1978 年,决定出版更多专业专著,涵盖原始飞行测试手册第 1 卷和第 2 卷的各个方面,包括飞机系统的飞行测试。1981 年 3 月,飞行测试技术组 (FTTG) 成立,以执行这项任务并继续编写飞行测试仪表系列卷。这个新系列的专著(AG237 除外,它是单独编号的)将作为单独编号的卷在 AGARDograph 300 中出版。1993 年,飞行测试技术组改组为飞行测试编辑委员会 (FTEC),从而更好地反映了其在 AGARD 内的实际地位。幸运的是,卷的工作可以继续进行,而不会受到这一变化的影响。
1978 年,决定出版更多专业专著,涵盖原始飞行测试手册第 1 卷和第 2 卷的各个方面,包括飞机系统的飞行测试。1981 年 3 月,飞行测试技术组 (FTTG) 成立,以执行这项任务并继续编写飞行测试仪表系列卷。这个新系列的专著(AG237 除外,它是单独编号的)将作为单独编号的卷在 AGARDograph 300 中出版。1993 年,飞行测试技术组改组为飞行测试编辑委员会 (FTEC),从而更好地反映了其在 AGARD 内的实际地位。幸运的是,卷的工作可以继续进行,而不会受到这一变化的影响。
• 遥测组:RCC 遥测组 (TG) 成立于 1953 年,是 IRIG 的一部分。TG 有四个活跃委员会(数据多路复用、记录器再现器、射频系统和车载仪表及传感器)。TG 支持多个文档 IRIG 106、RCC 118、119、120 和 121。IRIG 106-xx 第 1 和第 2 部分(遥测 (TM) 标准)是唯一保留 IRIG 名称的文档。RCC TG 维护 RCC 成员范围使用的 TM 系统标准。它们包含飞行测试遥测行业使用的许多标准。
飞机仪表系统基础知识 Bruce Johnson,NAWCAD 本课程将涵盖与飞机仪表相关的各种主题。数据、遥测、仪表系统框图、标准、数据要求、传感器/规格、视频、1553 总线、使用要求配置模拟数据通道、创建 PCM 映射以获取采样率、遥测带宽、记录时间、GPS、音频、遥测属性传输标准 (TMATS) 和测量不确定性 - 解释结果。这对新员工来说是很好的介绍,对现有员工来说也是进修。IRIG 106-17 第 7 章分组遥测下行链路基础和实施基础 Johnny Pappas,Safran Data Systems,Inc.本课程将重点介绍信息,以便对 2017 年发布的 IRIG 106 第 7 章分组遥测下行链路标准建立基本了解。它还将重点介绍机载和地面系统硬件的实施以及处理 IRIG 106 第 7 章分组遥测数据的方法。演示将介绍支持传统 RF 传输、数据记录、RF 接收、地面再现和第 10 章数据处理方法所需的特殊功能的实施。性能评估的预测分析 Mark J. Kiemele,空军学院协会 实验设计 (DOE) 是一种不仅可以用于系统的设计和开发,而且可以用于系统性能的建模和验证的方法。建立有用的预测模型,然后对其进行验证,可以减轻采购决策的负担。本教程将研究两个为满足一组共同要求而构建的原型。DOE 将用于对每个原型的性能进行建模。然后,将使用验证测试来确认模型并评估每个原型的性能能力,即原型满足要求的程度。这有助于比较两个系统的功能,从而增强对采用哪个系统的决策。本教程没有任何先决条件,因为分析将通过计算机进行演示。
以下框图描述了 AR-51A 的运行。该装置包括铷钟标准,并接受来自内部 GPS 接收器、外部 GPS、外部 1PPS 或外部 IRIG B 的输入。所有输出均来自内部铷钟,该时钟通过数字 PLL 锁定到内部 GPS 接收器或外部输入之一。因此,铷钟的频率和时间平均跟随 GPS。如果 GPS 接收在短时间或长时间内丢失,铷钟将继续保持准确的时间和频率,而不会发生相位中断。
可靠且准确的同步交付对于满足多个市场领域的严格任务应用程序(例如国防,移动回程,电力公用事业和广播)的严格要求至关重要。网络运营商需要一个可靠的可扩展解决方案,以提供确保的阶段,频率和时间同步。但是,以具有成本效益的方式实现这一目标提出了重大挑战。我们的OSA 5422是一种多功能且精确的同步设备,旨在满足新兴应用程序等新兴应用程序的严格频率和相位同步需求,同时还支持其他市场需求,例如IRIG,BITS,COMPESITER,CC/JCC(CC/JCC),以及诸如Tri-Level和Black Burst的广播信号。其紧凑而灵活的设计(用于在网络边缘部署中进行了优化,可确保可靠且具有成本效益的同步很容易实现。OSA 5422,配备了
SPINTEC 在全球范围内融入了非常丰富的格勒诺布尔研究生态系统。该部门所在的 CEA 环境在分析期间进行了重组,这特别导致了 2016 年初纳米结构和磁学 - NM 团队的整合。该部门目前隶属于格勒诺布尔跨学科研究所 (IRIG) 的纳米物理系 (DEPHY)。更普遍地说,SPINTEC 受益于与其他 CEA 单位的互动,包括用于技术开发的 LETI、与 CNRS 站点的邻近单位(Institut Néel、LNCMI)以及与 Minatec、Giant 和 Université Grenoble Alpes 环境的互动。该单位也是 LANEF labex 和 CNRS、UGA 和格勒诺布尔 INP 的微纳米技术联合会 FMNT 的一部分。最后,它隶属于 COMUE UGA 的物理学博士学院 (EDPhy) 和工程学博士学院 (EEATS)。单位管理
B.Dieny 1 , ILPrejbeanu 1 , K.Garello 2 , P.Gambardella 3 , P.Freitas 4,5 , R.Lehndorff 6 , W.Raberg 7 , U.Ebels 1 , SODemokritov 8 , J.Akerman 9 , 10 , APir 11 , P.Ac . delmann 2 , A.Anane 13 , AVChumak 12, 14 , A.Hiroata 15 , S.Mangin 16 , M.Cengiz Onbaşlı 17 , Md'Aquino 18 , G.Prenat 1 , G.Finocchio 19 , L.Lopez Diaz , R.C. esenko 22 , P.Bortolotti 13 1. Univ. 1. 格勒诺布尔阿尔卑斯大学、CEA、CNRS、格勒诺布尔 INP、IRIG、SPINTEC,法国格勒诺布尔 2. 比利时鲁汶 Imec 3. 苏黎世联邦理工学院材料系磁学与界面物理实验室,瑞士苏黎世。 4. 国际伊比利亚纳米技术实验室(INL),葡萄牙布拉加 5. 系统与计算机微系统与纳米技术工程研究所(INESC MN),葡萄牙里斯本 6. Sensitec GmbH,德国美因茨 7. 德国英飞凌科技股份公司,德国应用科学研究所,德国明斯特 9. 瑞典哥德堡大学物理系 10. 瑞典皇家理工学院工程科学学院应用物理系 11. 德累斯顿—罗森多夫亥姆霍兹中心,离子束物理和物理研究所,德国迈兴 12. 凯泽斯劳滕工业大学和州立研究中心 OPTIMAS,德国凯泽斯劳滕 13. 法国国家科学研究中心泰雷兹公司巴黎南大学巴黎-萨克雷,帕莱索,法国 14. 维也纳大学物理学院,维也纳,奥地利 15. 约克大学电子工程系,赫斯灵顿,英国 16. 洛林大学让·拉穆尔研究所,南锡,法国 17. 科克大学,伊斯坦布尔,18. 佩科维奇,那不勒斯,意大利 19. 墨西拿大学数学与计算机科学系、物理科学与地球科学系,墨西拿,意大利 20. 萨拉曼卡大学应用物理系,萨拉曼卡,西班牙 21. 约克大学物理系,马德里材料研究所,英国 22 CSIC,西班牙
