本应用说明介绍了一种设备,其最初设计用于解决在仅有正电源可用时需要负电源的特定问题。这种情况非常常见,例如,在使用动态 RAM 的系统中,三电源设备需要大约 -5V 的低电流体偏置电源。在具有大量数字逻辑(+5V)但包含使用 A/O 转换器(例如 ICL7107 或 ICL7109 和/或运算放大器和比较器)的小型模拟部分的系统中,也需要负电源电压,这些转换器以接地为参考信号运行。在所有这些情况下,电流要求和调节都不是很苛刻,但尽管如此,产生这样的 -5V 电源通常成本高昂且效率低下。通常,需要大量分立和集成电路元件将公共 +5V 线路转换为负线路,或向主电源、背板布线等添加额外的输出。
输入频率应用于阈值检测器输入(引脚 11)。如本数据表的 V/F 电路部分所述,引脚 11 的阈值约为 (V DD + V SS ) /2 ± 400mV。引脚 11 的输入电压范围从 V DD 延伸到阈值以下约 2.5 V。如果引脚 11 上的电压低于阈值 2.5 伏以上,V/F 模式启动比较器将打开并破坏输出电压。阈值检测器输入具有约 200 mV 的滞后。在 ± 5 V 应用中,TC9400 的输入电压电平最低为 ± 400mV。如果测量的频率源是单极的,例如使用 +5V 电源的 TTL 或 CMOS,则应使用交流耦合电平转换器。图 6a 中显示了一个这样的电路。图 6b 中的电平转换器电路可用于单电源 F/V 应用。电阻分压器确保输入阈值跟踪电源电压。二极管钳位可防止输入在负方向上走得太远以打开启动比较器。二极管的正向电压每 ° C 下降 2.1 mV,因此对于高环境温度操作,建议串联两个二极管。
皇后镇湖区(昆士兰州或地区)面临挑战,其能力,弹性和负担能力向该地区供应。MBIE的咨询文件指出,采用230V +10%/-6%是“减轻低压网络上潜在限制的成本最低的选择” 2。QLDC非常支持任何标准变化,以减轻以最低成本方式使用分布式生成的限制。由于Aurora的定制价格路径(CPP),昆士兰州的网络费用已经显着增加,并且尚未完全理解其最近对CPP重新开放的应用的含义。QLDC支持任何法规的变化,避免了该地区居民和企业的上流压力,而不会损害供应的安全性和可靠性。MBIE已标志着更新电压标准可能需要对其他标准3的相关更新3。QLDC鼓励MBIE迅速采取行动,以确保整体标准保持清晰,一致和合身。
摘要:几种高级电解质(主要是基于乙醚的)在高能密度锂金属电池中表现出了有希望的电化学性能。这项工作评估了其在滥用条件下的热稳定性,以阐明其安全限制与通常在锂离子电池中使用的碳酸盐电解质相比。与LINI 0.8 MN 0.1 CO 0.1 O 2阴极和超高电压(≤4.8V)和温度(≤300°C)的LI-Metal阳极一起评估电解质稳定性。通过等温微量钙化和差异扫描量热法监测热量释放的发作和程度。大多数基于醚的电解质显示出对碳酸盐电解质的热弹性提高。虽然极端电压严重破坏了基于以太的电解质的稳定,但基于磷酸盐的局部高浓度电解质在碳酸盐电解质上表现出改善的稳定性,即使在60°C下,在第一个电荷过程中的热分析也可能不足以使稳定的稳定性稳定地识别出较长期的电解质,但这些电解质的长期稳定性不足,但这些均可及时的稳定性。电解质设计。t
•功率供应单元(PSU)。开放计算项目的变化正在增加48V输出的普及;但是,与以前的溶液相比,所需的80V和100V硅溶液的损失(门驱动和重叠损失)明显更高。GAN溶液(例如LMG3100)可以帮助最大程度地减少电感 - 电感 - 伴随阶段(LLC阶段)的同步整流器中的这些损失。•中间总线转换器(IBCS)。此系统将中间电压(48V)从PSU的输出转换为较低的电压,然后将其转换为服务器。随着48V电压级别流行,IBC有助于减少服务器子系统分布期间的I 2 r损失,并启用总尺寸和成本降低总线杆和携带电源的电线。IBCS的缺点是,它们为电源转换增加了另一个步骤,这可能会降低效率。因此,除了OEM正在测试高效率和功率密度的最佳组合外,还要利用高效gan设备(例如LMG2100和LMG3100)等高效GAN设备。•电池备用单元。降压阶段通常将电池电压(48V)转换为总线电压(48V)。当电源线路熄灭并且功率流是双向时,您也可以使用BBU进行电池电源转换。不间断的电源使用此阶段,因为它可以通过直接从电池直接执行DC到DC转换来避免由DC到AC-AC-TO-DC转换造成的损失。
