X射线纳米计算层析成像,22,23,可提供微型58 34,由聚合物粘合剂组合在一起。1,2,8,9粘合剂 - 粒子结构信息,但不是电子或化学59 35积分,最近已被确定为关键设计信息,目前仅限于有效的分辨率60 36参数,以改善SI基复合电子的大约50 nm。61 37 DES,由于其对大型扫描探针显微镜(SPM)中电极弹性的影响,已成为62 38的体积扩张和与电极显微结构的强大工具相关的63 39 39循环的功能相关的收缩。10 - 12 SI纳米颗粒的表面功能化具有
快速准确地表征量子状态和动力学的能力对于量子技术的发展至关重要。但是,学习通用量子状态或过程的问题在量子系统的大小上具有指数的复杂性。在这次演讲中,我将提出我们对量子状态和过程断层扫描的最新进展。对于国家层析成像,我将首先展示生成对抗神经网络如何在所需的时间和数据方面均超过标准方法[1,2]。对于过程断层扫描,我将展示使用约束梯度下降的优化如何适用于很少的数据和较大系统的实例,即先前需要两种不同方法的制度[3]。最后,我将提出最新的结果,以应用我们用于过程断层扫描的其中一些想法[4]。我们的状态和过程断层扫描的代码可在GitHub [5]上免费获得。
高维状态的量子叠加可以提高加密协议的计算速度和安全性。然而,层析成像过程的指数级复杂性使得这些属性的认证成为一项具有挑战性的任务。在这项工作中,我们使用由飞秒激光写入技术制造的六模通用光子处理器实现的成对重叠测量,通过实验认证了针对不断增加的维度的量子系统的相干性见证。特别是,我们展示了所提出的相干性和维度见证对于维度高达 5 的量子位的有效性。我们还展示了在量子询问任务中的优势,并表明它是由量子语境性推动的。我们的实验结果证明了这种方法对于可编程集成光子平台中量子属性认证的有效性。
我们开发了探测量子信息动态的技术,并在 IBM 超导量子处理器上进行了实验。我们的协议采用阴影层析成像来研究时间演化通道而不是量子态,并且仅依赖于单量子比特操作和测量。我们确定了量子信息扰乱的两个明确特征,这两个特征都无法通过耗散过程模仿,并将它们与多体隐形传态联系起来。通过在实验中实现量子混沌动力学,我们测量了这两个特征,并通过量子系统的数值模拟支持我们的结果。我们还研究了这种动力学下的算子增长,并观察了量子混沌的行为特征。由于我们的方法一次只需要一个量子态,因此可以很容易地将它们应用于各种量子模拟器。
电极微结构可以深刻影响锂离子电池的性能。在这项工作中,使用带有键合粒子模型的离散元素方法(DEM)研究了日历过程对电极微结构的影响。提出了使用X射线计算机断层扫描(XCT)表征的现实电极结构与理想的DEM结构之间的全面评估。断层扫描和DEM结构的电极结构和传输特性,即孔隙率分布,特定的表面积和曲折因子。在考虑了碳粘合剂结构域(CBD)阶段后,进一步进行电化学分析。考虑到日历的效果,可以实现层析成像和理想化结构之间的良好一致性。带有电极压缩电池的性能在日历后改善。本研究为使用DEM和电化学分析提供了基础来定量评估将来的电池性能。
许多量子信息协议的实施需要对量子寄存器进行有效的初始化。在本文中,我们优化了一种粒子捕获协议,用于初始化与金刚石中单个氮空位 (NV) 中心相关的混合自旋寄存器。我们通过使用一系列微波、射频和光脉冲极化 NV 的电子和核自旋来初始化量子寄存器。我们使用速率方程模型来解释光脉冲作用下的粒子分布。将该模型与通过执行部分量子态层析成像获得的实验数据进行了比较。为了进一步增加自旋极化,我们提出了一种具有优化光脉冲的递归协议。我们还讨论了核和电子自旋泵送速率的相对值在实现最大自旋极化程度中的作用。
我们正在举办一项机器学习竞赛,以吸引专注于开发用于识别Cero-Electon层析成像(Cryoet)获得的粒子位置的研究人员。冰冻是一种可视蛋白质组学的强大技术,可以在分子水平上详细探索生物系统。然而,它在大规模实验中的应用受到低吞吐量的约束,特别是在识别蛋白质的3D坐标或断层图内的大分子复合物的3D坐标 - 对于实现近特征图平均的接近原子分辨率至关重要。这一识别粒子位置的步骤称为粒子拾取,这是鉴定和标记断层图中各个颗粒的过程。我们的竞争重点是支持模型开发和评估冷冻数据中的粒子采摘,重点是识别实验数据中多种粒子类型的不同粒子。
从测量开始时关于测量系统的量子状态的连续测量记录可以获得哪些知识?量子状态改编的任务是更为常见的状态预测的倒数,在量子测量理论中通过回顾性积极算法值(POVM)严格解决。此通用框架的介绍介绍了其使用连续的同伴测量值回顾高斯量子状态的实用配方,并将其应用于光学机械系统。我们在常见的光学机械操作模式中识别并表征具有共振或异位驱动场以及同源振荡器局部振荡器频率的特定选择。,我们证明了对机械振荡器正交的近考虑测量的可能性,从而直接访问给定时间的振荡器的位置或动量分布。这构成了完全量子状态层析成像的基础,尽管以破坏性的方式。
摘要工业计算机断层扫描(CT)广泛用于各种行业的非破坏性测试和质量控制。然而,工业CT中的一个共同挑战是由有限的角度层析成像引起的伪影的存在,由于几何约束或时间限制,该物体无法完全旋转。为了消除工件,我们提出了一个基于扩散模型的新框架:深度增量角度改进模型(DI-ARM)。我们的方法通过使用不同有限角度的重建数据作为训练过程中的中间步骤来利用CT投影的特性,取代了添加随机高斯噪声的传统扩散模型。这种方法确保了训练过程中的数据一致性,从而减轻了通过扩散模型的随机性引起的不稳定性。此外,与常规扩散模型相比,我们的方法需要更少的步骤,从而大大降低了计算资源消耗。