第 1 部分 简介 1.1 目的和范围。本技术订单 (TO) 将与 TO 33K-1-100-2、TMDE 校准说明、校准间隔、技术订单和工作单位代码参考指南一起使用,作为确定校准责任、工作单位代码分配、校准 TO 和测试、测量和诊断设备 (TMDE) 和其他支持设备 (SE) 的校准间隔的指南。它适用于所有拥有 TMDE 的工作中心。项目按型号、类型编号、零件编号、图纸编号和军用规格 (MIL-SPEC) 编号按字母顺序列出。CAGE 代码仅作为信息列出(当它们发生冲突时,制造商名称优先于 CAGE 代码)。所有校准间隔列表均以月为单位。有关通过空军校准机构查看器 (AFCAV) 分发的 TO 33K-1-100-2 的详细信息,请参阅第 7 部分。注意:AFLCMC/WNM AFMETCAL 部门、空军计量和校准 (AFMETCAL) 项目经理在本文件中均称为 AFMETCAL。1.2 总则。TMDE 的校准责任和适用 TO 列于 TO 33K-1-100-2 和武器系统校准测量摘要 (CMS) 中。有关适用的 CMS,请参阅本 TO 的第 4 节。1.2.1 如果使用本 TO 和 TO 00-20-14 的指导方针无法支持新的 TMDE 项目,则精密测量设备实验室 (PMEL) 将获取校准责任、适用的 TO 参考和工作单元代码 (WUC)
有趣的是,在军用规格改革期间取消的一些旧标准也存在同样的问题。在 20 世纪 90 年代,为了响应改革和立法,我们的许多军用标准被取消,取而代之的是商业标准。虽然当时国防部认为取消这些标准是合理的,但后来我们意识到,许多商业标准并非为国防合同而开发或构建的,因此,其实施并不统一。因此,我们在要求采用标准化方法以确保流程已准备好供承包商开发和生产方面的能力存在差距。当政府问责局在各种报告中发布调查结果时,这一立场得到了进一步回应,这些报告指出,一些标准的丧失造成了成本超支、进度延误和质量问题。尽管问题仍然存在,但直到 2011 年,在经过多年尝试运行一个不可行的系统之后,国防标准化委员会(在国防部系统工程副助理部长斯蒂芬·P·韦尔比先生的领导下)才允许各军种回顾一些在军事规格改革中被取消的标准,并提出一个商业案例来说明为什么应该恢复这些标准。这是一次史诗般的活动,委员会回顾了一些已做出的决定,并重新审视了一些取消的决定。我一直赞同韦尔比先生的观点,即技术标准支持
固体钽电容器广泛用于太空应用,以过滤电源电路中的低频纹波电流并稳定系统中的直流电压。根据军用规格 (MIL-PRF-55365) 制造的钽电容器是可靠的元件,D 级或 S 级每 1000 小时的故障率低于 0.001%(故障率低于 10 FIT),因此这些部件属于可靠性最高的电子元件。尽管如此,钽电容器确实会发生故障,一旦发生,可能会对系统造成灾难性的后果。这是由于短路故障模式,可能会损坏电源,也是由于在低阻抗应用中发生故障时,带有锰阴极的钽电容器具有自燃能力。在此类故障中,钽颗粒与过热的氧化锰阴极产生的氧气发生放热反应,释放出大量能量,不仅会损坏部件,还会损坏电路板和周围元件。与陶瓷部件相比,钽电容器的一个特点是电容值相对较大,在当代小尺寸芯片电容器中电容值达到数十和数百微法拉。这可能会导致电路板首次通电时部件出现所谓的浪涌电流或开启故障。这种故障被认为是钽电容器中最常见的故障类型 [1],是由于电路中电压 dV/dt 的快速变化,在电路中电流不受限制时产生高浪涌电流尖峰,I sp = C×dV/dt。这些尖峰电流可以达到数百安培,并导致系统发生灾难性故障。浪涌电流故障的机理尚未完全了解,相关文献中讨论了不同的假设。其中包括持续闪烁击穿模型 [1-3];电感相对较高的电路中的电振荡 [4-6];阴极局部过热 [5, 7, 8];MnO 2 晶体撞击导致的五氧化二钽电介质机械损伤 [2, 9, 10];或电流尖峰期间产生的电磁力引起的应力诱导电子陷阱生成 [11]。然而,我们的数据显示闪烁击穿电压明显高于浪涌电流击穿电压,因此仍不清楚为什么没有闪烁的部件在浪涌电流测试 (SCT) 期间会在相同电压下失效。关于浪涌电流故障的一个普遍接受的解释是,在浪涌电流条件下,如果电流供应不受限制,钽电容器中的自愈机制不起作用,如果电流受到限制,那么本来会是一个轻微的闪烁尖峰,但到了部件上就会变成灾难性的故障 [1, 12]。电子元件(尤其是钽电容器)的使用风险可以定义为故障概率和后果(例如,表示为返工、重新测试、重新设计、项目延误等成本)的乘积。在这方面,钽电容器可以被视为具有高应用风险的低故障率部件。为了降低这种风险,有必要进一步开发筛选和鉴定系统,特别注意现有程序中可能存在的缺陷。
