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椭圆法是一种非接触，无损的光学表征技术，可在通过样品反射或传播反射或传输后测量光的偏振变化。样品引起的极化变化通常报告为各向同性样品的ψ和∆。但是，广义和穆勒矩阵椭圆法不限于测量膜厚度和光学常数是主要兴趣的各向同性样品。通过测量Mueller矩阵，我们可以表征最先进的材料。一些例子包括任意各向异性，晶体底物和膜，在卷到滚动应用中发现的拉伸聚合物箔中的双折射，AR/VR设备中的极化过滤器，整个液晶细胞中的极化过滤器，整个液晶细胞，方向的纳米结构，方向的纳米结构，变质，或定期3D材料。Mueller矩阵包含所有必需的光学信息，包括强度传播，由于线性和圆形双发性，线性和圆形二色性以及相位迟缓而引起的交叉极化。本质上，Mueller矩阵将描述任何可能的光学效果。
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