XiaoMi-AI文件搜索系统
World File Search Systembrett
审计副监察长 Brett A. Mansfield 的声明，
1 OMB 公告号22-01 将美国海军陆战队列为国防部的一个组成部分，需要编制经审计的财务报表；但是，对于 2022 财年，OMB 免除了美国海军陆战队编制经审计财务报表的义务，因为该部门处于为期 2 年的审计周期内，计划于 2023 年 11 月完成。因此，在对国防部全机构财务报表发表免责声明时，我们没有考虑美国海军陆战队审计的任何结果。
Brett C. Hannigan，Tyler J. Cuthbert，Chakaveh Ahmadizadeh ...
纺织传感器将我们的日常服装转变为一种以完全不引人注目的方式跟踪运动的手段。采用“智能”服装的一个主要兴趣是，牢固和纺织元素的连接通常不可靠且努力地生产[1，2]。分布式传感是对此问题的有前途的解决方案，并且已在板凳上证明[3，4]。我们提出了一件智能服装，可以从具有单个连接点的连续纤维中监视三个臂关节角度。与光学捕获相比，我们在5◦误差范围内达到了误差。
Brett Bligh量化重力场的必要性
结合重力和量子一直是基本物理学中的主要未解决问题。已经开发了量子重力理论（字符串理论，循环量子重力等），但是（1）不同学校之间没有一致，并且（2）没有共识，每个人都暗示[可能夸张，但没有太多）。也有彭罗斯（Penrose）和其他未量化引力的崩溃理论。
DODIG-2021-092：国防数字服务总监 Brett J. Goldstein 先生的调查报告（已删除）
我们得出结论，Goldstein 先生并未未能以尊严和尊重对待下属。大量证据并不支持 Goldstein 先生未能以尊严和尊重对待下属、贬低下属或以冒犯或轻蔑的方式对待下属的指控。此外，我们发现证据不足以支持 Goldstein 先生对待女性下属与男性下属不同的指控。最后，尽管证人称 DDS 中经常使用粗言秽语，但下属否认 Goldstein 先生对他们大喊大叫或对他们说粗言秽语。尽管少数下属使用不利的词语来描述 Goldstein 先生的领导能力，但大多数下属都对他的领导能力给予了好评。Goldstein 先生的上司可以认为他的行为是绩效问题，但他的行为并不构成不当行为。因此，我们没有证实该指控。
威廉·布雷特（William Brett）MD，MPH，facoem
M.，Oukem-Boyer，O.，B.，Owen，A.，Owolabi，M.O.，Owolabi，L.，Owusu-Dabo，E.，Pare，G. J. Sidibe，I。，I。 O.，Tayo，
高度非排效纠缠的双光纤光谱仪
由于特性的独特组合，包括高硬度，低密度，化学和热稳定性，半导体和高中子吸收，硼碳化物（B 4 C）是涉及极端环境的各种应用的潜在候选者。但是，B 4 C的当前应用由于其低断裂韧性而受到限制。在这项研究中，通过同时利用包括裂纹偏转，桥梁和微裂缝韧性在内的多种韧性机制，使用了具有包括Tib 2晶粒和石墨血小板在内的特征的分层微观结构设计。使用现场辅助烧结技术（快速），制造了具有密度和分层微结构的B 4 C复合材料。以前，使用微缩进在微尺度上测量了制造的B 4 C复合材料的断裂韧性，以提高56％。在这项工作中，B 4 C复合材料的断裂韧性在宏观尺度上是使用四点弯曲方法来表征的，并将其与在微尺度上获得的先前结果进行了比较。还进行了B 4 C-TIB 2复合材料的断裂行为的微力学模型，以评估实验观察到的坚韧机制的贡献。在四点弯曲测试中，B 4 C复合材料与TIB 2粒（约15粒体积）和石墨血小板（〜8.7 vol％）增强的B 4 C复合材料均表现出最高的断裂韧性从2.38到3.65 MPA∙MPA∙MPA∙M1/2。测量值低于使用微缩号获得但保持一般趋势的值。压痕和四点弯曲测试结果之间的差异源自凹痕测试期间高接触载荷触发的复杂变形行为。通过微力学建模，由于B 4 C和TIB 2之间的热膨胀不匹配引起的热残留应力，并且B 4 C-TIB 2边界处的弱相互作用被确定为实验观察到的韧性增强的主要原因。这些结果证明了B 4 C韧性的层次微结构设计的有效性，并可以为B 4 C复合材料的未来设计提供具有优化的微结构的未来设计，以进一步增强断裂韧性。
引用本文：Qiong Wu、Brett R. C. Molesworth 和 Dominique Estival（2019）：对影响商业航空飞行员和空中交通管制员之间沟通不畅的因素的调查，国际航空心理学杂志，DOI：10.1080/24721840.2019.1604138
摘要 目的：本研究旨在调查以英语为母语的飞行员和带口音的商业飞行员在两个不同的飞行阶段（即进场和离场阶段）的沟通表现。背景：英语语言能力要求、标准化用语和复述是航空业为确保有效沟通而采取的一些主动措施。然而，尽管做出了这些努力，沟通错误仍然会发生，有传闻证据表明语言背景和飞行阶段等因素会增加沟通错误的可能性。方法：分析了澳大利亚悉尼金斯福德史密斯国际机场 18 小时的空地通信。结果：结果显示，带口音的飞行员比以英语为母语的飞行员犯了更多的沟通错误，更具体地说，这些错误是错误而不是遗漏，涉及的是单词而不是数字。无论语言背景如何，飞行进场和离场阶段的沟通表现都相似。结论：这些结果提供了有关商业航空中发生的沟通错误类型、其普遍性及其发生的背景的详细信息，有助于指导应将资源引导到何处以进一步提高安全性。
Linux在空间中 digicampus Brett Bligh 量化重力场的必要性
• A European technology design house • Serving customers around Europe • Mechanical, electronic, software, and industrial design complete products • Sectors: space, defence & national security, industrial, healthcare and medical • ~400 people • Turnover 30 M€ • Offices in Finland and in Czech Republic • 150+ ESA projects completed • I've worked since 2015 in the Space & Defence business unit on spacecraft software projects
未来一代 MOSFET 的电介质/SiC 接口展望
Daniel J. Lichtenwalner1，A*，Sei-hyung Ryu1，B，Brett Hull1，C，Scott Allen1，D和John W. Palmour1，E Aaniel J. Lichtenwalner1，A*，Sei-Hyung Ryu1，B，B，BRETT HULL1，BRETT HULL1，C SCOTT HULL1，C，C，C，C，SCOTT ALLEN1，D. U1，B，Brett Hull1，C，Scott Allen1，D和John W. Palmour1，E Daniel J. Lichtenwalner1，A*，Sei-Hyung Ryu1，B，Brett Hull1，C，Scott Hull1，C，Scott Allen1，d和John W. John W. Palmour1，E Daniel J. Lichtenwalner1，A*，Sei-Hyung Ryu1，B，Brett Hull1，C，Scott Allen1，D和John W. Palmour1，E Daniel J. Lichtenwalner1，A* Sei-Hyung Ryu1，B，Brett Hull1，C，Scott Allen1,d，以及 John W. Palmour1,e Daniel J. Lichtenwalner1,a*，Sei-Hyung Ryu1,b，Brett Hull1,c，Scott Ryu1,b、Brett Hull1,c、Scott Allen1,d 和 John W. Palmour1,e Daniel J. Lichtenwalner1,a*、Sei-Hyung Ryu1,b、Brett Hull1,c、Scott Allen1,d 和 John W. Palmour1,e Daniel J. Lichtenwalner1,a*、Sei-Hyung Ryu1,b、Brett Hull1,c、Scott Allen1,d 和 John W. Palmour1,e Daniel J. Lichtenwalner1,a*、Sei-Hyung Ryu1,b、Brett Hull1,c、Scott Allen1,d 和 John W. Palmour1,e Daniel J. Lichtenwalner1,a*、Sei-Hyung Ryu1,b、Brett Hull1,c、Scott Allen1,d 和 John W. Palmour1,e Daniel J. Lichtenwalner1，A*，Sei-hyung Ryu1，B，Brett Hull1，C，Scott Allen1，D和John W. Palmour1，E Daniel J. Lichtenwalner1，A*，Sei-Hyung Ryu1，B，B，B，Brett Hull1，C，Brett Hull1，C，Scott Hull ，Brett Hull1，C，Scott Allen1，D和John W. Palmour1，E Daniel J. Lichtenwalner1，A*，Sei-Hyung Ryu1，B，Brett Hull1，C，Scott Allen1，D，D，D。 Our1，E Daniel J. Lichtenwalner1，A*，Sei-Hyung Ryu1，B，Brett Hull1，C，Scott Allen1，D和约翰·W·帕尔默1,e
SiC 功率器件的可靠性和标准化
Donald A. Gajewski1,A*, Sattyak Ganguly1,B, Daniel J. Lichtenwar1,c, Edward Van Brunt1,D, Brett Hull1,E, Scott Allen1,F, john w. Gajewski1,A*, Satyak Ganguly1,B, Daniel J. NWaler1,C, Brett Hull1,E, Scott Allen1,F, John W. Palmour1,G Donald A. Gajewski1,A*, Sattyki Ganguly1,B, Daniel J. Allen1,f, John W. Palmour1,G Donald A. Gajewski1,A*, Sattyki Ganganguly1,B, daniel J. Lichtenwaner1,C, Edward Van Brunt1,D, Brett Hull1,E, Scott Allen1,F, GANDALMOUR1,G Donald A. tyaki ganguly1,b, Daniel J. Lichtenerer1,C, Edward Van Brunt1,D, Brett Hull1,E, Scott Allen1,F, GANDAL A. Gajewski1,A*, Satyak Ganguly1,B, Daniel NT1,D, Brett Hull1,E, Scott Allen1,F, GANDAL A. Gajewski1,A*, Sattyki Ganguly1,B, Daniel J. Lichtenerer1,c, Edward Van Brunt1,D, Brett Hull1,E, Scott allen1,f, john w. 1,g Donald A. Gajewski1,A*, Sattyki Gangurly1,B, Daniel J. Lichtenwar1,C, Edward Van Brunt1,D, Brett Hull1,F, John W. Palmour1,G Donald A. Gajewski1,A*, Satyak Ganguly1,B, DANIEL. LichtenWalner1,C, Brett Hull1,E, Scott Allen1,F, John W. Palmour1,G Donald A. Gajewski1,B, Daniel J. Lichtenwar1,c, Edward Van Brunt1,D, Brett Hull1,E, Scott allen1,f, John W. Palmour1,G Donald A. Gajewski1,A*, Sattyak Ganguly1,B, Daniel J. Lichtenwar1,C, Edward Van Brunt1,D, Brett Hull1,E, Scott Allen1,f, John W. Palmour1,g