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加固学习简介（RL）
•初始化环境：状态：{s 0，s 1，s 2}，动作：{a 0，a 1}，奖励：r（s 0，a 0）= -1，r（s 0，a 1）= +2，r（s 1，a 1，a 0）= +3，r（s 1，r（s 1，a 1，a 1，a 1）= +1，a 1，a 1，a 1，r（s s 2，r（s s 2，s raction）= 0，
转向和编码第二...
图1：Linbo 3元图操作原理和几何形状。a）在元时间播放中播放的差异机制的草图。在角度频率ω处的泵撞击了linbo 3纳米圆柱上的泵，该泵从基板侧碰撞。在角频率2Ω下生成的Sh从零差顺序中删除，并归因于第一个差异顺序，这要归功于单个纳米柱的发射模式之间的干扰。b）直径为15 µm的已实现的跨膜的电子显微镜图像。 c）纳米圆柱的变焦，显示了在过程结束时获得的约80°侧壁倾斜度和顶部。每个纳米氏菌的基本半径为175 nm，高度为420 nm，阵列p为590 nm。元表面位于XY笛卡尔平面，沿Z的Linbo 3的非凡轴。
晶体结构与实验粉末衍射图的定量匹配
虽然PXRD是获得有关材料的固态结构的最简单，最快的方法，但单晶X射线差异（SC-XRD）仍然是有关分子构成和周期性排列的综合数据的金标准。从粉末数据（SDPD）中确定结构也是晶体结构确定的一种活跃而实践的方法。然而，高质量的粉末X射线差异数据和对专家晶体学家的访问可能是要求，而使用的方法比SC-XRD涉及更多的时间，约束和试验和错误，然后才能获得分子有机晶体的成功。2 - 4统计评估是否可以通过Rietveld
金属介导的DNA纳米技术中的3D -CDN
DNA双螺旋含有金属介导的DNA（mMDNA）碱基对由嘧啶：嘧啶对之间的Ag +和Hg 2 +离子构建，并具有纳米电子的承诺。MMDNA纳米材料的合理设计是不切实际的，没有完整的词汇和结构描述。在这里，探索了结构性DNA纳米技术的可编程性，探索了其自我组装的生物分子结构测定平台的自我组装的使命。使用X射线差异构建MMDNA对的全面结构库，并阐明了MMDNA构建的广义设计规则。发现了两种结合模式：N3-主导，中心对称对和由5位环修改驱动的主要凹槽粘合剂。能量差距计算显示了MMDNA结构的最低未居住的分子轨道（LUMO）中的额外水平，使它们具有吸引力的分子电子候选物。
计算工作流程符合自动电池循环
，虽然其用于X射线差异分析的粉末机与常见的差异仪连接在一起，但22不是作为计算工作OW的一部分而驱动的。然而，在A-LAB项目中，已经证明了由机器学习算法驱动的自动X射线差异，该算法已被证明，由定制的23驱动，但开源源是ware。同样，在物质实验室中，大型语言模型驱动的合成和湿化学已成功证明。24但是，此类任务的编排仍然是“针对现实世界合成的规格设置或[尚未实现]的量身定制”。25它还依赖于使用自定义编排者。为了提高RDM实践的采用和互操作性，使用常见，建立，开源的编排或工作OW Manager（WFMS）是至关重要的。在先前的工作中，Stricker等。进行定制实验的概念概念控制
维度CRCL3
透射电子显微镜（TEM）实验已使用Tecnai G2 TF30茎系统进行，将Crcl 3 akes转移到200个网格var网格上。低分辨率和高分辨率（原子）TEM图像是在明亮的ELD条件下获取的。差异模式以差异模式获取。元素分析已在扫描TEM模式下使用EDX光谱法（牛津X-Max检测器）进行，并使用CLI虫 - Lorimer方法对数据进行了定量分析。在室温（RT）的UHV室中，使用扫描隧道显微镜（STM）Omicron VT-STM系统，使用电化学片段的W TIPPARITRECHEM-OMICRON VT-STM系统在UHV腔室中对空气暴露CRCL 3的测量进行了测量。30隧道电流 - 电压（i - V）曲线以恒定电流模式（在偏置电压o e o {2 V时）获取。X射线光发射光谱（XPS）和紫外光发射光谱（UPS）实验
补充材料，用于“可控抑制SR 2 RUO 4中非常规超导性的可控材料
