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EUROCONTROL 展台
我们的专家 Michael Sfyroeras 将介绍下一版网络管理器流量应用程序的新功能，FMP/ATC 操作人员可以免费访问该应用程序。该版本将于 4 月 25 日发布，并将提供新的扇区配置视图/负载监控；新的计数界面，包括预测飞行数据和相关流量的复杂性功能，以及新的强制性挑选法规能力，以响应 CP1 立法对 NM 和 ANSP 的强制性要求。
项目-15-VCE-可再生能源信用优化-...
背景 加州要求负荷服务实体 (LSE)（例如 VCE）从符合条件的可再生资源（例如风能、太阳能、地热能、小型水电等）采购至少一定比例的负荷。从州的角度来看，LSE 需要在 2030 年前从可再生能源中采购 60% 的负荷，如 SB 100 中所述。董事会已制定了更积极的目标，即到 2030 年实现 100% 可再生能源。LSE 不能等到 2030 年才证明合规，而是必须实现称为合规期（CP1、CP2、CP3 等）的中期目标。如下图 1 所示，2021-2024 年是 CP4，CP5 是 2025-2027 年。值得注意的是，LSE 是在每个 CP 的时间段内进行测量的，而不是单个年份，因此 CP5 的平均值是 49.4%（各年的百分比如下：2025 年 = 47.0%，2026 年 = 49.2%，2027 年 = 52.0%）。
i4D 与空间通信
鉴于欧洲在全球航空市场中的重要性，建立单一欧洲天空 (SES) 框架至关重要，它为未来航空业的发展奠定了基本基石，并为欧洲研发和协调部署活动铺平了道路。该框架包括建立 SESAR 联合承诺 (SJU) 以及最近的 SESAR 部署管理器 (SDM)，并在此过程中辅以强有力的专门法规。欧洲对航空发展的充分承诺可以通过几项 CNS 专用实施规则 (IR) 看出，例如数据链服务 IR（EC 29/2009 及其相应修订）、PBN IR（EU 2018/1048）或最近的共同项目 1 (CP1) (IR (EU) 2021/116)、修订委员会实施条例 (EU 409/2013) 并废除前委员会实施条例 (EU 716/2014)，即试点共同项目 (PCP)。
EpiQuik™ 植物 ChIP 试剂盒
组分 24 次反应 48 次反应 P-2014-24 P-2014-48 CP1（洗涤缓冲液） 28 ml 2 x 28 ml CP2（抗体缓冲液） 15 ml 30 ml CP3C（5X 裂解缓冲液 I） 12 ml 24 ml CP3D（裂解缓冲液 II） 3 ml 6 ml CP3E（裂解缓冲液 III） 2 ml 4 ml CP3F（裂解缓冲液 IV） 1.5 ml 5 ml CP4（ChIP 稀释缓冲液） 2 ml 6 ml CP5（DNA 释放缓冲液） 2 ml 2 x 2 ml CP6（反向缓冲液） 2 ml 2 x 2 ml CP7（结合缓冲液） 5 ml 8 ml CP8（洗脱缓冲液） 0.6 ml 1.2 ml 蛋白酶抑制剂混合物 (100X)* 25 µl 50 µl 非免疫 IgG (1 mg/ml)* 10 µl 10 µl 抗二甲基 H3-K9 (1 mg/ml)* 5 µl 8 µl 蛋白酶 K (10 mg/ml)* 25 µl 50 µl 8 孔检测条（带框架） 3 6 8 孔条盖 3 6 F-Spin Column 30 50 F-Collection Tube 30 50 * 使用前将溶液旋至底部。 运输和储存
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MAXIM 高速双极和 BiCMOS 工艺可靠性...
