请注意!本文件仅供参考,本文提供的任何信息在任何情况下均不视为对我们产品的任何功能、条件和/或质量或任何特定用途适用性的保证、担保或描述。关于我们产品的技术规格,我们恳请您参考我们提供的相关产品数据表。我们的客户及其技术部门需要评估我们的产品是否适合预期用途。
摘要:低温场效应晶体管(FET)为应用提供了巨大的潜力,最值得注意的例子是量子信息处理器的经典控制电子设备。对于后者,低功耗的片上FET至关重要。这需要在Millivolt范围内的操作电压,只有在具有超级阈值斜率的设备中才能实现。然而,在基于散装材料的常规低温金属 - 氧化物 - 氧化 - 氧化 - 氧化氧化物 - 氧化物 - 氧化物 - 氧化物 - 氧化物 - 氧化物 - 氧化物 - 脱氧剂(MOS)FET中,由于疾病和MOS界面处的带电缺陷,实验上实现的逆下阈值倾斜在几个MV/DEC周围饱和。基于二维材料的FET提供了有希望的替代方案。在这里,我们表明,基于六角形硝化硼的Bernal堆叠的双层石墨烯和石墨门在0.1 K时表现出逆下阈值斜率,在0.1 K时表现出逆下阈值,接近250μV/dec,接近玻尔兹曼的限制。此结果表明在没有散装界面的范德华异质结构中对带尾的有效抑制,从而在低温温度下导致了卓越的装置性能。关键字:Bernal堆叠的双层石墨烯,带隙,子阈值坡度,疾病
制造了用于存储器和神经形态应用的具有 Hf 0.5 Zr 0.5 O 2 栅极绝缘体的三栅极铁电 FET,并对其进行了多级操作表征。电导和阈值电压表现出高度线性和对称的特性。开发了一种紧凑的分析模型,以准确捕捉 FET 传输特性,包括串联电阻、库仑散射和垂直场相关的迁移率降低效应,以及阈值电压和迁移率随铁电极化切换的变化。该模型涵盖亚阈值和强反转操作。额外的测量证实了铁电切换,而不是基于载流子捕获的存储器操作。紧凑模型在用于深度神经网络在线训练的模拟平台中实现。
摘要 — 我们提出了一种基于电荷准静态模型的显式小信号石墨烯场效应晶体管 (GFET) 参数提取程序。通过对 300 nm 器件进行高频(高达 18 GHz)晶圆上测量,精确验证了小信号参数对栅极电压和频率的依赖性。与其他只关注少数参数的工作不同,这些参数是同时研究的。首次将有效的程序应用于 GFET,以从 Y 参数中去除接触电阻和栅极电阻。使用这些方法可以得到提取小信号模型参数的简单方程,这对于射频电路设计非常有用。此外,我们首次展示了本征 GFET 非互易电容模型与栅极电压和频率的实验验证。还给出了测量的单位增益和最大振荡频率以及电流和功率增益与栅极电压依赖性的精确模型。
2 Device Characteristics ............................................................................................................ 4 2.1 Electrical Characteristics (Pre-Irradiation) ............................................................................................. 4 2.2 Source-Drain Diode Ratings and Characteristics (Pre-Irradiation) ....................................................... 5 2.3 Thermal Characteristics ……............................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................... ...................................................................................................................................... 6
摘要 — 本工作研究了影响采用转移印刷法制备的Si-GaN单片异质集成Casccode FET击穿电压的因素。这两个因素是Si器件的雪崩击穿电阻和SiN电隔离层的厚度。设计了Si MOSFET和Si横向扩散MOSFET(LDMOSFET)两种器件结构,研究了Si器件的雪崩击穿电阻对Cascode FET击穿特性的影响。分析了SiN电隔离层厚度的影响。最后,单片集成Cascode FET的击穿电压达到了770 V。索引术语 — 单片异质集成;Cascode FET;击穿电压;LDMOS;极化电荷。
摘要 我们研究了卷积神经网络 (CNN) 在加速双栅极 MOSFET 量子力学传输模拟(基于非平衡格林函数 (NEGF) 方法)中的应用。具体而言,给定电位分布作为输入数据,我们实现卷积自动编码器来训练和预测载流子密度和局部量子电容分布。结果表明,在 NEGF 自洽计算中使用单个训练好的 CNN 模型以及泊松方程可以为各种栅极长度产生准确的电位,并且所有这些都在比传统 NEGF 计算短得多的计算时间内完成。 关键词:纳米级 MOSFET、模拟、非平衡格林函数、卷积神经网络、卷积自动编码器 分类:电子器件、电路和模块
摘要:黑磷(BP)在电子和光电子应用方面表现出巨大的潜力,然而如何保持BP器件在整个温度范围内的稳定性能仍然是一个难题。本文展示了一种在原子层沉积AlN/SiO 2 /Si衬底上制备的新型BP场效应晶体管(FET)。电学测试结果表明,与传统SiO 2 /Si衬底上制备的BP FET相比,AlN衬底上的BP FET具有更优异的电学性能。在77至400 K的温度范围内,它表现出5 × 10 8 的大开关电流比、< 0.26 V/dec的低亚阈值摆幅和1071 cm 2 V −1 s −1的高归一化场效应载流子迁移率。然而,当温度升至400 K时,SiO 2 /Si衬底上的BP FET不再具有这些稳定的电学性能;相反,SiO 2 /Si 衬底上的 BP FET 的电性能却急剧下降。此外,为了从物理上了解 AlN 衬底上 BP FET 的稳定性能,进行了低频噪声分析,结果表明 AlN 薄膜
模块 — I(12 小时) MOS 场效应晶体管:FET 和 MOSFET 的原理和操作;P 沟道和 N 沟道 MOSFET;互补 MOS;E- MOSFET 和 DMOSFET 的 VI 特性;MOSFET 作为放大器和开关。BJT 的偏置:负载线(交流和直流);工作点;固定偏置和自偏置、带电压反馈的直流偏置;偏置稳定;示例。FET 和 MOSFET 的偏置:固定偏置配置和自偏置配置、分压器偏置和设计模块 — II(12 小时)BJT 的小信号分析:小信号等效电路模型;CE、CC、CB 放大器的小信号分析。Rs 和 RL 对 CE 放大器操作的影响、射极跟随器;级联放大器、达林顿连接和电流镜电路。 FET 的小信号分析:小信号等效电路模型、CS、CD、CG 放大器的小信号分析。CS 放大器上的 RsiG 和 RL 的匹配;源极跟随器和级联系统。模块 —III(8 小时)FET 和 BJT 的高频响应:BM 和 FET 的高频等效模型和频率响应;CS 放大器的频率响应、CE 放大器的频率响应。模块 —IV(6 小时)反馈放大器和振荡器:负反馈和正反馈的概念;四种基本反馈拓扑、实用反馈电路、正弦振荡器原理、WeinBridge、相移和晶体振荡器电路、功率放大器(A、B、AB、C 类)。模块 — V(7 小时)运算放大器:理想运算放大器、差分放大器、运算放大器参数、非反相配置、开环和闭环增益、微分器和积分器、仪表放大器。书籍: