XiaoMi-AI文件搜索系统
World File Search System电气测量
指南 DKD-R 5-6 温度计特性的测定
DKD汇集了工业企业、研究机构、技术权威、监测和检测机构的校准实验室。它们受到 DKD 认证机构的认证和监督。您对认证期间指定的测量变量和测量范围进行测量设备和测量标准的校准。您颁发的 DKD 校准证书是国家标准可追溯性的证明，符合 DIN EN ISO 9000 系列标准和 DIN EN ISO/IEC 17025 的要求。DKD 实验室的校准为用户提供了测量结果可靠性的保障，提高了客户在国内和国际市场上的信任度和竞争力，并作为质量保证措施范围内测量和测试设备监控的计量基础。DKD 提供电气测量变量、长度、角度和其他几何变量、粗糙度、坐标和形状测量技术、时间和频率、力、扭矩、加速度、压力、流量、温度、湿度的校准选项，提供医疗测量变量、声学测量、光学测量、电离辐射和其他测量。出版物：参见互联网地址：
最低温度测量值 - 量子设计
Low vibration level and the positional drift Temperature range from ~3.5 K to 475 K (optional: 8 K to 650 K) (depending on probes) Works either with liquid nitrogen or liquid helium Helium consumption less than 1 L/h Accommodates up to 2 in (51 mm) diameter wafers (optional: up to 8 in [203 mm]) Up to seven cooled, easily interchangeable, micro-manipulated probe手臂电气测量从DC到67 GHz的各种廉价的LF探针尖端易于替换非常低的三轴探针泄漏电流，仅几个FA非接触式，无损坏的开尔文探针多尖端探针通过单台和多模式Fiber formations进行了启用，以示例型号的启用型号，以示例型号探测器，并探测型号的多模式探测器。微型真空室从杂物盒中传递真空下的样品到探测站非常光滑的X-Y-Z旅行阶段，用于所有单镜系统组件的可选移动样品架系统自定义选项
NASA 计量校准和测量过程 ...
致谢 本出版物的主要作者是： HOWARD T. CASTRUP — 是 Integrated Sciences Group (ISG) 的负责人，该公司致力于设计和开发计算机托管的科学分析和高级决策支持系统。Castrup 是校准间隔分析领域的领导者，他在测试/校准决策分析方面进行了开创性的研究。他是统计过程控制方法的作者，该方法允许在不使用更高级别的比对标准的情况下确定精密测量和测试设备的公差概率。他在加州大学洛杉矶分校获得工程学学士和博士学位，主攻固态电子学。WOODWARD G. EICKE — 是电气测量、标准和仪器领域的咨询计量学家。他在美国国家标准局 (现为 NIST) 工作了 35 年，涉及精密电气测量、电气标准、仪器仪表、自动化、测量保证和其他相关领域。Eicke 是二十多篇发表在科学和技术期刊上的论文的作者，并曾在众多专业协会和 NBS 委员会任职，参与标准编写。他就读于乔治华盛顿大学，获得工程学学士和硕士学位。JERRY L. HAYES — 是工程咨询公司 Hayes Technology 的负责人。他为多家航空航天公司和国防部提供计量和校准计划咨询服务。他曾担任海军计量工程中心的技术总监，并为全海军计划制定政策和目标。他撰写了许多关于校准和测量控制的论文，以确保校准计划和测试的质量。Hayes 曾获得过同行授予的许多奖项和荣誉。他获得了加州大学伯克利分校机械工程学士学位。JAMES L. TAYLOR — 在计算机数据采集系统项目的设计、分析和管理方面拥有二十多年的经验。