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数字逻辑测试和可测试性 - DTIC
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电子硬件容易出现制造时引入的缺陷和现场发生的故障。由于数字逻辑电路的复杂性，它们很难测试。本报告概述了数字逻辑测试。它提供了对文献的访问，并统一了该领域发展起来的术语和概念。它讨论了数字逻辑故障的类型和原因。本报告介绍了逻辑和

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