Joao Resende,David Fuard,Delphine Le Cunff,Jean-Herve Tortai,Bernard Pelissier。Hy-hy-hy-Bridations和XPS的能量损失光谱用于带隙和光学常数测定sion薄膜中。材料化学与物理学,2020,259,pp.124000。10.1016/j.matchemphys.2020.124000。hal-03017737
对谐振介电纳米结构的操纵对于下一代光子设备至关重要。传统上,研究人员为此目的使用二维或相变材料。然而,前者导致较小的效率,而后者则缺乏持续变化。在这里,我们通过激光诱导的修改提供了另一种方法。cally,通过激光消融过程,我们合成了钼(MOS 2)纳米颗粒(NPS),然后我们通过激光片段来控制其组合。它导致MOS 2转化为其氧化物MOO 3 - X,进而导致光学响应的明显修饰,这是由于其光学常数之间的较大差异。此外,与原始MOS 2和经典的硅NP相比,激光碎片的NP具有更大的光热反应。因此,我们的基于MOS 2的激光可触摸NP为共振纳米光子剂(尤其是光热疗法)开辟了新的观点。
在不同的测量条件下研究了由聚苯乙烯(PS)镍溴化物纳米颗粒(NIBR 2)制成的导电聚合物复合材料的光学性能和导热率:0、2、2、4、4、4、8和12 wt。%),紫外线辐射波长和温度范围(30-105°C),使用溶液铸造方法制备固体电解质薄膜,在300-800 nm的波长范围内记录了紫外线辐射的吸收和反射率光谱,并使用specentrophopophopoper- tometer记录。已经研究了制备膜的光学隙和基本光学常数,折射率和介电常数,并显示出对NIBR 2浓度的明显依赖性。对光学结果的分析表明,电子跃迁是直接在k空间中的。研究了制备的薄膜的热导率(K)作为温度和NIBR 2浓度的函数。发现通过添加Nibr 2含量和温度可以增强热导率。在加热过程中,声子被激活,电子跳到较高的局部能状态,从而提高了导热率。
基于具有可见的红外光子对源的非线性干涉仪,利用成对生成过程的量子干扰,红外量子光谱仪,可以通过可见的光子检测来提取样品的红外光学特性,而无需用于基础光学源或检测器。我们为量子傅立叶转换红外(QFTIR)光谱制定了理论框架。所提出的傅立叶分析方法完全利用了干涉图中的相位信息,使我们能够在简单设置中确定复杂的透射率和光学常数,而无需用于光谱选择的任何色散光学器件。在实验演示中,使用低增益状态下操作的QFTIR在近红外区域测量了带通滤波器和硅胶折射率的透射光谱;这些结果与使用常规光谱仪和从参考文献估算的值非常吻合。这些示范证明了QFTIR光谱的有效性和巨大潜力。
沙特阿拉伯王国吉达阿卜杜勒阿齐兹国王大学高等教育部“非晶硫属化物薄膜对光学存储设备光学常数的影响”。 (参考编号- 3-16/429) (联合研究员)。 (2009 年 3 月 3 日至 2009 年 2 月 12 日) (vii) “用于半导体应用的单壁碳纳米管的生长”,由新德里通信和信息技术部电子和信息技术部 (DeitY) 资助。 (项目成本:380.76 万卢比),从 2010 年 4 月 23 日到 2015 年 4 月 22 日。(M. Zulfequar 教授,首席研究员,从 2014 年 1 月 1 日到 2015 年 4 月 22 日),(M. Husain 教授,首席研究员,从 2010 年 4 月 23 日到 2013 年 12 月 31 日,联合研究员,从 2014 年 1 月 1 日到 2015 年 4 月 22 日)国外访问:(i)。巴基斯坦
椭圆法是一种非接触,无损的光学表征技术,可在通过样品反射或传播反射或传输后测量光的偏振变化。样品引起的极化变化通常报告为各向同性样品的ψ和∆。但是,广义和穆勒矩阵椭圆法不限于测量膜厚度和光学常数是主要兴趣的各向同性样品。通过测量Mueller矩阵,我们可以表征最先进的材料。一些例子包括任意各向异性,晶体底物和膜,在卷到滚动应用中发现的拉伸聚合物箔中的双折射,AR/VR设备中的极化过滤器,整个液晶细胞中的极化过滤器,整个液晶细胞,方向的纳米结构,方向的纳米结构,变质,或定期3D材料。Mueller矩阵包含所有必需的光学信息,包括强度传播,由于线性和圆形双发性,线性和圆形二色性以及相位迟缓而引起的交叉极化。本质上,Mueller矩阵将描述任何可能的光学效果。
1 MOE Key Laboratory for Nonequilibrium Synthesis and Modulation of Condensed Matter, School of Physics, Xi'an Jiaotong University, Xi'an 710049, China 2 State Key Laboratory of Surface Physics and Department of Physics, Fudan University, Shanghai 200433, China 3 Key Laboratory of Computational Physical Sciences (Ministry of Education), Institute of Computational Physical Sciences, State Key Laboratory of Surface物理和物理系,福丹大学,上海,200433年,中国4物理学系和纳米科学与工程研究所,阿肯色大学,阿肯色大学,阿肯色州72701,美国5大学,美国5级大学,巴黎大学 - 萨克莱大学,中心,中心zjjiang@xjtu.edu.cn†charles.paillard@centralesupelec.fr Electro-Optic(EO)效应效果将光学常数的变化与低频电场有关。多亏了密度功能扰动理论的出现(DFPT),现在可以以AB-Initio方式计算大量三维(3D)材料的EO特性。然而,在大多数密度功能理论中使用周期性边界条件施加了使用大量真空包围的平板模拟二维(2D)材料。从此类计算中预测的EO系数(即使不正确)可能会严重偏离2D材料的实际EO特性。目前的工作讨论了问题,并介绍了恢复关系,从而恢复了真正的EO属性。I.简介