可满足性模理论 (SMT) 求解器是许多技术的核心引擎,例如符号执行。因此,确保 SMT 求解器的稳健性和正确性至关重要。虽然模糊测试是一种确保 SMT 求解器质量的有效方法,但我们观察到之前的模糊测试工作仅侧重于生成各种一阶公式作为输入,而忽略了 SMT 求解器的算法配置空间,这导致许多深藏不露的错误未被及时报告。在本文中,我们提出了 Falcon,一种同时探索公式空间和配置空间的模糊测试技术。将这两个空间结合起来会显著扩大搜索空间,使有效检测错误变得更加困难。我们通过利用两个空间之间的相关性来减少搜索空间,并引入自适应变异策略来提高搜索效率,从而解决了这个问题。经过六个月的广泛测试,Falcon 在两款最先进的 SMT 求解器 CVC4 和 Z3 中发现了 518 个已确认的错误,其中 469 个已经修复。与两款最先进的模糊测试器相比,Falcon 在 24 小时的测试中检测到了 38 个和 44 个以上的错误,并且覆盖率大幅提高。
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现代 SMT 求解器(例如 Z3)提供用户可控制的策略,使求解器用户能够根据其独特的实例集定制求解策略,从而显著提高求解器针对其特定用例的性能。然而,这种策略定制方法提出了一个重大挑战:为 SMT 实例类手工制定优化策略对于求解器开发人员和用户来说仍然是一项复杂且艰巨的任务。在本文中,我们通过一种基于蒙特卡洛树搜索 (MCTS) 的新型方法解决了自动 SMT 策略合成问题。我们的方法将策略合成视为一个顺序决策过程,其搜索树对应于策略空间,并使用 MCTS 来导航这个巨大的搜索空间。使我们的方法能够识别有效策略同时保持低成本的关键创新是分层和分阶段 MCTS 搜索的思想。这些新颖的启发式方法允许更深入、更有效地探索策略空间,使我们能够合成比最先进 (SOTA) SMT 求解器中的默认策略更有效的策略。我们将我们的方法(称为 Z3alpha)作为 Z3 SMT 求解器的一部分来实现。通过对六种重要的 SMT 逻辑进行广泛的评估,Z3alpha 在大多数基准测试中表现出比 SOTA 综合工具 FastSMT、默认 Z3 求解器和 CVC5 求解器更优异的性能。值得注意的是,在具有挑战性的 QF BV 基准测试集上,Z3alpha 比 Z3 中的默认策略多解决 42.7% 的实例。
RUAG International 和 ZEISS SMT 已签署收购光刻部门的合同,包括与位于瑞士苏黎世和德国科斯维希的两个生产基地相关的所有员工和资产。“自 2001 年以来,我们就一直在光刻应用方面积累经验,并与我们的主要客户 ZEISS SMT 成功合作。2022 年 10 月将光刻部门作为独立实体成立是一项战略举措,旨在巩固我们的市场地位,同时继续作为独立的单一来源供应商为 ZEISS SMT 生产专用组件。今天,我为我们的光刻团队所取得的成就感到无比自豪,”RUAG International 首席执行官 André Wall 说道,并总结道,“ZEISS SMT 拥有卓越的市场地位。有了新的所有权,我们为光刻部门提供了理想的环境,以进一步发展我们多年来积累的卓越能力。”
气候变化可能是灾难性的,并且已成为对人类文明的紧急全球威胁。科学是复杂的,关于气候变化及其未来影响的威胁仍然存在许多未知数。现在,“碳足迹”一词通常用作活动量(通常以吨为单位)的缩写。燃烧化石燃料,森林砍伐和水泥产量产生的碳排放量在大气中积累。气氛没有足够的能力吸收这些排放。因此,当在总足迹的背景下呈现碳足迹时,将碳排放量以吨为单位表示,作为分离这些碳排放所需的生产陆地面积的数量。真正的解决方案需要全球行动,但是在日常生活中可以做出一些选择,以减少对环境的个人影响。
CAR-T细胞疗法被认为是医学中最出色的进步之一。它在发达国家已经有一段时间了,但它的成本非常高,并且超出了世界上大多数患者的范围。据我所知,今天推出的治疗的新功能是,它的成本比其他地方可用的费用低90%。我被告知这是世界上最负担得起的CAR-T细胞疗法。此外,这也是“印度制造”计划的一个例子; “ Atmanirbhar Bharat”的闪亮例子。
注释:1.电流传输比(百分比)定义为输出集电极电流 I O 与正向 LED 输入电流 I F 之比乘以 100。2.建议使用 0.1 F 旁路电容连接引脚 5 和 8。3.1.9 k 负载代表 1.6 mA 的 1 TTL 单位负载和 5.6 k 上拉电阻。4.对于任何给定设备,脉冲宽度失真 (PWD) 定义为 |t PHL – t PLH |。5.相同测试条件下任意两个部件之间的 t PLH 和 t PHL 之间的差异。6.逻辑高电平下的共模瞬态抗扰度是共模脉冲 V CM 上升沿上的最大可容忍(正)dV CM /dt,以确保输出将保持在逻辑高状态(即,V O > 2.0 V)。逻辑低电平下的共模瞬态抗扰度是共模脉冲信号 V CM 下降沿上的最大可容忍(负)dV CM /dt,以确保输出将保持在逻辑低状态(即,V O < 0.8 V)。7.设备被视为双端设备:引脚 1、2、3 和 4 短接在一起,引脚 5、6、7 和 8 短接在一起。8.根据 UL 1577,每个光耦合器都通过施加绝缘测试电压 > 6000 V RMS 持续 1 秒进行验证测试。
