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World File Search System工艺评估
船舶焊接工艺评估...
美国海军上校 C. M? Tookej，长滩海军舰艇，美国海军指挥官 H. G. Bowen，Code Re-3~ 军械局指挥官R. S. Mandelkorn，美国海军朴茨茅斯海军造船厂 A. AmiFiki，船厂和船坞局 A. G. Bissell，舰船局 J. W. Jenkins，舰船实验室 Carl Hartbower，海军研究实验室 Noah Kahm，纽约海军造船厂 A. S. Marthens，舰船局，0. T. Markke，海军研究实验室 W. E. McKenzie，冶金分公司，海军枪械工厂 ‘ J. E. McCambridge，工业测试实验室，费城。海军造船厂 N. E. Prorrtisel，航空局海军研究实验室海军研究实验室，机械部门海军研究实验室，冶金 sGCtiOZl 研究生院，美国海军学院和 48 - 美国海军工程实验站。，..' 纽约海军造船材料实验室。，
CHOSOURCETM ADCC+ 细胞系用于增强...
CHOSOURCE TM GS KO TTZ 表达池和 CHOSOURCE TM ADCC+ TTZ 表达池的生产力性能分析。两种细胞系均使用 CHOSOURCE TM 转座子技术（基于转座酶的基因整合）进行稳定转染，并在转染后 48 小时进行选择（无蛋氨酸亚砜亚胺，MSX）。恢复后，使用 Revvity 的标准摇瓶补料分批工艺评估池生产力。
晶圆级测试对先进 CMOS 互连可靠性评估中电迁移磨损报告的有效性
在本研究中，通过标准晶圆级 (WL) 和 PL (PL) 测试评估电迁移 (EM) 铜线的可靠性。由于这些测试的速度非常快，因此与所有可靠性研究一样，主要问题之一是报告在使用条件下发生的故障现象的有效性。众所周知，WL 已被广泛用于在高应力条件下对大批量进行快速 EM 工艺监控。另一方面，在工艺鉴定方案中使用应力条件较低的 PL 测试。我们将本研究的后续内容作为参考，通过各种工艺评估 WL 测试结果。因此，本文讨论了 WL 与 PL 相比，在有效报告不同 Cu 线工艺修改的可靠性性能变化方面的能力。从寿命变化和标准偏差演变方面比较了 WL 可靠性和 PL 可靠性的结果。仅发现有限的相关性，这表明两种方法的故障机制并不相同。此外，本研究的结果强调了定义与大容量监控兼容的新的可靠的电磁测试结构和方法的必要性。