本研究采用材料挤出 (MEX) 技术,特别是多材料单挤出系统,通过混合 PLA 和 TPU 材料来制造功能梯度材料 (FGM)。该过程引入了旨在增强材料界面的梯度过渡。在拉伸和疲劳载荷条件下,对一系列浓度模式(按体积计从 20% 到 80% 的 FGM)进行系统评估。在制造过程中,对实验参数进行细致的控制,包括应力水平、应力比和频率。表征过程需要对 FGM 界面进行比较分析。结果显示,无论材料浓度如何梯度变化,界面强度都有显著增强。这种增强在从较软到较硬的材料成分过渡期间尤为明显。本研究的主要目标有两个:阐明材料在拉伸-拉伸载荷情况下的行为,并全面了解 FGM 界面的复杂性。
第 1 章(传感器和数据采集)首先介绍了充分了解服务载荷/应力以及如何测量这些载荷/应力的重要性。服务载荷对疲劳分析的结果有显著影响,因此需要准确测量实际服务载荷。本章的大部分内容集中于应变计作为准确测量应变/应力的传感器,这是疲劳寿命分析的最重要预测指标。还介绍了各种识别高应力区域的方法,从而介绍了应变计在测试部分中的放置位置。包括温度测量、单位时间内的温度循环次数和温升率。包括以下内容是为了引起人们的注意,疲劳寿命预测既基于使用寿命期间给定应力水平下的循环次数,也基于服务环境。还介绍了基本的数据采集和分析技术。
此前,飞机机身结构定义几何形状中连接机翼机身和垂直尾翼机身的凸耳已提交有限元分析 [2-3]。由于快速加速和复杂运动,机翼表面将承受严重载荷 [4]。由于最大弯矩,机翼根部将经历最高的应力集中 [5]。支架用于将机翼连接到机身框架。机翼的弯矩和剪应力通过这些附件传递到机身 [6]。此外,疲劳是指结构部件强度在运行过程中持续下降,在极低的极限应力水平下就会发生故障。这是由于重复载荷作用时间较长。基于静态结构分析,利用应力寿命技术和 Goodman 标准进行的疲劳寿命计算预测几何形状是安全的 [7]。因此,机翼机身凸耳连接结构采用有限元分析和疲劳寿命计算方法进行设计。
摘要:这项工作提出了一个高级晶体可塑性模型,用于模拟多相高级高强度钢的机械行为。该模型基于Visco-Plastic自一致(VPSC)模型,并使用有关材料晶体学纹理和谷物形态的信息以及谷物组成型定律。根据Pantleon的工作,此处使用的定律考虑了如何造成和消灭错位,以及它们与晶粒边界和夹杂物(碳化物)等障碍的相互作用。此外,使用不需要任何拟合参数的文献数据得出的现象学表达来实现应变率敏感性。该模型应用于通过应用不同的热处理获得的两个贝氏钢的研究。使用在准静态和高应变速率下的不同方向上拟合所需的参数后,使用模型进行虚拟实验的性能确定可表明性能:使用单轴测试来确定R值和应力水平和双轴测试,用于计算产量表面和形成限制限量策略。
微流体学优化实验程序,但通常需要外部泵才能精确,稳定和低流速。这些程序通常需要进行长时间实验的延长,连续操作。我们引入了双含量连续泵送机理(DSCPM),这是具有输入多路复用能力的微流体应用的低成本,精确且连续的泵。具有3D打印的外壳和标准组件,DSCPM易于制造和访问。DSCPM以每分钟的流量为单分钟,使用流体桥的整流,将注射泵的精度与连续输注相结合。我们验证了微流体“细胞陷阱”中的层流流,而不会破坏微生物的生长。comsol模拟确认了安全的剪切应力水平。我们还开发并测试了流体多路复用器,以获得更大的模块化和自动化。解决当前的泵限制,例如不连续性和高成本,DSCPM可以增强实验能力并提高效率和精度,同时增加许多领域的硬件自动化的可访问性。
目的:本研究旨在评估接受心脏手术的儿童父母的压力和应对方式。使用了描述性研究。样本:132个父母的方便样本。设置:这项研究是在儿科重症监护病房(PICU)和住院儿科病房(PICU)进行的,以开放隶属于Ain Shams University的El-Demerdash医院的心脏手术。数据收集工具:1)包含以下部分的一般特征问卷:a)儿童的社会人口统计学特征和临床数据,b)父母的社会人口特征; 2)父级压力尺度; 3)Jalowiec应对量表(JCS)。研究结果:揭示,心脏手术儿童的大多数研究父母经历了适度的压力,其中三分之二的应对无效。结论:大多数心脏手术儿童的研究父母经历了适度的压力,其中三分之二的应对也无效。这项研究得出的结论是,在接受心脏手术的孩子的父母之间,应力水平与应对行为之间存在负相关。建议:应用教育介入计划来增强心脏手术儿童父母的压力和应对方式。关键词:压力,应对风格,父母,孩子,心脏手术。
