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P3 装置的 L4n 激光光束线
ELI-Beamlines 的 P3 装置被设想为一个实验平台，用于多个高重复率激光束，时间范围从飞秒到皮秒再到纳秒。即将推出的 L4n 激光光束线将以 1 次/分钟的最大重复率提供高达 1.9 kJ 的纳秒脉冲。该光束线将为高压、高能量密度物理、热致密物质和激光-等离子体相互作用实验提供独特的可能性。由于重复率高，将有可能在数据统计方面获得显著改进，特别是对于状态方程数据集。纳秒光束将与短亚皮秒脉冲耦合，通过照射背光目标或驱动回旋加速器装置产生高能电子和硬 X 射线来提供高分辨率诊断工具。
2023 NSLS-II 新光束线 1 页
探测器、超大样本环境（≈3 2 1.5 m 3 ）的定位能力光束线概念 AMP 光束线是一条相干和非相干小角和广角散射（(c)-SAXS/WAXS）光束线，用于对真实条件下正在加工或操作的材料进行时间分辨的微束原位/操作研究。AMP 旨在测量材料的结构和动态，跨越从埃到微米的长度尺度，具有微米空间分辨率和几十微秒时间分辨率。其主要特性是能够容纳高达 3×2×1.5 m 3 的大型样本平台和辅助表征技术。这种大样本区域还可用于中等规模样本环境的多设置，能够在不同设置和随附的 X 射线束设置之间自动切换。
埃莱特拉先进光电效应实验光束线
我们报告了在 Elettra 储存环上运行的先进光电效应实验光束线的主要特征，该光束线采用完全独立的双分支方案，通过使用奇卡恩波荡器获得，并能够保持线性和圆形模式下的偏振控制。本文介绍了所采用的新颖的技术解决方案，即：� a � 准周期波荡器的设计，可在较大的光子能量范围 � 10–100 eV � 上优化高次谐波抑制，� b � 通过低温冷却器在高热负荷下实现光学元件的热稳定性，以及 � c � 终端站互连设置，允许完全访问离束和在束设施，同时集成用户的专用样品生长室或模块。© 2009 美国物理学会。� DOI: 10.1063/1.3119364 �
PLS-II光束线的光子光束位置监视器
算法•假设：角度效应是PBPM 1。在pbpm（ph_ref）2。阅读pbpm数据（ph_mon）3。计算ph_ref和ph_mon 4。使用源点和BPM和PBPM之间的距离，调整电子束以将光子束对参考位置进行重新检查。5。重复步骤2至4
使用锯齿折射透镜在高能 X 射线光束线上聚焦
1-ID X 射线光束线利用先进光子源 (APS) 储存环电子束的高能量 (7 GeV)、其低发射率、短周期波荡器源和针对高能 X 射线优化的光学系统，提供 40-140 keV 光子能量范围内的高亮度光束，用于材料散射研究。这种 X 射线与物质相互作用的特点是衰减低、散射角小、相互空间访问大，使其非常适合用作体探测器以及几何限制或极端样品环境。光束线范围的很大一部分涉及以高空间分辨率研究工程材料的微观结构和演变，例如获得多晶材料的三维晶粒图，给出位置、形状、晶体取向和应变状态，并通常跟踪在施加的刺激下发生微观机械变化的数千个晶粒的这些参数。高空间分辨率研究通常通过结合多种互补技术进行，即在同一样本上使用聚焦和非聚焦光束。聚焦光束技术包括近场高能衍射显微镜 (nf-HEDM；Suter 等人，2006 年)、衍射断层扫描 (Birkbak 等人，2017 年) 和相干衍射成像 (CDI)。非聚焦光束用于传统断层扫描和远场高能衍射显微镜 (ff-HEDM；Lienert 等人，2011 年)。实现这样一套技术使得同轴聚焦光学系统变得可取，从而使线 (1D) 聚焦、点 (2D) 聚焦和非聚焦配置的光束位置保持不变。主要出于这个原因，不使用 Kirkpatrick–Baez 反射光学器件，尽管它们是消色差的，因此很容易适应能量可调性（如果基于全外部反射，而不是多层）。此外，与同轴光学器件不同，小焦点位置容易受到反射光学器件的角度稳定性的影响。基于菲涅尔区的光学器件（例如区域板和多层劳厄透镜）以同轴方式运行，但具有其他衍射级晕，其消除