To determine the thickness of the Sr 2 RuO 4 /NdGaO 3 (110) film, we used a lab-based x-ray diffractometer (Rigaku) and Cu-K α radiation to measure x-ray diffraction (XRD) data at room temperature along the specular crystal trun- cation rod of the Sr 2 RuO 4 thin film/NdGaO 3 substrate, as shown in图s2（a）。从纤维晶体中具有有限尺寸的相干散射，沿平面外方向产生特征性的干扰条纹，即在围绕每个原发性纤维峰的固定强度中，即sec- ondary maxima和minima。这些条纹之间的间距与Crystallites中的层总数成反比；同时，每个结晶石中层之间的平均平面间间距C/ 2确定每个主要纤维峰沿 div>中心的何处
直流磁控溅射制备单晶 CoCrFeNi 薄膜：高熵合金表面研究的途径
高熵合金 (HEA) 具有几乎无限数量的可能成分，引起了材料科学的广泛关注。除了耐磨和耐腐蚀涂层之外，它们作为可调电催化剂的应用最近也成为关注的焦点。另一方面，HEA 表面的基本特性，如原子和电子结构、表面偏析和扩散以及 HEA 表面的吸附，却鲜有探索。研究的缺乏是由于单晶样品的可用性有限。在本研究中，报道了面心立方 (fcc) CoCrFeNi 薄膜在 MgO(100) 上的外延生长。通过 X 射线衍射 (XRD)、能量色散 X 射线光谱 (EDX) 和透射电子显微镜 (TEM) 对其表征表明，具有均匀且接近等摩尔元素组成的层沿 [100] 方向取向并与它们形成突变界面的基材对齐。采用 X 射线光电子能谱 (XPS)、低能电子衍射 (LEED) 和角分辨光电子能谱研究 CoCrFeNi(100) 的化学成分和原子及电子结构。结果表明，外延生长的 HEA 膜有可能填补样品间隙，从而可以对整个成分空间内明确定义的 HEA 表面的性质和过程进行基础研究。
通过 3D 相干 X 射线衍射成像可视化非经典结晶导致的方解石内部纳米结晶性
研究了使用两种方法合成的方解石样品的内部结晶度：溶液沉淀法和碳酸铵扩散法。扫描电子显微镜 (SEM) 分析表明，使用这两种方法沉淀的方解石产品具有明确的菱面体形状，与矿物的自形晶体习性一致。使用布拉格相干衍射成像 (BCDI) 表征这些方解石晶体的内部结构，以确定 3D 电子密度和原子位移场。使用碳酸铵扩散法合成的晶体的 BCDI 重建具有预期的自形形状，具有内部应变场和少量内部缺陷。相反，通过溶液沉淀合成的晶体具有非常复杂的外部形状和有缺陷的内部结构，呈现出零电子密度区域和明显的位移场分布。这些异质性被解释为由非经典结晶机制产生的多个结晶域，其中较小的纳米颗粒聚结成最终的自形颗粒。SEM、X 射线衍射 (XRD) 和 BCDI 的结合使用允许在结构上区分用不同方法生长的方解石晶体，为了解晶粒边界和内部缺陷如何改变方解石反应性提供了新的机会。
用SmartLab的锂离子电池材料表征
1。近年来，许多国家越来越关注环境问题，并通过减少对化石燃料（煤炭和石油）的依赖来降低其环境的影响，以减少其环境影响。发达国家和制造商正在为低环境负荷制定社会政策和制造策略。因此，对晚期聚合物材料的需求每年增加用于与节能相关的产品，例如电动汽车，燃料电池和可生物降解的塑料。在晶体结构量表（Nanoscale）处的结构控制是其开发和生产用于燃料电池，电池分离器，可生物降解的聚合物以及散装增强型塑料的聚合物电解质膜的功能聚合物材料中最重要的问题之一。广角X射线散射（蜡） /广角X射线差异（WAXD）广泛用于功能性聚合物材料的结构分析。特别是，使用二维（2D）检测器的2D蜡测量广泛用于识别晶体结构，评估选定的方向以及聚合物结晶度的测量。通常，聚合物的周期结构的间距大小为0.2 nm至1.8 nm，并且使用CUKα辐射（λ= 0.15418 nm）时，在5°和45°之间的散射角2θ范围内观察到差异峰。因此，有必要测量具有较大散射角的宽区域。在本文中，我们介绍了最新的广角X射线