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M.Tech。在气候变化（MOE奖学金）
a）候选人应在整个职业生涯中至少获得6.5 CGPA或60％的分数或一级，以便有资格获得博士学位课程。但是，部门研究委员会（DRC）可能会在第10，+2，BA，BA，BSC，BCOM，BCOM，文凭等结果中自行决定将其例外（标记<60％或CGPA <6.5）。（合格学位除外），如果候选人有资格获得Gate/Net/GPAT或其他国家级奖学金测试，例如DST-Inspire等。或在任何研究项目中加入JRF/SRF。
机电一体化中的计算智能技术
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与免费电子激光器和高功率IR-THZ的科学...
[2] M. Narayanan等。，“通过钒掺杂：生长，光学和terahertz表征的半绝缘β-GA2O3单晶”，J。Cryst。增长，第1卷。637–638，p。 127719，7月2024。
X射线极化标题揭示了Hercules X-1中中子星的复杂旋转动力学
在积聚X射线脉冲星中，中子星通过增生磁盘从伴侣恒星中产生了重要的东西。旋转中子恒星的磁场破坏了磁盘的内边缘，将气体漏斗以流到其表面的极点上。Hercules X-1是距地球约7 kpc的典型持续X射线脉冲星。 它的发射在三个不同的时间尺度上有所不同：中子星每1.2 s旋转一次，每1.7 d每1.7 d会黯然失色，并且该系统的超晶型周期为35 d，自发现以来一直保持稳定。 几行证据指出了这种变异的来源是吸积盘或中子恒星的进动。 尽管在过去的50年中有许多提示，但中子恒星本身的动力尚未得到证实或被驳斥。 X射线极化测量（用成像X射线极化探索器探测其X-1的自旋几何形状）表明，Neutron Star Crust的自由进动在35 d期间设置；这具有重要的含义，即它的外壳在某种程度上不对称，每100万份。Hercules X-1是距地球约7 kpc的典型持续X射线脉冲星。它的发射在三个不同的时间尺度上有所不同：中子星每1.2 s旋转一次，每1.7 d每1.7 d会黯然失色，并且该系统的超晶型周期为35 d，自发现以来一直保持稳定。几行证据指出了这种变异的来源是吸积盘或中子恒星的进动。尽管在过去的50年中有许多提示，但中子恒星本身的动力尚未得到证实或被驳斥。X射线极化测量（用成像X射线极化探索器探测其X-1的自旋几何形状）表明，Neutron Star Crust的自由进动在35 d期间设置；这具有重要的含义，即它的外壳在某种程度上不对称，每100万份。
对表面质子耦合电子转移的反应性进行建模
Krauss，T。D.*; Bren，K。L.*; Matson，E。M*。 “通过多氧化烷层簇从CDSE量子点中增强光催化氢的活性”。 Commun。，2020，56，8762-8765。Krauss，T。D.*; Bren，K。L.*; Matson，E。M*。“通过多氧化烷层簇从CDSE量子点中增强光催化氢的活性”。Commun。，2020，56，8762-8765。
2021 年 SEC 表格 17-A_Integrated Micro-Electronics, Inc....
Integrated Micro-Electronics, Inc.（IMI 或母公司）是一家根据菲律宾共和国法律于 1980 年 8 月 8 日组织和注册的股份公司，拥有四家全资子公司，即：IMI International (Singapore) Pte. Ltd.（IMI Singapore）、IMI USA, Inc.（IMI USA）、IMI Japan, Inc.（IMI Japan）和 PSi Technologies, Inc.（PSi）（统称集团）。母公司 52.03% 的股份由 AC Industrial Technology Holdings, Inc.（AC Industrials）持有，AC 是 Ayala Corporation（AC）的全资子公司，AC 是一家在菲律宾共和国注册成立并在菲律宾证券交易所（PSE）上市的公司。AC 47.87% 的股份由 Mermac, Inc.（最终母公司）持有，其余股份由公众持有。母公司的注册办公地址为北科学大道，拉古纳科技园 - 经济特区（LT-SEZ），博城。 Biñan, Biñan, Laguna。母公司于 2010 年 1 月 21 日以介绍方式在 PSE 上市。它已于 2014 年 12 月 5 日完成 215,000,000 股普通股的后续发行和上市。2018 年 3 月 2 日，母公司完成了向所有合格股东发行 350,000,000 股普通股的股票配股和上市。
国防电子产品可靠性要求 - DTIC
传统可靠性评估方法侧重于可靠性预测，而 PoF 方法则关注预防、检测和纠正与产品设计、制造和操作相关的故障。PoF 方法的基础是产品要求的定义，包括在操作和非操作期间暴露于温度、湿度、振动、冲击、腐蚀、辐射和电力等应力，以确定产品可能如何发生故障。然后进行可靠性评估，针对主要故障部位，并确定产品是否能达到预期寿命，或者是否必须采取其他措施来提高其稳健性。
引用了本文：AkalınF。和YumuşakN。，“外显子和内含子区域的分类DNA序列上使用Sbert和Anfis AP
图。有关外显子和内含子区域的符号DNA序列瞄准了外显子和内含子区域的DNA序列上的分类。在本研究中的设计和方法论，使用基于人工智能的系统进行了DNA序列中的外显子和内含子区域的分析。独创性通常首选用于评估文本数据的聚类方法在DNA序列上使用。这种情况降低了计算成本。的发现是解决生物信息学领域越来越多的数据的解决方案，建立了基于人工智能的结构，可提供低成本。因此，研究与遗传学有关的情况变得更加容易。结论DNA结构上的外显子和内含子区域的准确率为88.88％。宣布道德标准本文的作者宣布，本研究中使用的材料和方法不需要道德委员会许可和/或法律特殊许可。
