• 技术出版物。已完成的研究或研究的重要阶段的报告,介绍 NASA 计划的结果,包括大量数据或理论分析。包括被认为具有持续参考价值的重要科学和技术数据和信息的汇编。NASA 的同行评审的正式专业论文的对应部分,但对手稿长度和图形演示范围的限制不那么严格。 • 技术备忘录。初步或具有专门意义的科学和技术发现,例如快速发布报告、工作文件和包含最少注释的参考书目。不包含广泛的分析。 • 承包商报告。NASA 赞助的承包商和受助人的科学和技术发现。
众所周知,地面宇宙辐射 (TCR) 会导致硅和碳化硅功率器件中发生电离事件,从而导致灾难性的后果 [1]。因此,功率器件的设计和可靠运行需要准确表征电荷沉积和收集过程。目前,量化功率器件对 TCR 的敏感性最常见、最快速的技术是基于粒子加速器中的高能粒子辐照 [2]。由于这些测试是在高加速条件下进行的,因此转换到真实的 TCR 环境并不总是很简单。在本文中,我们提出了一种实验装置,用于监测半导体功率器件中由电离辐射产生的非破坏性单电离事件的发生,以收集有关电荷产生和收集过程的精确统计数据。谱测量系统的设计方式使其可以部署在大量实验配置中,其中收集的电荷、计数率和 DUT 的额定电压可能会有很大变化。具体来说,光谱仪需要记录器件中产生的每个电离事件,这些事件的电荷脉冲范围从 1 fC 到 2 pC,以及其时间戳和波形。该系统需要处理高压器件(额定电压高达 3.5 kV),尽量减少偏置纹波和电压随时间漂移。为了提高收集数据的统计意义,需要并行测试器件。因此,系统必须对大输入电容(高达 2 nF)保持稳定,并为大输入电容提供准确的结果
c. 国家放射肿瘤学计划 (NROP) 与 NHPP 合作,部署了基于内联网的放射治疗事件报告和分析系统 (RIRAS),用于收集、分析和反馈 VHA 放射肿瘤学服务 (ROS) 报告的所有良好发现(也称为未遂事件)、不安全情况和不良事件。反馈包括减少未来错误的建议、安全操作协议和有关最佳实践的信息。需要采取纠正措施计划的不良事件阈值由 NROP 和 NHPP 执行董事共同制定。本指令鼓励报告未达到本指令中定义的管理不当程度的良好发现(也称为未遂事件)、不安全情况和不良事件。注意:不良事件在 VHA 指令 1004.08 中定义。
在预测恒星的演化和死亡方面,恒星进化模型的最新进展。我们提出了使用更新的P ARSEC v2.0代码计算的新的恒星进化模型,以获得金属和初始质量的全面和均匀的网格。核反应网络,质量损失处方和元素混合的处理都在P ARSEC v2.0中进行了更新。我们计算了跨越Z = 10-11至Z = 0的13个初始金属性的模型。03,质量范围从2.0m⊙到2000 m,由1100多个库(包括纯模型在内的2100个轨道)组成。对于每条轨道,从预先序列到最先进的早期抗肌肉分支或苏植物前阶段(取决于恒星质量)的进化。在这里,我们描述了轨道的特性及其化学和结构进化。我们计算了最终的命运和残余物质,并为每种金属性建立了质谱,发现合并的黑洞(BH)配对质量质量间隙仅在100至130 m⊙之间。此外,残留质量提供了与观察到的BH质量一致的模型,例如GW190521,Cygnus X-1和Gaia BH3二进制系统的BH质量。我们计算并提供了从恒星风和爆炸性最终命运以及电离光子速率的化学喷射。我们展示了金属性如何影响这些恒星的进化,命运,喷射和电离光子计数。所有模型均可公开可用,可以在P ARSEC数据库中检索。我们的结果表明,与不同代码计算的其他轨道的总体一致性很强,由于混合和质量损失的不同处理,对于非常巨大的恒星(M Zams> 120m⊙)而出现了最显着的差异。与大型麦哲伦云的狼蛛星云中观察到的大量恒星样本的比较表明,我们的轨道很好地重现了主要序列上的大多数恒星。
。cc-by-nc-nd 4.0国际许可证。是根据作者/资助者提供的预印本(未经同行评审认证)提供的,他已授予Biorxiv的许可证,以在2024年2月15日发布的此版本中显示此版本的版权持有人的预印本。 https://doi.org/10.1101/2023.09.08.556854 doi:biorxiv preprint
