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功率循环测试的 DUT 温度系数依赖性
[5] R. Schmidt 和 U. Scheuermann，“使用芯片作为温度传感器 - 陡峭横向温度梯度对 Vce(T) 测量的影响”，2009 年第 13 届欧洲电力电子及应用会议，巴塞罗那，2009 年，第 1-9 页。
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应用与计算数学部
本报告总结了美国国家标准与技术研究所 (NIST) 信息技术实验室应用与计算科学部最近的技术工作。第一部分（概述）概述了该部门的活动，包括去年技术成就的亮点。第二部分（特色）详细介绍了今年特别值得注意的八个项目。接下来的第三部分（项目摘要）简要概述了过去一年中所有活跃的技术项目。第四部分（活动数据）列出了部门工作人员参与的出版物、技术讲座和其他专业活动。本文件涵盖的报告期为 2013 年 10 月至 2014 年 12 月。如需更多信息，请联系 Ronald F. Boisvert，邮寄地址 8910，NIST，马里兰州盖瑟斯堡 20899-8910，电话 301-975-3812，电子邮件 boisvert@nist.gov，或访问该部门的网站
应用和计算数学部
本报告总结了 NIST 信息技术实验室应用与计算科学部的技术工作。第一部分（概述）概述了该部门的活动，包括去年技术成就的亮点。第二部分（特点）详细介绍了今年特别值得注意的十个项目。接下来是第三部分（项目摘要），简要概述了过去一年中活跃的所有技术项目。第四部分（活动数据）列出了部门工作人员参与的出版物、技术讲座和其他专业活动。本文件涵盖的报告期为 2011 年 10 月至 2012 年 12 月。如需更多信息，请联系 Ronald F. Boisvert，邮寄地址：8910，NIST，Gaithersburg，MD 20899-8910，电话：301-975-3812，电子邮件：boisvert@nist.gov，或访问该部门的网站：http://www.nist.gov/itl/math/index.cfm。
靛蓝数字书（PDF）
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应用和计算数学部
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应用与计算数学部
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应用和计算数学部
本报告总结了 NIST 信息技术实验室应用与计算科学部的技术工作。第一部分（概述）概述了该部门的活动，包括去年技术成就的亮点。第二部分（特点）详细介绍了今年特别值得注意的十个项目。接下来是第三部分（项目摘要），简要概述了过去一年中活跃的所有技术项目。第四部分（活动数据）列出了部门工作人员参与的出版物、技术讲座和其他专业活动。本文件涵盖的报告期为 2011 年 10 月至 2012 年 12 月。如需更多信息，请联系 Ronald F. Boisvert，邮寄地址：8910，NIST，Gaithersburg，MD 20899-8910，电话：301-975-3812，电子邮件：boisvert@nist.gov，或访问该部门的网站：http://www.nist.gov/itl/math/index.cfm。