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World File Search System输入电容
AP1313 - 芯朋科技
AP1313 需要适当的输入电容来在阶跃负载瞬变期间提供电流浪涌，以防止输入电压轨下降。因为从电压源或其他大容量电容到 VIN 引脚的寄生电感限制了浪涌电流的斜率，所以寄生电感越大，输入电容就越大。超低 ESR 电容（如陶瓷芯片电容）和低 ESR 大容量电容（如固体钽电容、POSCap 和铝电解电容）都可以用作 VIN 的输入电容。对于大多数应用，建议的 VIN 输入电容至少为 10µF。但是，如果不关心输入电压的下降，输入电容可以小于 10µF。输出电容 AP1313 专门设计用于与低 ESR 陶瓷输出电容配合使用，以节省空间。建议使用电容至少为 4.7µF 且 ESR 大于 1mΩ 的陶瓷电容。大输出电容可以降低噪音并改善负载瞬态响应。图 2 显示了允许的 ESR 范围与负载电流和输出电容的关系。
NSREF30xx 数据表 Rev1.0_EN
8.1. 温度系数................................................................................................................................................................11 8.2. 长期稳定性...............................................................................................................................................................11 8.3. 噪声性能.................................................................................................................................................................12 8.4. 典型电压参考连接................................................................................................................................................12 8.4.1. 输入电容.................................................................................................................................................................12 8.4.2. 负载电容.................................................................................................................................................................12 8.5. 布局指南.................................................................................................................................................................12
CI3166xa – 6 位、100MHz、3.3V/1.8V IQ ADC
概述 CI3166xa 是一款双高速低功耗 6 位 100 MS/s ADC 核心单元，专为 0.18um 1P6M +MiM CMOS 技术而设计。ADC 架构采用插值闪存 ADC，以低功耗和输入电容实现高采样率。可编程增益放大器用于适应 0.25 V、0.5 V 和 0.75 V 的满量程输入范围。参考电压在内部生成，并提供外部用于去耦目的。
用于监测电力设备中电离辐射引发的非破坏性单一事件的实验装置
众所周知，地面宇宙辐射 (TCR) 会导致硅和碳化硅功率器件中发生电离事件，从而导致灾难性的后果 [1]。因此，功率器件的设计和可靠运行需要准确表征电荷沉积和收集过程。目前，量化功率器件对 TCR 的敏感性最常见、最快速的技术是基于粒子加速器中的高能粒子辐照 [2]。由于这些测试是在高加速条件下进行的，因此转换到真实的 TCR 环境并不总是很简单。在本文中，我们提出了一种实验装置，用于监测半导体功率器件中由电离辐射产生的非破坏性单电离事件的发生，以收集有关电荷产生和收集过程的精确统计数据。谱测量系统的设计方式使其可以部署在大量实验配置中，其中收集的电荷、计数率和 DUT 的额定电压可能会有很大变化。具体来说，光谱仪需要记录器件中产生的每个电离事件，这些事件的电荷脉冲范围从 1 fC 到 2 pC，以及其时间戳和波形。该系统需要处理高压器件（额定电压高达 3.5 kV），尽量减少偏置纹波和电压随时间漂移。为了提高收集数据的统计意义，需要并行测试器件。因此，系统必须对大输入电容（高达 2 nF）保持稳定，并为大输入电容提供准确的结果
AD52058C 2x15W 立体声 D 类音频放大器，带有 ...
