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有机半导体(OSC)的薄膜已通过放牧的宽角X射线散射(GIWAXS)进行了广泛的研究,这是一种有效且高度敏感的方法,此外,它避免了过度的辐射损害。[1,2]放牧 - 赋形散射通过将X射线束的穿透力限制在命令角度低于基板临界角度时,通过将X射线束的穿透限制在底物中,从而降低了底物的背景信号。然而,放牧的含量地理 - 试验对空间分辨的测量构成了挑战,因为梁足迹沿着样品沿平行于光束的方向沿样品延伸。即使使用20μm的X射线微束宽度限制扫描μ吉瓦克斯来探测20μmx6000μm的散射面积,也就是说,与