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World File Search System数千幅
具有高输出摆幅的传感点，用于自旋量子位的可扩展基带读出
量子计算（特别是可扩展量子计算和纠错）的一个关键要求是快速且高保真度的量子比特读出。对于基于半导体的量子比特，局部低功率信号放大的一个限制因素是电荷传感器的输出摆幅。我们展示了 GaAs 和 Si 非对称传感点 (ASD)，它们专门设计用于提供比传统电荷传感点大得多的响应。我们的 ASD 设计具有与传感器点强烈分离的漏极储液器，这减轻了传统传感器中的负反馈效应。这导致输出摆幅增强 3 mV，这比我们设备传统状态下的响应高出 10 倍以上。增强的输出信号为在量子比特附近使用超低功率读出放大器铺平了道路。
针对数百名（而非数千名）参与者的脑部疾病神经影像学研究的可重复性
图 1. 功效计算和重复率的实证分析。图 a 显示了统计功效与样本量和显著性阈值（1,000 次迭代）的关系。实线表示基于 ENIGMA 7 精神分裂症效应量（患者和对照组之间的皮质厚度组间差异）的功效计算；为了进行比较，虚线表示 Marek 等人报告的功效计算。3（源数据图 3 取自原始文章）。水平虚线对应于 80% 统计功效的领域标准。模拟表明，对于 P <10 -4 的 BWAS，550 个病例和 550 个对照的样本量达到 80% 的统计功效；对于 P <10 -3 的 BWAS，450 个样本达到 80% 的功效。图 b 显示了精神分裂症实证数据的重复率（橙色实线）与样本量的关系（在 114 个区域进行 BWAS，根据 P <0.05 Bonferroni 测试；1,000 次迭代；线周围的彩色区域表示迭代间平均值的上下一个标准差）。橙色虚线表示外推数据（参见补充方法）。实证分析表明，需要大约 400 名患者和 400 名对照的样本量才能检测到重复率为 80% 的效果。蓝色实线显示阿尔茨海默病实证数据的重复率（蓝色实线）。样本量是指每次分析中具有相等数量对照的病例数。
相位和幅度比较器...
图 5.6(b) 继电器处 b -c 故障时 So 和 Sr 的幅值平方。70 图 5.7(a) 继电器处 c -a 故障时 Sbc 和 Sab 之间的角度差。71 图 5.7(b) 继电器处 c -a 故障时 So 和 Sr 的幅值平方。71 图 5.8(a) 继电器后方 a -b 故障时 Sbc 和 Sab 之间的角度差。72 图 5.8(b) 继电器后方 a -b 故障时 So 和 Sr 的幅值平方。72 图 5.9(a) 继电器后方 b -c 故障时 Sbc 和 Sab 之间的角度差。73 图 5.9(b) 继电器后方 b -c 故障的 So 和 Sr 幅值平方。73 图 5.10(a) 继电器后方 c -a 故障的 Sbc 和 Sab 之间的角度差。74 图 5.10(b) 继电器后方 c -a 故障的 So 和 Sr 幅值平方。74 图 5.11(a) 距离继电器 50 km 的 a -b -c 故障的 Vxy 和 Vzy 之间的角度差。76 图 5.11(b) 距离继电器 50 km 的 a -b -c 故障的 So 和 Sr 幅值平方。76 图 5.12(a) 距离中继器 100 km 的 -b -c 故障的 Vxy 和 Vzy 之间的角度差。77 图 5.12(b) 距离中继器 100 km 的 -b -c 故障的 So 和 Sr 的幅值平方。77 图 5.13(a) 距离中继器 190 km 的 -b -c 故障的 Vxy 和 Vzy 之间的角度差。78 图 5.13(b) 距离中继器 190 km 的 -b -C 故障的 So 和 Sr 的幅值平方。78 图 5.14(a) 距离中继器 50 km 的 -g 故障的 S1 和 S2 之间的角度差。80 图 5.14(b) 距离中继器 50 公里的 -g 故障的 So 和 Sr 的震级平方。8180 图 5.15(a) 距离中继器 100 公里的 b -g 故障的 S1 和 S2 之间的角度差。81 图 5.15(b) 距离中继器 100 公里的 b -g 故障的 So 和 Sr 的幅度平方。
