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World File Search System寿命限制
多服务电池储能系统的寿命限制
摘要：基于可再生能源的可靠电网系统是限制气候危机的关键一步。固定式电池储能系统 (BESS) 具有巨大的潜力，可以在不同时间范围内抵消电网中的功率波动。但是，为了可靠地运行和估算成本，需要了解电池的退化情况。我们对 NCM532/Gr 锂离子电池单元的单服务应用和多服务应用进行了加速电池退化研究。频率调节 (FR) 对电池的危害最小，预期寿命为 12 年，而峰值调节 (PS) 的预期寿命为 8 年。联合循环 (FRPS) 加速了容量损失，并且从循环开始就会引起正极的退化，导致仅在 870 个等效全循环 (EFC) 后功率受限。跟踪 1C 速率放电容量被证明是加速电池极化的良好指标，并且可以作为评估内部电池健康状态 (SOH) 的有用方法。
PS-28 巡洋舰维护手册
形式修正，补充定义，电池寿命限制规范，补充 EFIS D-100 电池，补充螺旋桨特别定期检查，补充刹车片检查，补充 EFIS D-100 电池容量测试，补充安全带交叉参考规范，补充前起落架支柱第三摩擦垫圈，补充燃油方案，修改燃油系统紧密度检查，修正 Rotax 手册部分、扭矩和排气安装，修正发动机测试报告，补充 Klassic 170/3/R 螺旋桨检查，补充 SkyView 系统开关/断路器，补充 SkyView 系统描述和维护实践，补充 EFIS D100、EMS D120 固件升级
硅酸钡薄膜的整合...
硅光子学已成为用于广泛应用的光子集成电路（PIC）的最广泛使用的平台之一。几乎所有这些都需要高速，低功率操作。调节剂仅基于硅，仅依赖于血浆分散效应来实现调节。血浆分散效应通过游离载体的移动引起材料的折射率变化，这意味着操作速度受这些载体的寿命限制，从而在数十吉哈特兹的命令下提供了最大可实现的带宽。在硅上新型材料的异质整合被认为是仅基于硅的调节剂的替代品。钛酸钡（BTO）就是一种可以集成到硅上的材料。在光子芯片上沉积为薄膜时，BTO表现出所有电极（EO）材料的最大塞子系数之一，同时是化学和热稳定的[1]。根据以下方程式，由于施加的电场e而导致的折射率n变化之间的线性关系给出了简化的描述：
空间碎片、载有核动力源的空间物体的安全及其与空间碎片碰撞问题的研究
印度在尽可能最大程度上遵守联合国和机构间空间碎片协调委员会 (IADC) 的空间碎片减缓准则，同时努力更好地遵守准则。为遏制空间碎片的增长而采取的措施包括发射前避免碰撞以确定运载火箭的安全升空、对运行中的航天器进行空间物体接近度分析、在需要时执行避免碰撞机动、钝化火箭级、在任务结束后处置卫星和运载火箭上级。2023 年，GSAT-12 重新进入超同步轨道并在退役前钝化，完全符合联合国和 IADC 建议的地球静止轨道物体任务后处置准则。一项极具挑战性的实验成功完成，该实验旨在使 Meghatropiques-1 脱离轨道并确保其在太平洋无人区上空受控重返大气层。印度发射的所有轨道火箭级在任务结束后均钝化。 PSLV-C56 的上级被脱离轨道至 300 公里高度，以将其发射后的轨道寿命限制在不到一个月的范围内。采取了具体举措，以提高新进入太空领域的人的认识，并指导他们实施空间碎片减缓措施。
通过功率循环测试对采用改进的互连技术的最新标准双电源模块进行老化调查
最新标准“ New Dual ”功率模块已为硅和碳化硅器件开发，以满足高可靠性和高温电力电子应用日益增长的需求。由于新封装刚刚开始投放市场，其可靠性性能尚未得到充分研究。本文研究了基于新封装的 1.7 kV/1.8 kA IGBT 功率模块的功率循环能力。研究了功率循环前后的电气和热性能。在 Δ T j = 100 K 和 T jmax = 150 ◦ C 的 120 万次循环之后，芯片和键合线均无明显性能下降。尽管如此，在测试环境中传导电压 (V ce ) 增加的寿命终止标准在约 600 k 次循环时已达到。进一步的扫描声学显微镜测试发现，疲劳位置从传统的近芯片互连（例如，键合线剥离）转移到直接键合铜 (DBC) 基板和底板层。考虑到新封装的循环寿命是传统功率模块的十倍以上，随着互连技术的进一步改进，预计热机械疲劳将不再是寿命限制机制。同时，随着先前的瓶颈（例如键合线）得到解决，一些新的疲劳机制（例如 DBC 的分层）在新封装中变得明显。