他负责开展研究和开发概念设计，以及为工业和国防部进行系统设计。Taylor 发表了关于计算机数据采集系统设计技术和测量误差基础的教材，并为众多航空航天和工业公司教授测量技术和系统设计课程。他获得了应用数学和物理学学士学位以及应用数学和工程硕士学位。我们特别感谢 Robert B. Abernethy 博士提供的个人参考资料，并非常感谢以下人员的建设性贡献和批评性评论：NASA 计量和校准工作组 Robert Burdine—NASA HQ (Code Q)/MSFC Fred Kern—LaRC Troy J. Estes—WSTF Kristen Riley—KSC Mark A. Hutchinson—LaRC Herman Watts(Tom Weiss)—Stennis(Sverdrup)
ODU 数字共享 - 老道明大学
这项关于金属有机骨架 (MOF) HUKUST-1 薄膜的研究重点是比较未掺杂的原始状态和通过 TCNQ 渗透 MOF 孔结构进行掺杂的情况。我们已经确定了 HKUST-1 薄膜的温度相关电荷传输 p 型电导率。此外，还详细表征了电导率和电流-电压特性。由于最常见的 MOF 形式，即块状 MOF 粉末，不易进行电气特性研究，因此在本研究中，电气测量是在致密、紧凑的表面锚定金属有机骨架 (SURMOF) 薄膜上进行的。这些单片、明确定义和 (001) 优先取向的 MOF 薄膜是使用准液相外延 (LPE) 在特殊功能化的硅或硼硅酸盐玻璃基板上生长的。在原始 SURMOF 薄膜上，研究了在这些多孔薄膜中加载 TCNQ 的影响。在高度定向的 SURMOF 薄膜中观察到正电荷载流子传导和强烈的电导各向异性，并通过塞贝克系数测量得到证实。范德堡四点霍尔测量为此类多孔和混合有机-无机晶体材料的电行为提供了重要的见解，这使得它们在微电子和光电子设备以及热电应用中具有潜在应用价值。
Operando对WS2气体传感器的调查 - Orbi Umons
摘要：环境压力X射线光电子光谱（APXPS）与同时的电气测量结合，并由密度功能理论计算支持，以研究Operando动力学中基于基于气体的Tungsten二硫化物（WS 2）的感应机制。这种方法允许在现实的工作条件下的表面电势变化与WS 2传感活动层的电阻率之间的直接相关性。着眼于第2和NH 3的有毒气体，我们同时证明了氧化或还原剂之间的明显化学相互作用与WS 2活性层之间的明显化学相互作用及其对传感器响应的影响。The experimental setup mimics standard electrical measurements on chemiresistors, exposing the sample to dry air and introducing the target gas analyte at different concentrations.该方法适用于NH 3浓度100、230和760和14 ppm的NO 2浓度，为未来的APXPS研究建立了基准，用于在操作系统条件下进行快速获取时间和快速获取时间和1：1的电反应和光谱数据之间的相关性。我们的发现有助于更深入地了解2D过渡金属二分法中的传感机制，为针对各种工业应用和具有低能消耗的无线平台优化化学传感器铺平了道路。关键字：操作光谱，带弯曲，表面电势，密度功能理论，气体传感
CATELANI 马克·安东尼
Marcantonio Catelani 信息工程系 工程学院，via S.Marta 3, 50139 Florence 电子邮件：marcantonio.catelani@unifi.it Skype：marcantonio.catelani 电话/手机。他毕业于佛罗伦萨大学工程学院电子工程专业，是佛罗伦萨大学信息工程系的成员，属于 CUN 领域 09 工业和信息工程（宏观部门 E9/E 电气、电子和测量工程 - 竞争部门 09/E4 测量 - SSD ING-INF/07 电气和电子测量）。