图 6-3a。用于验证 IRIG 时间码准确性的基于 PC 的测试设置。...................................... 6-12 图 7-1。单个 CAIS 总线配置。......................................................................... 7-2 图 7-2。分离 CAIS 总线配置。......................................................................... 7-2 图 7-3。配置检查流程图 (1/2)。............................................................. 7-4 图 7-4。配置检查流程图 (2 / 2)。......................................................... 7-5 图 B-1。热瞬态测试设备。............................................................................. B-2 图 B-2。底座。................................................................................................................ B-3 图 B-3。传感器固定装置支架。................................................................................ B-4 图 B-4。传感器固定装置(黄铜)。................................................................................ B-5 图 B-5。玻璃固定环。............................................................................................. B-6 图 B-6。传感器安装插头。............................................................................................. B-7 图 B-7。闪光灯滑块。............................................................................................. B-8 图 B-8。灯架(大)。......................................................................................... B-9 图 B-9。灯架(小)。.................................................................................... B-10 图 B-10。使用开槽旋转盘和相当于测量应用的热源对传感器进行瞬态热冲击测试的测试设置。.................... B-15 图 C-1。发射器 RF 包络。................................................................................. C-1 图 C-2。晶体探测器输出。.................................................................................... C-1 图 C-3。幅度调制。......................................................................................... C-2 图 D-1。测量值和计算值。...................................................................... D-2 图 E-1。GUI 控制窗口。......................................................................................... E-6 图 E-2。文件浏览器窗口。...................................................................................... E-6 图 E-3。对话框:载波跟踪滤波器。.................................................................... E-7 图 E-4。对话框:符号跟踪滤波器。.................................................................. E-8 图 E-5。外部/接收器/眼图。外部、离散时间散点图。................................................................ E-10 图 E-6。................................................................. E-10 图 E-7。循环同步进度。......................................................................... E-10 图 E-8。