陶瓷和玻璃的断口分析，第三版
第二版于 2016 年出版，共计印刷了 450 份数字版，并从 NIST 网站下载了数千份。第二版比第一版大 15%，包含 300 幅新插图，总共近 1000 个图表。第二版更正了许多小错误和一些大错误，例如对邻近照明的描述。第二版增加了有关断口分析历史的信息，并包含许多更新和新显微镜技术的示例。第二版增加了有关边缘碎裂、热应力和热冲击、压缩断裂、机械疲劳、慢裂纹扩展机制和陡坎的新信息。第二版引入了新术语，包括“阶梯状裂纹”、“远场应力”、“微观结构裂纹”和“格里菲斯缺陷”。第六章“起源”的内容显著扩展，增加了有关气泡、烧成裂纹、尖点和几何尖点的新图表。第二版还添加了许多新的牙科陶瓷和牙科复合材料示例。
EC5534I-G (AS34-G) 数据表 - DALINCOM
� 应用信息 产品描述 EC5534 轨到轨四通道放大器采用先进的高压 CMOS 工艺制造。其超轨输入能力和全摆幅输出范围使其成为广泛通用应用的理想放大器。3.2V/µS 高压摆率、快速稳定时间、3.5MHz GBWP 以及高输出驱动能力等特性已证明 EC5534 是 TFT-LCD 应用的良好电压参考缓冲器。高相位裕度使 EC5534 成为高驱动应用的电压跟随器连接模式的理想选择 电源电压、输入范围和输出摆幅 EC5534 可在 4.5V 至 18V 的单个标称宽电源电压下运行，在 -40 °C 至 +85 °C 的工作温度下性能稳定。EC5534 具有比轨到轨输入共模电压范围大 500mV 和共模抑制比为 70dB 的特性，允许在许多应用中进行宽范围感测，而无需担心超出范围，也不会影响准确性。EC5534 的输出摆幅通常延伸到正负电源轨 80mV 以内，负载电流为 5mA。只需降低负载电流，输出电压摆幅就可以更接近电源轨。图 1 显示了单位增益配置中设备的输入和输出波形。放大器在 ±5V 电源下工作，10k Ω 负载连接到 GND。输入为 10Vp-p 正弦波。可以轻松实现约 9.985 Vp-p 的输出电压摆幅。
风轮疲劳寿命预测及强度退化...
R.P.L. Nijssen 摘要 风力涡轮机转子叶片承受大量高度可变的载荷，但寿命预测通常基于恒幅疲劳行为。因此，确定如何根据恒幅疲劳行为估算变幅疲劳下的使用寿命非常重要。寿命预测包含不同的元素：计数方法、描述 S-N 曲线的公式、恒定寿命图和损伤规则。对于损伤描述，研究并比较了两种模型，即 Miner 和法和基于强度的寿命预测。在 Miner 和法中，计数法和恒幅疲劳行为描述的结果被转换为损伤参数“Miner 和”。不考虑载荷顺序的潜在影响，损伤参数的值仅表示是否发生故障：它与物理上可量化的损伤无关。在基于强度的方法中，通过计算每个载荷循环对强度的影响来预测寿命，直到载荷超过剩余强度。这种循环方法的预期优势是可以隐式地包含序列效应。此外，损伤参数始终与物理上可量化的参数（即强度）相关。成功应用基于强度的方法需要描述疲劳后强度，这需要大量的ex
申请建筑/拆卸许可证
a. 第一幅图，即图 T-1，应为标题页，其中包含“萨福克郡公共工程部”，其下紧接着显示部门，其下为项目描述，其下为建筑编号和位置。图索引应位于右上角。应包括萨福克郡轮廓图和郡建筑师/总工程师和委员批准框。 b. 第二幅图，即图 GN-1，应包含一般说明、现场地图和地块平面图。 c. 第三幅图，应包含以下代码审查表： i. 对于新建筑的建设，图纸应为最近开发的 CR-1 至 CR-4。这些图纸参考“建筑规范”。 ii. 对于现有建筑的拟建工程，图纸应为最近开发的 CR-1。此图纸参考“现有建筑规范”。 2. 对于任何和所有 DPW 签约顾问项目 -
