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World File Search System扫描技术
通过成人视觉皮层的视网膜定位映射评估新一代可穿戴高密度弥散光学断层扫描技术
自从引入和发展功能性神经成像以来，对人类大脑功能的研究取得了长足的进步。功能性磁共振成像 (fMRI) 和正电子发射断层扫描 (PET) 一直处于这一发展的前沿，但它们也存在局限性。两者都对参与者的行动能力施加了重大限制，这阻碍了它们在婴儿等具有挑战性的人群中的应用以及在研究涉及运动的神经过程和行为方面的应用。由于相关成本、狭窄的扫描仪环境以及（就 PET 而言）放射性示踪剂的使用，延长或重复监测也很困难。1、2 此外，fMRI 对电子或金属植入物（如起搏器、人工耳蜗、动脉瘤夹和手术器械）有禁忌症。由于 MRI 和 PET 设备体积大、固定，并且要求参与者平躺，因此在日常场景中（例如面对面交谈时）研究大脑非常困难。近年来，漫射光学方法在克服这些局限性方面显示出了巨大的潜力。3、4 功能性近红外光谱 (fNIRS) 使用近红外光来检测大脑功能。它使用放置在头皮上的光源和探测器阵列来监测大脑氧合血红蛋白和脱氧血红蛋白浓度的变化，并可以提供空间分辨率为 3 厘米的二维图像。5、6 高密度漫射光学断层扫描 (HD-DOT) 是使用高密度测量阵列的 fNIRS 方法的外推。尽管在这种情况下“高密度”的定义尚未准确确定，但适当的定义是，HD-DOT 阵列提供具有几种不同源 - 探测器分离的通道，跨越“短分离（SS）”（<15 毫米）到“长”（≥30 毫米）范围，并在整个视野范围内在每个分离处提供重叠的空间灵敏度曲线。现已确定 HD-DOT 可以提供比 fNIRS 或其他弥散光学成像方法更优质的深度分辨图像。7 – 9 从多个重叠通道测量中获得的相互信息提高了空间分辨率，使用多个源 - 探测器分离可提高横向和深度特异性。此外，以不同的源 - 探测器分离进行采样提供了一种减少来自脑外组织信号影响的方法。10、11
使用原位原子探针断层扫描技术可视化 Fe-Cr-Ni 合金氧化早期阶段的纳米级氧和阳离子传输机制
对于理解地壳形成[13–15]和磁性的起源具有重要意义。[16] 在法医学中，材料中的 18 O 测绘有助于追踪动物和人类的地理起源。[17] 在研究固体材料氧化机制的不同方法中，原位环境透射电子显微镜 (TEM) 和原位扫描隧道显微镜对于研究与氧化早期阶段相关的原子级结构变化非常有效。[1,3,5,18,19] 然而，这些原位技术缺乏区分单个氧同位素的灵敏度。同时，对氧同位素高度灵敏的纳二次离子质谱 (SIMS) 和其他基于质谱的技术缺乏 3D 亚纳米级的空间分辨率。 [14,17,20,21] 最近，非原位原子探针断层扫描 (APT) 研究验证了 APT 能够实现材料中 18 O 同位素分布的亚纳米级空间分辨映射。[10,22–25] 然而，将 APT 在亚纳米级空间分辨率下定量映射 18 O 的能力扩展到原位氧化研究尚未得到证实。在这里，我们首次展示了使用 18 O 同位素的原位 APT 分析模型 Fe-18 wt% Cr-14 wt% Ni 模型合金（以下称为 Fe18Cr14Ni）中的氧扩散
使用先进的深层激光扫描技术对增材制造的 Ti6Al4V 扫描电子显微镜图像进行实时数据驱动的微观结构缺陷检测