联系人地址4主要代表4购买信息5产品注册6为什么要注册您的购买?6 How to Register Your Purchase 6 Product Announcement Mailing List 6 EU Declaration of Conformity 8 History of the DS2A 9 Hardware & Controls Overview 10 Major Features 11 Symbols Used 12 Trigger Sources & Input Requirements 12 External Pulse Duration Control 14 Single-Shot Trigger Button 14 Output Characteristics 15 Output Impedance 15 Device Mounting 16 Accessories 16 Batteries 16 Battery Testing 17 Battery Life 17 Battery Replacement 17 Internal View & Jumpers 19 “Single” Jumper 19规格20保修信息22有限保修22获得保修服务22产品更改或中止22参考23常见问题24操作员注26
手稿版本:作者接受的手稿包装中呈现的版本是作者接受的手稿,可能与已发布的版本或记录的版本有所不同。持续的包裹网址:http://wrap.warwick.ac.uk/143947如何引用:有关最新的书目引用信息,请参考发布版本。如果已知已发布的版本,则链接到上面的存储库项目页面将包含有关访问它的详细信息。版权所有和重复使用:沃里克研究档案门户(WARAP)使沃里克大学的研究人员在以下条件下可用开放访问权限。©2020 Elsevier。在创意共享属性下获得许可 - noncmercial- noderivatives 4.0国际http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nc-nd/4.0/。
• 对 R Sense 使用高精度、低漂移电阻。 • 应考虑 R Sense 功率额定值,以确保在所需电流负载下不会发生故障。 • 如果存在较大的电阻负载,则可以使用单独的高压电源来驱动电流到负载。 • 根据美国国家航空航天局 (NASA) 在文件 EEE-INST-002(2008 年 4 月)中以及欧洲空间标准化合作组织 (ECSS) 在文件 ECSS-Q-ST-30-11C Rev.1(2011 年 10 月 4 日)中提供的降额规范,选择了 5V 的 LMP7704-SP 电源电压。这些文件分别规定将线性 IC 的绝对最大电源电压降额至少为 80% 和 90%。 • 为了正常运行,必须将电源去耦。对于电源去耦,TI 建议将 10 nF 至 1 µF 电容尽可能靠近运算放大器电源引脚放置。对于所示的单电源配置,请在 V+ 和 V– 电源引脚之间放置一个电容。旁路电容的 ESR 必须小于 0.1Ω。
固定的1.2V输出,接近于硅的带隙电压。电流型BGR的输出电压与硅的带隙电压无关,可以根据应用需要进行调整,这也是电流型BGR仍在许多模拟集成电路中广泛使用的原因。由于电流型BGR的输出电压与硅的带隙电压无关,因此称之为电压基准(VR)更为合适。目前,VR的研究方向都与其主要性能参数有关。一是功耗,降低功耗的常用方法是采用亚阈值金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET),因为亚阈值MOSFET的电流比普通MOSFET低得多,适合于低功耗设计[1-8]。另一个是输出电压的温度系数(TC),它是反映VR性能的重要参数。迄今为止,世界各地的研究人员已经提出了许多方法来提高VR的TC,以适应不同的应用。传统BGR输出电压中含有高阶非线性项,导致输出电压的温度曲线具有一定的曲率,从而决定了输出电压的温度系数。有的文献利用非线性电流来补偿输出电压中的高阶非线性项[9~14]。也有研究者将温度范围分成几部分,对每部分温度分别进行补偿,这种方法称为分段补偿[9,15]。一般来说,这种方法的补偿效果较好,但是电路结构稍复杂。针对正向偏置PN结电压的非线性特性,补偿方法有两种,一种方法是利用流过正向偏置PN结的不同TC电流来补偿曲率[10,16~20],另一种方法是通过不同的器件来补偿曲率[21,22]。以上两种方法都是利用PN结的温度特性来补偿温度曲率,比较适用于基于传统BGR电路结构的VR。亚阈值BGR在低功耗方面具有优势,但是传统BGR具有更好的工艺兼容性和更好的TC,这也是本文基于传统电流型BGR设计VR的原因。段全振等人在2015年提出了一种利用NPN BJT进行补偿的方法[21],该补偿曲率的方法简单实用,但需要NPN BJT工艺的支持,有些特定工艺无法提供NPN BJT,根据特定工艺的特点,我们利用工艺设计了一种高精度曲率补偿VR
这项研究的意义在于它可应用于电容谱法,这对于检查先进微电子和纳米电子中的介电/半导体界面至关重要。通过采用这些方法,我们可以准确测量界面处的陷阱电荷水平,这一参数对材料用作栅极介电体或存储器元件的可行性有重大影响。此外,电容-电压 (CV) 特性的控制对于超大规模集成电路 (VLSI) 的开发至关重要,在热场测试下评估栅极介电体的稳定性可以指示电压平坦区的变化,从而确保半导体器件的可靠性。