1。Partha Paul先生,PGT(英语)PM Shri KV AFS Borjhar 2。SMT。古瓦哈蒂3。SMT Naya Saikia,PGT(英语)北拉克林普尔4。smt sangee das,pgt(英语)5。JS Sonwane先生,PGT(英语)6。SMT Indu Singh,PGT(英语)PM Shri KV No.1 TezpurSuvadeep Nayak先生,PGT(英语)8。帕文先生,PGT(英语)SMT Suranjana Baruah,PGT(英语)PM Shri KV,NFR Maligaon 10。Rashmi Mudoi夫人,PGT(Englant)PM Shri KV CRPF Amerog 11。Bashree Sarmah,PGT(英语)PM Shri KV Golaghat 12。SMT Pallavi,PGT(英语)PM shi misa cantt 13。DAS的Sanjucta(英语)PM PM PM PM Shi KV Khanapara,Ghy。14。SMT Bhaswati P Gogoi,PGT(英语)PM Shri KV Nagaon 15。Dipak Kumar Roy先生,PGT(英语)新的BongaigaonRekha Naagar夫人,PGT(英语)17。Mitali Das夫人,PGT(英语)PM Shri KV CRPF Amerog 18。SMT Madumta Deb,PGT(英语)KV IOC NOONMATI19。SMT Saikia Gogoi,PGT(英语)KV NGC SIBSAGAR20。pgt(英语)
SM Jain先生,Adrde Ahmednagar Col Atul Apte,Ra Shaikh先生,Vrde Ambernath Susan Titus博士,NMRL Bengaluru先生Satpal Singh Tomar先生,Ade Smt Smt Smt Smt Smt Smt先生Andigarh Neeraj Srivastava先生,Tbrl Chennai Smt S Jayasudha,Cvrde Dehradun Abhai Mishra先生,Sag Rachna Thakur博士,SSPL Gwalior Manorama Vimal博士,Drde Haldwani Atul Grover博士,Diber博士Ranjit Singh Hyderabad博士JK Rai博士JK Rai博士,Anurag Arc Murthy先生, DIHAR Pune AK Pandey 先生, ARDE JA Kanetkar 博士 Himanshu Shekhar 博士, HEMRL Anoop Anand 博士, R&DE(E) Tezpur Sibnarayan Datta 博士
会员 Smt。 Nandita Bhattacharya,Sc G Shri Vadivelan A,Sc F Smt。 Sangeetha Singhal,Sc F Smt。 Selvanayaki K、Sc F Shri Manu Jain、Sc F Shri Meshram Devendra、Sc F Shri Bineshkumar Kanakan、Sc F Smt。 Chandreyi S Ghosh,理科 F Shri Bheemappa,理科 F Dr. Tarun Uppal,理科 F Smt。 Seema Parmar,Sc F Shri Saugata Tribedi,Sc F Shri Vijay Vittal Nadagouda,Sc F Shri Bipin Kumar Lahkar,Sc F Shri Prafulla Chandra,Sc F Shri Manoj Kumar,Sc F Smt。 Dipti Dongre,Sc E Shri Vijaya Kumar M,Sc E Smt。 Bhavneet,Sc E Shri Subramanya N,Sc E Smt。 Chandrani Dey,Sc E Shri Reddy VSS,TO-D Shri Bheemapa HS Naik,TO-C Shri Nagesha D,TO-C Shri Nagaraja HS,TO-C Shri Prithvi V,TO-A