LIDAR和SLAM为我们提供了一个离线的全球地图,但是我们需要检测动态障碍,最重要的是行人,以及在录制全球地图时不存在的汽车,骑自行车的人和其他物体。基于Intel Realsense和Livox 100中激光雷达的实时图像,我们需要确定3D中障碍物的位置和类别。
*通讯作者:nima.gorji@tudublin.ie摘要 - X射线衍射(XRD)映射是一种非破坏性计量技术,可以通过热机械应力重建在硅晶片上引起的经线的重建。在这里,我们使用基于X和Y方向的一系列线扫描以及同一样品的不同90度旋转的方法绘制了晶圆的扭曲。这些线扫描从晶圆的表面收集摇摆曲线,记录由于表面不良导致的衍射角(ω)偏离了布拉格角。表面经线通过诱导测得的衍射角与参考角度角度(ω -ω0)和摇摆曲线扩展(FWHM)之间的差异来反映XRD测量。通过收集和整合摇摆曲线(RCS)和FWHM从整个表面和晶圆的多个旋转范围扩大,我们可以生成表面函数f(x)的3D地图和角度的不良方向(Warpage)。经线表现出凸形,与文献中报道的光学验证测量值对齐。基于实验室的XRDI有可能在较短的时间内和原位绘制晶圆的翘曲,这可以在同步加速器辐射源中完美地执行。关键字:计量学,硅,扭曲,X射线衍射,晶圆。I.简介
摘要:在本文中,我们通过使用FEM(有限元方法)计算了裸底物和芯片附着的底物的经纱,并比较并分析了芯片附件对翘曲的影响。另外,分析了底物的层厚度对还原经经的影响,并通过Taguchi方法的信号效率比分析了层厚度的条件。根据分析结果,固定芯片时,底物中经纱的方向可能会发生变化。此外,随着包装顶部和底部之间CTE(热膨胀系数)的差异(热膨胀系数)的差异也会降低,并且在加载芯片后包装的刚度会增加。此外,根据对未连接芯片的底物的影响分析,为了减少芯片,为了减少经轴,电路层CU1和CU4的内层首先受到控制,然后集中在焊料底部的焊料厚度上,以及在Cu1和Cu2之间的预钻层的厚度。
编织材料变形发生在将织物形成更复杂的纺织结构的过程中,以及在成品的开发过程中。多种因素影响纺织材料的变形特性。关键因素是所用纱线的特性、织物的结构以及经纱和纬纱的密度。编织材料的各向异性特性要求分析织物经向和纬向的变形。此外,研究还包括分析与经向成 45° 角的编织材料变形。研究结果表明,增加纬纱的密度可以改善纬向和 45° 角的屈服和断裂极限特性。根据所得结果,提出了可用于预测平纹编织纺织材料在经向、纬向和 45° 角处受拉时变形的依赖关系。
摘要 - 计算pangenomics是一种新兴领域,使用图形结构封闭多个基因组研究遗传变异。可视化Pangenome图对于理解基因组多样性至关重要。然而,由于图布局过程的高计算需求,处理大图可能具有挑战性。在这项工作中,我们对最先进的pangenome图布局算法进行了彻底的性能特征 - 揭示了显着的数据级并行性,这使GPU成为计算加速度的有前途的选项。但是,不规则的数据访问和算法的内存性质具有重大障碍。为了克服这些挑战,我们开发了一种实施三个关键优化的解决方案:对缓存友好的数据布局,合并的随机状态和经纱合并。另外,我们提出了一个定量度量标准,用于可扩展对Pangenome布局质量的评估。对24个人类全染色体pangenomes进行了评估,我们的基于GPU的解决方案在没有布局的质量损失的情况下,在the-Art MultineReaded CPU基线上实现了57.3倍的速度,从而将执行时间从数小时减少到数分钟。索引术语 - Pangenomics,生物信息学,图形布局,GPU加速度