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用SmartLab的锂离子电池材料表征
1。近年来，许多国家越来越关注环境问题，并通过减少对化石燃料（煤炭和石油）的依赖来降低其环境的影响，以减少其环境影响。发达国家和制造商正在为低环境负荷制定社会政策和制造策略。因此，对晚期聚合物材料的需求每年增加用于与节能相关的产品，例如电动汽车，燃料电池和可生物降解的塑料。在晶体结构量表（Nanoscale）处的结构控制是其开发和生产用于燃料电池，电池分离器，可生物降解的聚合物以及散装增强型塑料的聚合物电解质膜的功能聚合物材料中最重要的问题之一。广角X射线散射（蜡） /广角X射线差异（WAXD）广泛用于功能性聚合物材料的结构分析。特别是，使用二维（2D）检测器的2D蜡测量广泛用于识别晶体结构，评估选定的方向以及聚合物结晶度的测量。通常，聚合物的周期结构的间距大小为0.2 nm至1.8 nm，并且使用CUKα辐射（λ= 0.15418 nm）时，在5°和45°之间的散射角2θ范围内观察到差异峰。因此，有必要测量具有较大散射角的宽区域。在本文中，我们介绍了最新的广角X射线
93 X射线衍射研究相状态...
图 1-b 显示了 n-Si 的衍射图案样品。它不同于n-Si的衍射图案具有 SiO 2 层的样品，在 X 射线衍射图上 2θ≈17.4° 处没有漫反射，结构反射 (111) α 的强度分别降低了 2.5 倍、三阶 (333) α 的强度降低了 1.7 倍，结构反射 (002) 的强度降低了，反射 (313)、(513) 和 (620) 的强度也增加了几个百分点，它们在 n-Si 衍射图谱的光谱中产生了衍射偏移样品在较小角度的一侧。晶粒尺寸和晶格参数由 n-Si 的 (111) 结构线的半宽度确定分别为 58 nm 和 а Si =0.5419 nm，略小于样品 n -Si 的晶格参数（а Si =0.5426 nm）SiO 2 层。但这会导致 n-Si 结构反射发生偏移衍射图案朝向较小的散射角。
使用来自质子-质子碰撞的轻子+喷流事件（在 sqrt(s) = 13 TeV）测量极化和自旋关联并观察顶夸克对中的纠缠
使用单个电子或μ子事件和终态喷流来测量顶夸克对 (tt) 的极化和自旋关联。测量基于 CMS 实验在√ s = 13 TeV 下收集的 LHC 质子-质子碰撞数据，对应于积分光度 138 fb − 1 。通过对数据进行分箱似然拟合，同时提取极化矢量和自旋关联矩阵的所有系数。测量是全面进行的，并包含其他可观测量，例如 tt 系统的质量和 tt 静止框架中的顶夸克散射角。测得的极化和自旋关联与标准模型一致。从测得的自旋关联，应用佩雷斯-霍罗德基标准得出关于 tt 自旋纠缠的结论。标准模型预测在生产阈值和 tt 系统高质量时 tt 态的纠缠自旋。这是首次在高 tt 质量事件中观察到纠缠，其中大部分 tt 衰变是空间分离的，预期和观察到的显著性均高于 5 个标准差。
使用质子-质子碰撞产生的轻子+喷流事件测量极化和自旋关联并观察顶夸克对中的纠缠
使用单个电子或μ子事件和处于终态的喷流来测量顶夸克对 ( t ¯ t ) 的极化和自旋关联。测量基于 CMS 实验收集的 LHC 在 ffiffiffi sp ¼ 13 TeV 处的质子-质子碰撞数据，对应于积分光度 138 fb − 1 。通过对数据进行分箱似然拟合，同时提取极化矢量和自旋关联矩阵的所有系数。测量是全面进行的，并包含其他可观测量，例如 t ¯ t 系统的质量和 t ¯ t 静止框架中的顶夸克散射角。测得的极化和自旋关联与标准模型一致。从测得的自旋关联中，应用佩雷斯-霍罗德基标准得出关于 t ¯ t 自旋纠缠的结论。标准模型预测在生产阈值和 t ¯ t 系统质量较高时，t ¯ t 态将发生纠缠自旋。这是首次在高 t ¯ t 质量事件中观察到纠缠，其中大部分 t ¯ t 衰变是空间分离的，预期和观测显著性均高于 5 个标准差。
R Billington - NPL 出版物