本文介绍了K-均无监督的机器学习算法的新应用,以在电子设备的重合离子辐照实验中识别噪声中的单个事件瞬态(SET)事件的问题。我们通过分析MOSFET晶体管的几种重型离子照射产生的集合事件的实验数据集来探索K-均值算法的性能。分别使用隔离森林和随机森林算法研究了所选特征(平均偏差,偏度和峰度)的数据异常和有效性。结果表明,K均值算法具有很高的能力,可以使用前四个统计矩作为特征从噪声中识别事件,从而允许将这种方法用于现场事件检测和诊断,而无需以前的算法训练或实验数据的预先分析。
摘要:本文探讨了碲化物玻璃中的 MoO 3 和 SiO 添加剂对在辐射背景或宇宙辐射增加的条件下工作的电子微电路的屏蔽特性和保护的影响。之所以选择 MoO 3 和 SiO 掺杂剂,是因为它们的特性(包括绝缘特性)可以避免辐射损伤引起的击穿过程。这项研究的意义在于提出使用防护玻璃保护电子电路中最重要的组件免受电离辐射负面影响的方法,电离辐射可能会导致故障或导致电子设备不稳定。使用标准方法评估伽马和电子辐射的屏蔽效率,以确定放置在屏蔽后面并受到不同剂量辐照的微电路的阈值电压(∆U)值的变化。结果表明,玻璃结构中 MoO 3 和 SiO 含量的增加可使伽马辐射屏蔽效率提高高达 90%,同时在长时间暴露于电离辐射的情况下仍能保持微电路性能的稳定性。根据所得结果,我们可以得出结论:使用基于 TeO 2 –WO 3 –Bi 2 O 3 –MoO 3 –SiO 的防护玻璃非常有希望为在背景辐射或宇宙辐射增加的条件下工作的微电路和半导体器件的主要部件提供局部保护。
背景:暴露于低剂量率(LDR)辐射可能会加速老化过程。以前,我们确定了与氧化应激(OS)和抗氧化剂系统有关的许多LDR诱导的途径,这表明这些途径可以防止过早衰老(PS)。这项研究旨在研究考虑端粒中定位的DNA修复动力学,OS和DNA损伤的年轻复制性衰减(RS)和PS细胞之间是否存在差异。方法:我们通过培养和传播暴露于LDR的年轻原发性成纤维细胞来建立PS细胞。然后,通过培养和传播年轻成纤维细胞建立RS细胞,直到停止增殖。衰老的特征是分析端粒长度和与衰老相关的β-半乳糖苷酶(SA -β-GAL)染色。DNA损伤和修复;使用荧光原位杂交(FISH)探针进行端粒鉴定;通过测量培养基中的8-oxo-DG来评估氧化应激。结果:数据表明以下内容:年轻细胞具有更好地应对LDR诱导的氧化应激的能力; RS和PS具有较高的DNA损伤水平; RS的DNA修复动力学较慢; PS/RS的端粒DNA损伤水平升高。结论:我们的主要结论是PS和RS在DNA修复动力学和SA -β -GAL水平方面有所不同。
• Total Ionizing Dose (TID) test using Co-60 source • Conducted at Fraunhofer Institute for Technological Trend Analysis (FhG/INT) at Euskirchen, Germany • Hardware-in-the-loop test setup • Live GPS signals via roof-top antenna • Reference receiver operated outside test chamber • Direct comparison of navigation solution and raw data
A.As Low As Reasonably Achievable (ALARA) is the means to make every reasonable effort to maintain exposures to ionizing radiation (IR) as far below the dose limits as practical, consistent with the purpose for which the licensed activity is undertaken, taking into account the state of technology, the economics of improvements in relation to state of technology, the economics of improvements in relation to benefits to the public health and safety, and other societal and socioeconomic考虑因素,以及核能的利用和