该实验可让您深入了解X射线的基本属性,它们与物质的产生和相互作用以及在计算机断层扫描中使用X射线。这种非破坏性成像方法中的基本原理是X射线的材料依赖性衰减,从理想的点(如X射线源)所用的X射线源用于吸收吸收率的传播图像,用于大量不同的视角,并计算物体中材料的三维分布。在本实验中,X射线管中Bremsstrahung的结构以及辐射强度对阳极电压和电流的依赖性进行了实验检查。将重新种族与基于克莱默的规则进行比较。使用不同材料的楔子,检查了兰伯特 - 伯尔定律,该定律可预测和指示X射线强度随传输路径的长度而降低。另外,在实验结束时,您有可能扫描您选择的合适对象并创建三维层析成像图像。
W. Neff 博士,亚琛工业大学 R. Lebert 博士,亚琛工业大学 HJ Kunze 教授,波鸿大学 Pinchplasma 系统作为科学和技术应用的紧凑型强 X 射线源 88 Bad Honnef 26.11.-29.11.91
X 射线产品 MOXTEK 于 1986 年开始其首次研究合作,并取得了一项令人振奋的突破 - 超薄聚合物 X 射线窗口,该窗口很快被全球大多数半导体工厂和研究机构采用。从那时起,Moxtek 开始持续发布用于手持式和台式 XRF 和 XRD 应用的突破性新 X 射线产品,并因其在这些市场的贡献而广受认可。Moxtek 的 X 射线技术通过开发用于现场便携式应用的微型、耐用、电池供电的 X 射线源、窗口和探测器,彻底改变了便携式和手持式 XRF 仪器。Moxtek 的 X 射线源取代了以前用于便携式应用的危险且昂贵的放射性同位素,从而降低了拥有成本并最大程度地降低了环境风险。Moxtek X 射线窗口提高了用于制造消费电子产品的扫描电子显微镜内元素映射的灵敏度。由于体积小巧且性能可靠,许多 XRF 供应商都使用 Moxtek X 射线探测器。
使用 Chromex 500 SM、单通单色仪、连续光源和发射线源校准干涉滤光片。校准程序如下:将 LP2 聚焦到单色仪的出口狭缝上,出口狭缝通常设置为 150 mm 的宽度。使用辅助 Ie 将连续光源(通常是钨肋灯)聚焦到入口狭缝(宽度为 150 mm)上。通过遮蔽单色仪和 LP2 之间的光路来排除外部光。此外,在测量期间关闭室内灯。然后在计算机控制下以 -0.3 nm 的步长扫描单色仪,通过滤光片的透射峰,并在每个波长下测量 LP2 输出。定期停止扫描以引入 Ie 光源,从而为单色仪提供校准。扫描完成后,进行第二次扫描(沿同一方向),但不放置干涉滤光片(滤光片安装在具有多个空隙的轮子上)。使用线源测量对单色仪波长进行校正。第一次扫描与第二次扫描的比率给出了干涉滤光片的透射曲线,消除了检测器响应、单色仪吞吐量随波长的变化、LP2 透镜透射和辐射源的发射率效应。除了这些测量外,还以较长和较短的步进方式进行更宽的扫描
现在,我并不是神经网络或其他形式的人工智能领域的专家。相反,作为一名天文学家和物理学家,我以用户的身份来讨论这个话题。随着望远镜技术的进步,尤其是电子探测器的进步以及处理这些探测器信号的方式,天文学现在正被“大数据”淹没……数据量如此之大,以至于我们以前处理结果的方式根本行不通了。(我年纪大了,还记得我们曾经很高兴能有任何数据!)相反,我们依靠巧妙的计算算法(我没有参与编写)来筛选我们观察到的东西。该算法可能表明一个物体可能是 X 射线源,另一个物体可能是行星形成的地点,等等。
在第一部分中,我们描述了我们的方法。我们从标准微电子 CAD 软件中的像素布局描述开始,然后在光学射线追踪软件上生成三维模型。该光学模型旨在尽可能真实,同时考虑到像素所有组件的几何形状和材料的光学特性。还开发了一种特定的射线源来模拟真实条件下的像素照明(物镜后面)。在光学模拟之后,结果被传输到另一个软件以进行更方便的后处理,其中我们使用由角度响应模拟结果与测量值的拟合确定的加权表面作为感光区域。利用这个表面,我们计算基板内的射线密度以评估传感器的模拟输出信号。
事实上,紫外线在科学和工业领域有着许多积极的应用;现在越来越清楚的是,暴露于紫外线对健康、安全和环境有许多负面影响。此外,随着对电磁波谱这一范围的特性的研究,紫外线作用对各种生物和生态系统的波长依赖性正在被揭示。显然,需要做大量的工作来了解有多少太阳紫外线 (SUV) 到达大气层顶部;它如何与大气层的各个层相互作用;有多少绕过大气层以及对陆地和水生环境产生的影响。同样,需要做更多的工作来全面评估在工作场所和其他人类环境中暴露于 SUV 和人造紫外线源 (ASUV) 的影响。