自 1986 年以来，他一直担任 K-10X 电气和电子测量部门（现为 SSD ING-INF/07）的研究员，负责电气测量、可靠性和认证领域的研究和教学活动。自 1992 年以来，他一直担任副教授，2006 年升任正教授，2009 年起担任同一学院（现为工程学院）的正教授。教学活动可靠性和质量控制教授，积极教授电子和电信工程学位课程，共同教授电气工程和自动化以及（相互）电子工程硕士学位课程中的诊断和系统安全课程。他参与了佛罗伦萨经济与营销学院（普拉托分校）商业经济学学位课程（营销、国际化和质量路径）的质量、可靠性和认证教学。他在佛罗伦萨大学人类健康科学学院生物医学实验室技术（健康专业）学位课程中教授电气和电子测量。
不同的温度泄漏机制（al
（Al 2 O 3）X（HFO 2）具有不同组合物的1-X膜通过血浆增强的原子层沉积（PEALD）沉积在硅底物上，并制造了金属氧化物 - 氧化物 - 氧化物 - 氧化物 - 氧化物 - 氧化物 - 氧化物 - 氧化物 - 氧化物层沉积物（MOS）电容器。通过电气测量检查了不同诱导的Al含量对HFO 2介电特性的影响。结果表明，增加的含量增加了平坦的电压，降低了界面状态密度（D IT），并显着降低了给定电压下的泄漏电流。此外，室温I-V测量值表明Schottky发射（〜0.8-4.8 mV/cm），Poole-Frenkel（PF）发射（〜4.8-7.3 mV/cm）和Fowler-Nordheim（FN）（FN）隧道（〜7.3-8.3 mV/cm）是众多机制。在较高的温度（75–100°C）下，富含AL的样品（50-100％）的泄漏机制从FN隧道转移到高电场的PF发射（〜3.3-6.87 mV/cm）。使用X射线光电子光谱（XPS）和紫外线（UV）分光光度法表征膜的组成和能带对准，表明将Al引入HFO 2会增加带盖，从而增加了介电常数，可减少介电常数，并显着降低氧气空间。因此，进一步证明，具有适当含量的HFO 2膜可以有效地增强介电特性并调整介电层的材料参数。
单层MOS2在图案化石墨烯上的大规模直接生长范德华超快光活性电路
摘要：二维（2D）范德华异质结合了单个2D材料的独特特性，导致超材料，非常适合新兴的电子，光电，光电和自旋形成现象。在利用这些特性用于未来的混合电路方面的一个重大挑战是它们的大规模实现并集成到石墨烯互连中。在这项工作中，我们证明了二硫化钼（MOS 2）晶体在图案化石墨烯通道上的直接生长。通过通过限制的空间化学蒸气沉积生长技术增强对蒸气转运的控制，我们实现了单层MOS 2晶体在单层石墨烯上的优先沉积。原子分辨率扫描透射电子显微镜揭示了杂结构的高结构完整性。通过深入的光谱表征，我们在石墨烯/MOS 2中揭示了电荷转移，MOS 2将p-型掺杂到石墨烯中，如我们的电气测量所证实。光电导率表征表明，可以在MOS 2层覆盖的石墨烯通道中局部创建光活性区域。时间分辨超快的超快瞬态吸收（TA）光谱揭示了在石墨烯/MOS 2异质结构中加速的电荷衰减动力学，对于以下带隙激发条件的上转换。我们的概念验证结果为范德华异质结构电路的直接增长铺平了道路，对超快光活性纳米电子和播客应用具有重要意义。关键字：石墨烯，TMD，现场效应晶体管，范德华异质结构，超快，光活动电路■简介
能源与可再生能源工程项目
代码 课程名称 学分和 SWL 课时 先决条件 CH ECTS SWL Lec Tut Lab TT 第一学期 PHM012 数学 (1) 3 5 125 3 2 0 5 英语/数学 PHM021 振动与波 3 5 125 3 1 1 5 英语/数学 PHM031 静力学 3 5 125 2 2 1 5 英语/数学 MDP011 工程制图 3 6 150 1 3 2 6 PHM041 工程化学 3 5 125 2 1 2 5 英语 CSE031 工程计算 2 4 100 2 0 0 2 总计 17 30 750 13 9 6 28 第二学期 PHM013 数学 (2) 3 5 125 3 2 0 5 