先进光源的校准和标准光束线 6.3.2
该弯曲磁体光束线自 1995 年 2 月开始运行，用于表征光学元件（镜子、光栅、多层、探测器等）能量范围为 50-1000 eV。虽然它主要用于 EUV 投影光刻的多层反射光学元件的精密反射测量，但它具有广泛的测量能力。光学元件由单色仪、反射计和重新聚焦镜组成，以在样品上提供一个小点。单色仪是一种非常紧凑、无入口狭缝、变线距平面光栅设计，其中机械刻划光栅在高放大倍数工作的球面镜的会聚光中运行。镜子的像差通过线间距变化进行校正，因此光谱分辨力 λ / ∆λ 受 ALS 光源尺寸限制，约为 7000。波长通过简单旋转具有固定出口狭缝的光栅进行扫描。反射计能够将样品定位在 10 µ m 以内，并将其角位置设置为 0.002 °。基于 LABVIEW™ 的软件为用户提供了方便的界面。反射计通过差动泵与光束线分开，可在半小时内抽空。辅助实验站可以安装在反射计后面。结果证明了光束线的性能和操作便利性。© 1996 美国物理学会。
ORNL 散裂中子源的基础中子物理光束线
光束线的设计旨在支持各种基础物理实验，这些实验旨在解答有关宇宙中物质的性质和存在的问题，并由同行评审分配访问权限和时间。由于这类实验几乎总是受到统计限制，因此光束线的设计旨在提供最高强度的脉冲中子，尤其是冷中子，同时还提供充足的地面空间来安装实验。
海报 钻石光源有限公司材料与磁性光束线 I16
I16 是一条位于 Diamond Light Source 的高通量、高分辨率 X 射线光束线。该光束线工作在 2.7-15 KeV 范围内，是一种专为研究单晶样品的共振和磁散射过程而优化的衍射设备 [1]。共振弹性 X 射线散射是表征材料的电子、磁性和结构特性的理想选择，因为它对原本较弱的散射过程具有增强的灵敏度，可提供光谱信息和化学选择性。I16 的主仪器是一台大型 6 圆 K 衍射仪，能够适应各种辅助环境。该光束线可完全控制其大部分能量范围内的入射光子偏振。它与大光子计数面积探测器和安装在 K 衍射仪上的真空线性偏振分析仪相结合，用于隔离和增强与有序现象相关的特定散射过程。
Versox B07-B：高通量XPS和环境压力Nexafs钻石光源的光束线
描述了钻石光源的多功能软X射线（Versox）Beamine B07的束线光学元件和端站。b07-b从弯曲磁铁源提供45-2200 eV范围内的中频X射线，可访问从李到y到y的所有元素原子的局部电子结构。它具有高通量X射线光电子体外镜头（XPS）和近边缘X射线吸收精细结构（NEXAFS）测量的终端站。b07-b具有从UHV到环境压力的压力（1 atm）的第二个终端群。这些终点站的组合允许对各种界面和材料进行研究。详细讨论了梁线和端积设计，以及它们的性能和调试过程。
MAX IV 1.5 GeV 储存环 FinEstBeAMS 光束线的稀释样品气相电子、离子和巧合光谱终端站
自 2019 年春季以来，瑞典隆德 MAX IV 实验室的 FinEstBeAMS 光束线已为用户提供了一套由电子分光计和用于稀释样品的离子飞行时间质谱仪组成的实验装置。该装置使用户能够研究原子、分子、（分子）微团簇和纳米粒子与短波长（真空紫外和 X 射线）同步辐射的相互作用，并跟踪这种相互作用引起的电子和核动力学。对 N 2 和噻吩 (C 4 H 4 S) 分子的测试测量表明，该装置可用于多粒子巧合光谱。通过线性水平和垂直偏振对 Ar 3 p 光电子谱的测量表明，也可以进行角度分辨实验。还展示了在同一实验过程中比较 Co 2 O 3 和 Fe 2 O 3 中 Co 和 Fe L 2,3 吸收边处稀释样品与固体靶的电子光谱结果的可能性。由于 FinEstBeAMS 光束线的光子能量范围从 4.4 eV 延伸到 1000 eV，因此可以在非常宽的光子能量范围内执行电子、离子和巧合光谱研究。