表格分析摘要。............................................................................. E-11 图 E-9。图形分析控制窗口。......................................................................... E-11 图 E-10。假锁定眼图。.................................................................................... E-13 图 E-11。假锁定星座。................................................................................. E-13 图 E-12。数据采集设备。................................................................................ E-16 图 F-1。分析仪结构。.............................................................................................. F-3 图 F-2。参考功率谱。......................................................................................... F-4 图 F-3。星座图。............................................................................................. F-5 图 F-4。检测滤波器。......................................................................................... F-6 图 F-5。发射机测试设备。.......................... F-13 图 F-7。................................................................................ F-6 图 F-6。参考信号的比特间隔载波相位轨迹。发射机性能摘要。................................................................ F-15 图 F-8。使用差分编码预测的检测性能。.......................... F-15 图 F-9。基带频谱。................................................................................ F-16 图 F-10。在发射机 RF 端口测量的 OQPSK 星座。................................. F-16 图 F-11。决策样本直方图。................................................................................ F-17 图 F-12。在发射机 RF 端口测量的 OQPSK 星座。................................. F-17 图 F-13。箱间隔相位轨迹。......................................................................... F-18 图 F-14。轨迹偏差频谱。.............................................................................. F-19
半导体中单个磁性原子的自旋光子接口 总体范围:半导体中的单个自旋对量子信息技术的发展大有裨益。由于其期待已久的相干时间,单个缺陷上的局部自旋是量子信息存储的首选介质,而半导体平台提供了有趣的集成前景。对于充当量子节点的局部自旋的长距离耦合,需要自旋光子接口。这些接口通常基于特定的光学选择规则。对于非光学活性磁性杂质,可以通过它们与半导体载体的交换相互作用实现光学接口。这已在插入半导体量子点 (QD) 的过渡金属元素 (Mn、Cr、Co、Fe 等) 中得到证实。这些磁性元素提供了广泛的局部电子自旋、核自旋和轨道矩选择。 研究主题和可用设施:我们旨在利用 QD 的光学特性来探测和控制嵌入式磁性原子的耦合电子和核自旋的相干动力学。我们将结合射频 (RF) 激发和共振荧光,对单个自旋进行相干控制和探测。实习将专注于开发共振荧光实验,以检测无应变 QD 中 Mn 原子耦合电子和核自旋的磁共振。我们还将开始模拟微柱腔中共振驱动磁性 QD 的光信号自旋诱导波动,这是未来正在开发的自旋光子器件尺寸确定的必要步骤。我们将分析连续共振光学读出下的量子动力学,以展示量子芝诺效应如何有助于增加此类系统中量子信息的存储时间。与我们的合作伙伴合作,我们还将研究具有较大自旋应变耦合的磁性离子 (Cr 2+ 、Co 2+ ),这些离子可以通过表面声波的应变场进行相干控制。我们将致力于模拟局部应变分布对点磁光光谱的影响,以估计它们的自旋应变耦合。实验将在配备磁光低温恒温器(1.5 K、9T/2T 磁体、光学和射频接入)、可调单模和脉冲(ps)激光器(用于共振光激发)和高分辨率光谱仪(用于检测)的微型光谱设备上进行。参考文献:L. Besombes 等人,Phys. Rev. B 107, 235305 (2023) ;V. Tiwari 等人,Phys. Rev. B 106, 045308 (2022) ;V. Tiwari 等人,Phys. Rev. B Letter 104, L041301 (2021) 。可能的合作和交流:这项工作将在 NanoPhysique et Semi-Conducteurs 小组(NPSC,法国国家科学研究院/尼尔研究所和 CEA/IRIG 与筑波大学和华沙大学合作,对部分样品进行了培养。 是否可继续攻读博士学位:是 所需技能:硕士 2(或同等学历),具备固体物理学(电、光、磁特性)、量子力学、光学、光物质相互作用方面的丰富知识。 开始日期:2024 年 3 月(灵活) 联系人:L. Besombes,尼尔研究所,电话:0456387158,电子邮件:lucien.besombes@neel.cnrs.fr 更多信息:http://neel.cnrs.fr