由于缺乏全面的数据集和缺陷类型的多样性，自动检测增材制造的 Ti6Al4V 材料中的微观结构缺陷面临巨大挑战。本研究介绍了一种应对这些挑战的新方法，即开发专门针对扫描电子显微镜 (SEM) 图像的微观结构缺陷数据集 (MDD)。我们使用此数据集训练和评估了多个 YOLOv8 模型（YOLOv8n、YOLOv8s、YOLOv8m、YOLOv8l 和 YOLOv8x），以评估它们在检测各种缺陷方面的有效性。主要结果表明，YOLOv8m 在精度和召回率之间实现了平衡，使其适用于可靠地识别各种缺陷类型中的缺陷。另一方面，YOLOv8s 在效率和速度方面表现出色，尤其是在检测“孔隙”缺陷方面。该研究还强调了 YOLOv8n 在检测特定缺陷类型方面的局限性以及与 YOLOv8l 和 YOLOv8x 相关的计算挑战。我们的方法和发现有助于科学地理解增材制造中的自动缺陷检测。MDD 的开发和 YOLOv8 模型的比较评估通过提供检测微结构缺陷的强大框架来推进知识水平。未来的研究应侧重于扩展数据集和探索先进的 AI 技术，以提高检测准确性和模型泛化能力。
用于微电子缺陷定位的无损叠层衍射成像
使用叠层扫描技术，样品被聚焦在微芯片上小点上的相干同步加速器 X 射线束照射，衍射光束由像素检测器在远场检测。样品逐步穿过光束，直到扫描到整个感兴趣的区域。扫描期间照亮的区域需要重叠，导致步长小于光束直径。叠层扫描技术需要过采样，因为检测器只测量强度。使用迭代算法，仍然可以检索衍射同步辐射的相位信息。根据衍射图案、光束形状以及样品与检测器之间的距离，该算法可以将收集的数据重建为高分辨率图像，无论是 2D 还是 3D。简而言之，该算法计算样品后面的波场到达探测器的路径，其中波场的振幅被像素探测器记录的强度数据替换。之后，更新波场并进行另一次迭代。当感兴趣的区域深埋在结构内部时，可能需要事先准备样品。因此，在某些情况下，必须通过聚焦离子束铣削使感兴趣的区域可用于叠层成像。
蔡司 CT 解决方案 计算机断层扫描用于质量保证和过程检查
组件的生命周期越来越短，因此开发时间也越来越短，这是当今工业界的趋势。除此之外，组件的表面形状越来越复杂，结构也越来越复杂，必须进行适当的制造和测试。工业计算机断层扫描技术通过在最短的时间内提供最多的信息来应对这一挑战。
CDL A 级，全职，路线送货司机机会
进行设备检查前后、EVIR 检查。 对照发票检查和核实货物。 成功操作 PeopleNet 与调度员沟通并维护驾驶员日志。 手动计算和验证香烟条。 利用 Bluebird 扫描技术扫描产品。 利用拉出式坡道卸载干燥产品和手提箱。 通过侧门卸载冷藏和冷冻产品和手提箱。 领取退回的物品。 将空托盘和手提箱固定在拖车中。 保持拖拉机和拖车内部的清洁。
swētspotand Global Air Entertainment Inc. Forge Historic ...
美国领导力的愿景“今天不仅仅是一种合作伙伴关系，它预示着美国航空航天的统治地位，”Swētspot和Marvina案公司家族的首席执行官Marvina Case宣称。“从我们在奥斯丁的总部，我们正在制作的胜于无人机；我们正在设计美国的技术未来。从我们的量子传感器到我们专有的推进系统的每个组件都体现了我们对美国卓越的承诺。通过整合GAE的革命性扫描技术，我们不仅提高了标准，还重新定义了无人空中系统中的可能性。”
使用门集断层扫描技术表征超导量子比特的中路测量 Kenneth Rudinger、Guilhem J. Ribeill、Luke CG Govia、Mat
发生在量子电路内部层的测量（中电路测量）是一种重要的量子计算原语，最显著的特点是用于量子误差校正。中电路测量既有经典输出也有量子输出，因此它们可能会受到终止量子电路的测量所不存在的误差模式的影响。在这里，我们展示了如何使用一种称为量子仪器线性门集断层扫描 (QILGST) 的技术来表征由量子仪器建模的中电路测量。然后，我们应用该技术来表征多量子位系统内超导传输量子位的色散测量。通过改变测量脉冲和后续门之间的延迟时间，我们探索了残余腔光子群对测量误差的影响。QILGST 可以解析不同的误差模式并量化测量的总误差；在我们的实验中，对于超过 1000 纳秒的延迟时间，我们测得的总误差率（即半钻石距离）为 ϵ ⋄ = 8 . 1 ± 1 。 4%、读出保真度为 97 . 0±0 . 3%、测量 0 和 1 时输出量子态保真度分别为 96 . 7±0 . 6% 和 93 . 7±0 . 7%。