PHM012 PHM022 电磁学 3 5 125 3 1 1 5 工程/数学 PHM032 动力学 3 5 125 2 2 1 5 PHM031 CEP011 投影与工程制图 3 6 150 1 3 2 6 MDP081 生产工程 3 5 125 2 0 3 5 工程 ENG011 工程基础 2 4 100 2 1 0 3 总计 17 30 750 13 9 7 29 第 3 学期 MDP151 材料结构与特性 2 4 100 2 1 1 4 PHM 041 PHM113 微分和偏微分方程 3 5 125 3 2 0 5 PHM013 EPM114 电路基础 3 6 150 2 2 1 5 PHM022 EPM115 电磁场基础 3 6 150 2 2 0 4 PHM013 PHM022 EPM117 能源资源与可再生能源 3 5 125 2 2 0 4 MEP111 热物理 2 4 100 1 2 0 3 总计 16 30 750 12 11 2 25 学期 4 EPM119 工程经济与投资 2 4 100 2 1 0 3 PHM111 概率与统计 2 4 100 2 2 0 4 PHM013 EPM113 电气测量 3 5 125 2 2 1 5 EPM114 MDP181 制造技术(1) 3 5 125 3 0 2 5 MDP081 MDP111 机械工程制图 3 6 150 1 3 2 6 MDP011 MEP211 热力学 4 6 150 3 2 1 6 MEP111 总计 17 30 750 13 10 6 29 第 5 学期 EPM221 电机 (1) 3 5 125 3 1 1 5 EPM114 EPM115 EPM232 自动控制系统 3 6 150 2 2 0 4 PHM113 MEP212 传热学 4 8 200 2 2 3 7 MEP211 EPM411 电气工程项目管理 2 4 100 2 1 0 3 MEP221 流体力学与涡轮机械 4 7 175 3 2 1 6 PHM112 总计 16 30 750 12 8 5 25
硅上直接增强的超薄铁电性
致谢 本研究部分由伯克利负电容晶体管中心 (BCNCT)、ASCENT（联合大学微电子计划 (JUMP) 的六个中心之一）、DARPA 赞助的半导体研究公司 (SRC) 项目以及 DARPA T-MUSIC 项目资助。本研究使用了先进光子源的资源，先进光子源是美国能源部 (DOE) 科学办公室用户设施，由阿贡国家实验室为能源部科学办公室运营，合同编号为 DE-AC02-06CH11357。本研究使用了先进光源的资源，先进光源是美国能源部科学办公室用户设施，合同编号为 DE-AC02-05CH11231。斯坦福同步辐射光源、SLAC 国家加速器实验室的使用由美国能源部、科学办公室、基础能源科学办公室资助，合同编号为 DE-AC02-76SF00515。电子显微镜检查在劳伦斯伯克利国家实验室 (LBNL) 分子铸造厂进行，由美国能源部基础能源科学办公室科学办公室 (DE-AC02-05CH11231) 提供支持。JC 和 RdR 感谢美国能源部颁发的总统早期科学家和工程师职业奖 (PECASE) 的额外支持。作者贡献薄膜合成由 SSC、GK 和 DK 完成；电子显微镜检查分别由 RdR 和 S.-LH 在 JC 和 RR 的监督下完成，分析由 L.-CW 在 SS 的监督下完成；扫描探针显微镜由 SSC 和 NS 完成；干涉位移传感器测量由 RW 和 RP 完成和开发；扫描电容显微镜由 HZ 完成；X 射线结构表征由 SSC、NS 和 MM 在 AM 和 EK 的监督下完成；X 射线光谱由 SSC 在 RC、PS 和 EA 的监督下完成；二次谐波生成由 JX 在 XZ 的监督下进行；电气测量由 SSC、NS 和 AD 进行；SSC 和 SS 共同撰写了手稿。SS 监督了这项研究。所有作者都参与了讨论并对手稿发表了评论。利益竞争 作者声明不存在利益竞争。