摘要:众所周知,在现代微电子和纳米电子学中,薄膜结构被广泛用作栅极电介质、钝化层、膜等。本文研究了单晶硅晶片上互连脉冲加热过程中氧化硅薄子层中形成裂纹的问题。本文旨在研究表面热冲击源对薄膜裂纹形成的影响,并详细研究了 SO2 薄膜中裂纹形成的各个方面。在硅衬底-氧化硅子层-铝膜 (Si-SiO 2 -Al) 多层结构上对所做的估计进行了实验验证。作为衬底,使用了磷掺杂的硅单晶晶片,取向为 (111) 方向,电阻率在 = 0.1 Ω . сm 范围内。作者研究了表面金属化层加热的硅晶片(Al-Si 系统)和氧化硅晶片(Al-SiO2 系统)的温度场,既有点热源的情况,也有长矩形金属化路径的情况(假设轨道长度明显超过其宽度)。计算结果表明,金属化路径(宽度 75 μm)横向的温度分布是不均匀的。结果还表明,与 SiO2 膜相比,硅中出现的机械应力水平不足以在热冲击源附近形成裂纹。这是因为硅的抗拉强度高于氧化物。
D 为损伤(D 等于 1 时理论上对应于失效),n i 和 N i 分别为第 i 个恒幅应力水平 σ i 施加的循环数和失效循环数。由于其内在的简单性,Miner 规则已成为基于耐久性方法的金属结构疲劳设计的行业标准。它已被用于领先的钢结构设计标准,如 EN 1993-1-9:2005 [ 3 ]、DNVGL-RP-C203:2016 [ 4 ] 和 BS 7608:2014 [ 5 ]。Schütz [ 6 ] 发表了对不同疲劳测试程序及其结果的全面概述和批判性评论。测试程序表明,实验寿命与 Miner 规则预测的寿命之间存在很大差异。对于从低到高 ( σ 1 < σ 2 ) 的载荷序列,寿命预测往往比较保守,而对于从高到低的载荷序列 ( σ 1 > σ 2 ),寿命预测往往比较不保守。对于随机载荷谱,非保守方面的 10 倍及以上的因子并不罕见。因此,尽管 Miner 规则被广泛使用,但它仍存在许多缺点。主要缺陷是其载荷水平独立性、载荷序列独立性以及没有考虑裂纹尖端塑性引起的载荷相互作用效应 [ 7 ]。Schijve [ 8 ] 还提到,它无法解释具有
基于铁的形状内存合金(FE-SMAS)是电子合金材料,由于其独特的特性(包括形状记忆效应),具有广泛应用的民用结构。然而,至关重要的是要了解有效应用的有效应用fe-smas的时间依赖性行为。尤其是在个体压力下的行为,潜在的机制和转化动力学尚未受到研究。通过使用Fe-17Mn-5SI-5SI-10CR-4NI-1(V,C)Fe-Smas进行高能量X射线衍射(V,C)Fe-Smas的高能量X射线衍射(V,HEXRD),以解决这些重要的基本研究差距,原位压缩蠕变和应力松弛实验。在室温下,相对于屈服强度(ys),在不同的应力水平下研究了Fe-SMA的时间依赖性行为。实验结果表明,该材料在固定后一小时内表现出高达1.84%和56 MPa的蠕变应力,在769 MPa(1.6σYs)的测试应力下,其蠕变应力。堆叠故障概率和相量分数量化提供了基于不同应力水平的机制的理解。从HEXRD峰的特征中追溯到的转化动力学为蠕变提供了进一步的见解,具体取决于{HKL}家族的贡献。本文以评估现有模型的评估,以预测Fe-SMA的蠕变和应力放松。
摘要:众所周知,在现代微电子和纳米电子学中,薄膜结构被广泛用作栅极电介质、钝化层、膜等。本文研究了单晶硅晶片上互连脉冲加热过程中氧化硅薄子层中形成裂纹的问题。本文旨在研究表面热冲击源对薄膜裂纹形成的影响,并详细研究了 SO2 薄膜中裂纹形成的各个方面。在硅衬底-氧化硅子层-铝膜 (Si-SiO 2 -Al) 多层结构上对所做的估计进行了实验验证。作为衬底,使用了磷掺杂的硅单晶晶片,取向为 (111) 方向,电阻率在 = 0.1 Ω . сm 范围内。作者研究了表面金属化层加热的硅晶片(Al-Si 系统)和氧化硅晶片(Al-SiO2 系统)的温度场,既有点热源的情况,也有长矩形金属化路径的情况(假设轨道长度明显超过其宽度)。计算结果表明,金属化路径(宽度 75 μm)横向的温度分布是不均匀的。结果还表明,与 SiO2 膜相比,硅中出现的机械应力水平不足以在热冲击源附近形成裂纹。这是因为硅的抗拉强度高于氧化物。