人们已经在石英和硅石等块状材料样品中观察和测量了自发拉曼散射和布里渊散射 [1, 2, 3]。散射波的强度在很大程度上取决于散射角和材料中的光功率密度。斯托克斯波的增长与散射增益系数、泵浦波强度和任何存在的斯托克斯波强度的乘积成正比。在块状介质中，斯托克斯波在远离生成点传播时会迅速分散。但是，对于几乎平行于光纤轴传播的波，单模光纤将支持低损耗传播。因此，相对于入射波向前或向后的散射辐射将在光纤内引导，并与泵浦波一起传播很长的距离。在这种情况下，斯托克斯波有可能继续与泵浦波有效地相互作用，并且下移的光功率会呈指数增长。对于给定长度的光纤，逐渐增加发射到一端的泵浦功率将导致斯托克斯功率通过自发散射逐渐增加。如果泵浦功率进一步增加，斯托克斯功率可能会呈指数增长。斯托克斯波作为泵浦功率的函数快速增加的输入泵浦功率称为受激散射阈值。
量子纠缠和紧急对称
早在1946年，J。A. Wheeler提出了一个实验，以验证一对理论的预测，即在n灭nih灭时发出的两个量子，具有零相对角动量的正电子 - 电子对，彼此之间是正确的。该建议涉及对各种方位角上两个an灭光子散射的巧合测量。Pryce和Ward'以及Snyder，Pasternack和Hornbostel报告了详细的理论研究。 '当两个计数器彼此成直角时，预测的最大不对称比率是当相机的共同平面物与2个。85，以8 = 82'的散射角出现。bleuler和bradt4使用了两个末端窗口6-m计数器作为检测器，并观察到与该理论不一致的不对称比。尽管如此，与结果相关的误差范围是如此之大，以至于使理论和实验之间的详细比较变得相当不利。同时，汉娜（Hanna）进行了类似的实验，并进行了更多的E％CIENT计数器排列，发现观察到的不对称比率始终小于所预测的不对称比。因此，通过使用更多的E％CIENT探测器和更有利的条件来重新分配此问题，这似乎是非常需要的。最近开发的闪烁计数器已被证明是可靠且高度高的伽马射线检测器。随着这种提高的效率，大约是G-M计数器的十倍，重合计数率将增加一百倍。被使用。在我们的实验中，两个RCA 5819摄影管和两个蒽晶体1x1xs。用这些蒽晶体获得的歼灭辐射的效率为7％至8％，与计算值相比有利。几何布置在图中示意性1。正电子源Cu〜被Deuteron Bombard the激活在哥伦比亚回旋子的铜靶上。采用电镀方法将CU活性与其他
使用锯齿折射透镜在高能 X 射线光束线上聚焦
1-ID X 射线光束线利用先进光子源 (APS) 储存环电子束的高能量 (7 GeV)、其低发射率、短周期波荡器源和针对高能 X 射线优化的光学系统，提供 40-140 keV 光子能量范围内的高亮度光束，用于材料散射研究。这种 X 射线与物质相互作用的特点是衰减低、散射角小、相互空间访问大，使其非常适合用作体探测器以及几何限制或极端样品环境。光束线范围的很大一部分涉及以高空间分辨率研究工程材料的微观结构和演变，例如获得多晶材料的三维晶粒图，给出位置、形状、晶体取向和应变状态，并通常跟踪在施加的刺激下发生微观机械变化的数千个晶粒的这些参数。高空间分辨率研究通常通过结合多种互补技术进行，即在同一样本上使用聚焦和非聚焦光束。聚焦光束技术包括近场高能衍射显微镜 (nf-HEDM；Suter 等人，2006 年)、衍射断层扫描 (Birkbak 等人，2017 年) 和相干衍射成像 (CDI)。非聚焦光束用于传统断层扫描和远场高能衍射显微镜 (ff-HEDM；Lienert 等人，2011 年)。实现这样一套技术使得同轴聚焦光学系统变得可取，从而使线 (1D) 聚焦、点 (2D) 聚焦和非聚焦配置的光束位置保持不变。主要出于这个原因，不使用 Kirkpatrick–Baez 反射光学器件，尽管它们是消色差的，因此很容易适应能量可调性（如果基于全外部反射，而不是多层）。此外，与同轴光学器件不同，小焦点位置容易受到反射光学器件的角度稳定性的影响。基于菲涅尔区的光学器件（例如区域板和多层劳厄透镜）以同轴方式运行，但具有其他衍射级晕，其消除