示了如何使用一种称为量子仪器线性门集断层扫描 (QILGST) 的技术来表征由量子仪器建模的中电路测量。然后，我们应用该技术来表征多量子位系统内超导传输量子位的色散测量。通​​过改变测量脉冲和后续门之间的延迟时间，我们探索了残余腔光子群对测量误差的影响。QILGST 可以解析不同的误差模式并量化测量的总误差；在我们的实验中，对于超过 1000 纳秒的延迟时间，我们测得的总误差率（即半钻石距离）为 ϵ ⋄ = 8 . 1 ± 1 。 4%、读出保真度为 97 . 0±0 . 3%、测量 0 和 1 时输出量子态保真度分别为 96 . 7±0 . 6% 和 93 . 7±0 . 7%。