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零噪声外推 (ZNE) 是一种量子经典混合技术。它运行噪声水平不断增加的量子电路,提取每个电路的期望值,然后使用经典拟合外推无噪声环境中的理想期望值。在 Mitiq 的 ZNE 实现中,有两个相关的经典变量:(1) 用于查找 y 截距(理想期望值)的外推或拟合类型和 (2) 噪声缩放值,它们决定了噪声在运行的每个附加电路中如何增长 [3]。
电子硬件容易出现制造时引入的缺陷和现场发生的故障。由于数字逻辑电路的复杂性,它们很难测试。本报告概述了数字逻辑测试。它提供了对文献的访问,并统一了该领域发展起来的术语和概念。它讨论了数字逻辑故障的类型和原因。本报告介绍了逻辑和
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