AD52058C 具有直流检测电路，可保护扬声器免受由于输入电容缺陷或印刷电路板输入短路而产生的直流电流的影响。检测电路检测第一级音量放大器输出，当两个差分输出电压高于确定电压或低于确定电压超过 340 毫秒时，将发生直流检测错误并报告给 FAULT 引脚。同时，右/左声道的扬声器驱动器将禁用并进入 Hi-Z。此故障无法通过循环 SD 来清除，必须循环 PVCC 电源。触发直流检测功能所需的最小差分输入电压如表 1 所示。输入电压必须保持高于表中列出的电压超过 340 毫秒才能触发直流检测故障。直流检测阈值的等效 D 类输出占空比列于表 2 中。
NTAG 223 DNA -NFC T2T符合IC
•数据和供应能量的非接触式传输•13.56 MHz的工作频率•106 kbit/s的数据传输•16位CRC的数据完整性，奇偶校验，位编码，位计数•工作距离•运行距离高达100 mm（取决于各种参数，例如，例如field strength and antenna geometry) • 7-byte serial number (cascade level 2 according to ISO/IEC 14443-3) • Automatic NFC counter triggered at the first read command after a reset • Secure Unique NFC (SUN) message authentication feature implemented via ASCII mirroring of the UID, NFC counter and CMAC into the NDEF message in the user memory, which changes on every readout after a reset •基于ECC的原创性签名，提供自定义和永久锁定签名的选项•快速读取命令•True Anti-Collision•50 PF输入电容
快速和... 的相平面衍生失真建模
摘要 - 报告了为精确测量动态信号而不断努力对定制数字化采样器的失真行为进行建模。这项工作是美国国家标准与技术研究所 (NIST) 为推动波形采样计量技术发展而不断努力的一部分。本文介绍了一种具有 -3-dB 6-GHz 带宽的采样器的分析误差模型。该模型是通过检查相平面中的采样器误差行为而得出的。该模型将信号幅度、一阶导数和二阶导数的每样本估计值作为输入，其中导数与时间有关。该模型的解析形式由这些项中的多项式组成，这些多项式是根据数字化器输入电容的电压依赖性和先前研究的旧数字化器中的误差行为而选择的。在 1 GHz 时，当将模型生成的样本校正应用于波形时，总谐波失真可从 -32 dB 改善到 -46 dB。还考虑并纠正了采样系统中的时间基失真的影响。结果表明，在模型中加入二阶导数依赖性可以通过对拟合波形进行精细的时间调整来改善模型与测量数据的拟合度。
快速且...的相平面导出失真建模
摘要-本文报告了为精确测量动态信号而不断努力对定制数字化采样器的失真行为进行建模的工作。这项工作是美国国家标准与技术研究院 (NIST) 为推动波形采样计量技术发展而不断努力的一部分。本文介绍了一种具有 -3-dB 6-GHz 带宽的采样器的分析误差模型。该模型是通过检查相平面中的采样器误差行为而得出的。该模型将信号幅度、一阶导数和二阶导数的每样本估计值作为输入，其中导数与时间有关。该模型的解析形式由这些项中的多项式组成，这些多项式是根据数字化器输入电容的电压依赖性和先前研究的旧数字化器中的误差行为而选择的。在 1 GHz 时，当将模型生成的样本校正应用于波形时，总谐波失真可从 -32 dB 改善到 -46 dB。还考虑并纠正了采样系统中时基失真的影响。结果表明，在模型中加入二阶导数依赖性可通过对拟合波形进行精细的时间调整来改善模型与测量数据的拟合度。
快速且...的相平面导出失真建模
摘要-本文报告了为精确测量动态信号而不断努力对定制数字化采样器的失真行为进行建模的工作。这项工作是美国国家标准与技术研究院 (NIST) 为推动波形采样计量技术发展而不断努力的一部分。本文介绍了一种具有 -3-dB 6-GHz 带宽的采样器的分析误差模型。该模型是通过检查相平面中的采样器误差行为而得出的。该模型将信号幅度、一阶导数和二阶导数的每样本估计值作为输入，其中导数与时间有关。该模型的解析形式由这些项中的多项式组成，这些多项式是根据数字化器输入电容的电压依赖性和先前研究的旧数字化器中的误差行为而选择的。在 1 GHz 时，当将模型生成的样本校正应用于波形时，总谐波失真可从 -32 dB 改善到 -46 dB。还考虑并纠正了采样系统中时基失真的影响。结果表明，在模型中加入二阶导数依赖性可通过对拟合波形进行精细的时间调整来改善模型与测量数据的拟合度。