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ASM 对欧盟芯片法案的立场。
1 ITRI/ITSI，Stephen Su、Chun-Hao Yueh、Milton Deng、Jean-Baptiste Fichet 和 Roberto Lai，《弹性制造生态链：以人为本的未来工业生态链发展》，
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HSU博士在医学AI方面拥有丰富的实践经验，将临床知识与先进的AI技术相结合，以增强临床应用。 从2020年到2023年，他担任中国医科大学医院AI中心主任。 在这个角色中，他率先开发了许多用于临床实施的AI工具，并将TFDA软件确保为医疗设备（SAMD）认证。 他的工作已广泛发表在有关医学AI的领先学术期刊上。 2024年，HSU博士加入了工业技术研究所（ITRI），以推进健康和医疗领域的AI研究。 他的重点包括医学成像，生物医学信号的创新HSU博士在医学AI方面拥有丰富的实践经验，将临床知识与先进的AI技术相结合，以增强临床应用。从2020年到2023年，他担任中国医科大学医院AI中心主任。在这个角色中，他率先开发了许多用于临床实施的AI工具，并将TFDA软件确保为医疗设备（SAMD）认证。他的工作已广泛发表在有关医学AI的领先学术期刊上。2024年，HSU博士加入了工业技术研究所（ITRI），以推进健康和医疗领域的AI研究。 他的重点包括医学成像，生物医学信号的创新2024年，HSU博士加入了工业技术研究所（ITRI），以推进健康和医疗领域的AI研究。他的重点包括医学成像，生物医学信号的创新
使用原子力显微镜对石墨烯氧化石墨片的厚度测量：国际实验室间比较的结果
1 1技术创新中心国家市场法规，国家计量学研究所（NIM），北京，100029，中华民国2中，中国吉利安格大学，杭州大学，辛吉安，辛吉安吉安，310018材料科学，国家计量与测试国家实验室（LNE），29 Avenue Roger Hennequin，F-78197，F-78197，法国5号，5个国家测量研究所（NMIA），布拉德菲尔德路36号，新南威尔士州Lindfield，新南威尔士州2070年，澳大利亚2070年，澳大利亚6号研究中心，国民研究委员会（NRC），加拿大研究委员会（NRC）。 0R6, Canada 7 Bruno Kessler Foundation, Sensors and Devices Center, Micro Nano Facility Unit ( MNF ) , Trento I-38123, Italy 8 National Institute of Metrology ( Thailand ) ( NIMT ) , 3 / 4-5 Moo 3, Klong 5, Klong Luang, Pathumthani, Thailand 9 Danmarks Nationale Metrologiinstitut ( DFM ) , Kogle Allé 5 D-2970 Hørsholm Danmark 10 National Institute of Metrology, Quality and Technology ( INMETRO ) , Duque de Caxias RJ, Brazil 11 Center for Measurement Standards, Industrial Technology Research Institute ( CMS / ITRI ) , Hsinchu 30011, Chinese TaiPei, People ' s Republic of China 12 Swinburne University of Technology, John Street, Hawthorn, VIC 3122 Australia1技术创新中心国家市场法规，国家计量学研究所（NIM），北京，100029，中华民国2中，中国吉利安格大学，杭州大学，辛吉安，辛吉安吉安，310018材料科学，国家计量与测试国家实验室（LNE），29 Avenue Roger Hennequin，F-78197，F-78197，法国5号，5个国家测量研究所（NMIA），布拉德菲尔德路36号，新南威尔士州Lindfield，新南威尔士州2070年，澳大利亚2070年，澳大利亚6号研究中心，国民研究委员会（NRC），加拿大研究委员会（NRC）。 0R6, Canada 7 Bruno Kessler Foundation, Sensors and Devices Center, Micro Nano Facility Unit ( MNF ) , Trento I-38123, Italy 8 National Institute of Metrology ( Thailand ) ( NIMT ) , 3 / 4-5 Moo 3, Klong 5, Klong Luang, Pathumthani, Thailand 9 Danmarks Nationale Metrologiinstitut ( DFM ) , Kogle Allé 5 D-2970 Hørsholm Danmark 10 National Institute of Metrology, Quality and Technology ( INMETRO ) , Duque de Caxias RJ, Brazil 11 Center for Measurement Standards, Industrial Technology Research Institute ( CMS / ITRI ) , Hsinchu 30011, Chinese TaiPei, People ' s Republic of China 12 Swinburne University of Technology, John Street, Hawthorn, VIC 3122 Australia
Natasha Ali博士出版物：2024年：
和恶性和调查Epicovia。Lahmer T，Salmanton-Garces J，犯罪F，Ashwah S，Nucci M，Besson C，Sili O，Szoli U，Szoli U，Slili U，Dargeniio M，Praet J，Praet J，Van。 Doum J，SchönleinM，RáčilZ，Pulsen CB，Magliano G，Chueo V，Piukovis K，Dragonetti G，Demirkan F，Blennow O，Valković L. GP, Labrador J, Fals-Rome I, Lands of L, Meers S, Passamonti F, Bukicchio C, Lopez-Karcia A, Cursing A, Ormazabal-Velez I, Cuccaro A, Garci-Vadal C, Busca A, Navy N, of MM's Births, Guidetti A, Abu-Zeinah G，Samarks M，Anastasopoulo A B，Ilhan O，GM，M，SK Cath，Amatuna E，Hanakova M，VíšekB，Cabirta A，Northlander A，Nons Rodrigues R，Mersby DS，Hersby DS，Zembrotta GPM，Wolf D.，Wolf D. St. Street R，Prattes J，Egger M，Limongeli A，Bavastro M，Cvetanski M，Dibos M，Rags S，Rahimli L，Cornely Oa Cornelely，Pagano L； Epicoviad注册表。 频率不高。 2024 Jun; 52（3）：191-1 doi：10.1007/s15010-024-0240-XLahmer T，Salmanton-Garces J，犯罪F，Ashwah S，Nucci M，Besson C，Sili O，Szoli U，Szoli U，Slili U，Dargeniio M，Praet J，Praet J，Van。 Doum J，SchönleinM，RáčilZ，Pulsen CB，Magliano G，Chueo V，Piukovis K，Dragonetti G，Demirkan F，Blennow O，Valković L. GP, Labrador J, Fals-Rome I, Lands of L, Meers S, Passamonti F, Bukicchio C, Lopez-Karcia A, Cursing A, Ormazabal-Velez I, Cuccaro A, Garci-Vadal C, Busca A, Navy N, of MM's Births, Guidetti A, Abu-Zeinah G，Samarks M，Anastasopoulo A B，Ilhan O，GM，M，SK Cath，Amatuna E，Hanakova M，VíšekB，Cabirta A，Northlander A，Nons Rodrigues R，Mersby DS，Hersby DS，Zembrotta GPM，Wolf D.，Wolf D. St. Street R，Prattes J，Egger M，Limongeli A，Bavastro M，Cvetanski M，Dibos M，Rags S，Rahimli L，Cornely Oa Cornelely，Pagano L； Epicoviad注册表。频率不高。2024 Jun; 52（3）：191-1doi：10.1007/s15010-024-0240-X
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