婴儿死亡率评估 (IME) 6 HTOL (高温工作寿命) 测试 6 85/85 (温度-湿度-偏差) 测试 (THB) 7 压力罐测试 7 温度循环测试 7 高温存储测试 7 可靠性数据 8 表 3 Maxim 高频双极工艺的婴儿死亡率评估 (150°C Tj) 8 表 4. 高温工作寿命测试 – CP1 工艺，150°C Tj 10 表 5. 高温工作寿命测试 – CB2 工艺，150°C Tj 10 表6. 高温运行寿命测试 – CB3 工艺在 150°C Tj 11 表 7. 高温运行寿命测试 – GST1 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj（续）12 表 9. 高温运行寿命测试 – GST3 工艺在 150°C Tj 13 表 10. 高温运行寿命测试 – GST4 工艺在 150°C Tj 14 表 11. 高温运行寿命测试 – MB1 工艺在150 ° C Tj 15 表 12. 85/85 测试（高频双极和 BiCMOS 工艺） 16 表 13. 高压锅测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 18 表 14. 温度循环测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 21 表 15. 高温存储测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 25
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婴儿死亡率评估 (IME) 6 HTOL (高温工作寿命) 测试 6 85/85 (温度-湿度-偏差) 测试 (THB) 7 压力罐测试 7 温度循环测试 7 高温存储测试 7 可靠性数据 8 表 3 Maxim 高频双极工艺的婴儿死亡率评估 (150°C Tj) 8 表 4. 高温工作寿命测试 – CP1 工艺，150°C Tj 10 表 5. 高温工作寿命测试 – CB2 工艺，150°C Tj 10 表6. 高温运行寿命测试 – CB3 工艺在 150°C Tj 11 表 7. 高温运行寿命测试 – GST1 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj（续）12 表 9. 高温运行寿命测试 – GST3 工艺在 150°C Tj 13 表 10. 高温运行寿命测试 – GST4 工艺在 150°C Tj 14 表 11. 高温运行寿命测试 – MB1 工艺在150 ° C Tj 15 表 12. 85/85 测试（高频双极和 BiCMOS 工艺） 16 表 13. 高压锅测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 18 表 14. 温度循环测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 21 表 15. 高温存储测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 25
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婴儿死亡率评估 (IME) 6 HTOL (高温工作寿命) 测试 6 85/85 (温度-湿度-偏差) 测试 (THB) 7 压力罐测试 7 温度循环测试 7 高温存储测试 7 可靠性数据 8 表 3 Maxim 高频双极工艺的婴儿死亡率评估 (150°C Tj) 8 表 4. 高温工作寿命测试 – CP1 工艺，150°C Tj 10 表 5. 高温工作寿命测试 – CB2 工艺，150°C Tj 10 表6. 高温运行寿命测试 – CB3 工艺在 150°C Tj 11 表 7. 高温运行寿命测试 – GST1 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj（续）12 表 9. 高温运行寿命测试 – GST3 工艺在 150°C Tj 13 表 10. 高温运行寿命测试 – GST4 工艺在 150°C Tj 14 表 11. 高温运行寿命测试 – MB1 工艺在150 ° C Tj 15 表 12. 85/85 测试（高频双极和 BiCMOS 工艺） 16 表 13. 高压锅测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 18 表 14. 温度循环测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 21 表 15. 高温存储测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 25
初步咨询声明
咨询要求 地方发展计划 萨默塞特地方发展计划 (LDS) 于 2023 年 10 月 4 日获得批准。LDS 列出了萨默塞特议会将制作的正式规划文件和制作时间表。LDS 列出了该活动的范围和目标时间表，确认更新仅限于重新考虑前门迪普区 505 套住宅的住房分配。它还确认将根据政策 CP1 和 CP2 中包含的已采用的门迪普地方计划战略来评估分配。 国家咨询要求 对涵盖地方发展计划的公众参与有最低要求。这些是在立法和规划法规中规定的。相关立法构成了《城乡规划法》和《规划和强制购买法》的一部分，以及《2004 年计划和方案环境评估条例》和《栖息地和物种保护条例》。理事会旨在满足并在适当情况下超越这些要求。根据欧洲指令 2001/42/EC（SEA 指令）和相关的 2004 年计划和方案环境评估条例（SEA 条例），发展计划必须接受战略环境评估 (SEA)。栖息地条例评估 (HRA) 必须按照欧盟栖息地指令第 6(3) 条和 2017 年栖息地和物种保护条例（经修订）第 63 条进行。萨默塞特郡议会要求萨默塞特郡议会致力于有效社区参与发展计划和申请，该承诺载于其 2023 年社区参与声明 (SCI)。地方计划第二部分的部分更新须遵守 SCI 中的要求，议会需要在审查时证明这一点。
MAXIM 高速双极和 BiCMOS 工艺可靠性...
婴儿死亡率评估 (IME) 6 HTOL（高温工作寿命）测试 6 85/85（温度-湿度-偏差）测试（THB）7 压力罐测试 7 温度循环测试 7 高温存储测试 7 可靠性数据 8 表 3 Maxim 高频双极工艺的婴儿死亡率评估（在 150°C Tj 下）8 表 4。高温工作寿命测试 – CP1 工艺在 150°C Tj 下 10 表 5。高温工作寿命测试 – CB2 工艺在 150°C Tj 10 表 6。高温运行寿命测试 – CB3 工艺在 150°C Tj 11 表 7。高温运行寿命测试 – GST1 工艺在 150°C Tj 11 表 8。高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj 11 表 8。高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj（续）12 表 9。高温运行寿命测试 – GST3 工艺在 150°C Tj 13 表 10。高温工作寿命测试 – GST4 工艺在 150°C Tj 14 表 11。高温工作寿命测试 – MB1 工艺在 150°C Tj 15 表 12。85/85 测试（高频双极和 BiCMOS 工艺） 16 表 13。高压锅测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 18 表 14。温度循环测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 21 表 15。高温存储测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 25