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存在散斑和弱闪烁的闭环自适应光学
散斑是一种干涉现象，由相干照明从物体平面的光学粗糙表面散射而产生。传播到光瞳平面后，背向散射的光线自干涉形成亮斑和暗斑，这些斑块被称为“散斑”。假设照明为准单色，且表面高度变化超过光波长的一半，则散斑图案将“完全显现”，对比度趋于一致。在非合作定向能应用中，散斑充当乘性噪声，对图像质量[2]和轨迹质量[3]产生有害影响。给定一个扩展信标，自适应光学系统必须分别感测和校正大气引起的相位像差（导致闪烁）和物体引起的相位像差（导致散斑）。然而，波前传感器（在自适应光学系统内）实际测量和重建的是来自两个相位像差源的路径积分贡献的总和。例如，夏克-哈特曼波前传感器 (SHWFS) 使用单独的小透镜将接收器孔径划分为子孔径，这些子孔径对入射波前进行采样，并将样本聚焦到探测器阵列上。
从对称性角度研究块体、缺陷、二维和零维金属卤化物钙钛矿半导体的物理特性
摘要 金属卤化物钙钛矿基纳米结构、纳米片和纳米颗粒处于最前沿，具有吸引人的光电特性，适用于光伏和发光应用。因此，全面了解这些基本的电子和光学特性是充分利用此类半导体技术的关键一步。迅速发展的化学工程及其不同寻常的结构多样性令人着迷，但对于与传统半导体相媲美的合理描述也具有挑战性。从这个意义上说，基于群论的对称性分析提供了一种通用而严格的方法来理解各种块体钙钛矿和钙钛矿基纳米结构的性质。在本文中，我们使用群论中的对称性分析回顾了金属卤化物钙钛矿半导体的电子和光学响应，回顾了 AMX 3 块体钙钛矿的典型立方 Pm-3m 晶格的主要结果（其中 A 为阳离子，M 为金属，X 为卤化物），然后将分析扩展到三种技术感兴趣的情况：AMX 3 纳米粒子、A 4 MX 6 孤立八面体、A 2 MX 4 层状系统和最近引入的缺陷卤化物钙钛矿 (d-HP)。基于对称性论证，我们将强调这些材料的电子和光学特性的相似性和差异性，这是由空间限制和维数引起的。同时，我们将利用这种分析来讨论文献中的最新结果和争论，如钙钛矿纳米粒子和纳米片的带边激子精细结构中暗/亮态的能量学。从目前的工作中，我们还预测 d-HP 的带边激子精细结构不会呈现光学暗状态，与 AMX 3 纳米粒子和层状钙钛矿形成鲜明对比，这一事实可能对这些新型钙钛矿的光物理产生重要影响。
![arXiv:2209.08843v1 [hep-ph] 2022 年 9 月 19 日](/simg/c\cf274d35c29bf977178d34afafb6fd4d045d2220.webp)
arXiv:2209.08843v1 [hep-ph] 2022 年 9 月 19 日
暗光子的概念[1–3]已被许多理论物理学家和实验物理学家研究过。通常，暗光子与可见物质的相互作用假设为标准模型(SM) U (1) Y规范群和暗U (1) X规范群之间的阿贝尔动力学混合。由于低能对撞机[4–6]、介子衰变[7–9]、束流倾倒实验[10–12]和高能对撞机[13–18]等不同实验的限制，这种U (1)动力学混合不可能很大。然而，解释可重正化的U (1)动力学混合之小并不明显。在本文中，我们将考虑非阿贝尔动力学混合，以实现另一种可能性，即暗光子来自暗SU (2) X规范群，因此它与物质的耦合不在可重正化的水平上出现[19–21]。在暗 SU (2) X 规范群与 SM SU (2) L × U (1) Y 规范群的非阿贝尔动力学混合下，一个暗规范玻色子变成暗光子，而其他玻色子保持稳定形成暗物质粒子。这一情景预测了暗光子和暗物质的近简并质量谱。
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“暗”信号在显示屏上从未低于 #4；降低增益设置。有两个可能的原因：1) “暗”信号缓慢增加并在预定的延迟时间内保持在 #4 级别，通常是由于反射传感模式（如漫反射或会聚）中不必要的背景反射逐渐增加所致。一旦消除了不必要的光信号的原因，或者如果降低增益控制设置以使“暗”条件低于 #4 级别，警报就会重置。2) 在传感事件期间，“暗”信号不会低于 #4 级别。当“暗”传感级别低于 #4 级别时，警报会自动重置（通过降低增益控制设置和/或消除“暗”条件下不必要的光返回的原因来实现）。
Oiltek International 2024 财年业绩表现亮眼，净利润达 1.4 亿欧元
关于 OILTEK INTERNATIONAL LIMITED Oiltek International Limited（“Oiltek”及其子公司统称“集团”）是一家知名的综合工艺技术和可再生能源解决方案供应商，专门为全球植物油行业价值链的各个不同部门提供可靠、创新、多样化和全面的炼油工艺和工程解决方案。该集团的历史可以追溯到其主要运营子公司 Oiltek Sdn. Bhd.，该公司于 1980 年 12 月 1 日在马来西亚注册成立。Oiltek 拥有超过 44 年的业绩，已成功在五大洲的 35 多个国家设计、建造和商业化工厂。该集团经营三大核心业务 - 食用和非食用油炼油厂、可再生能源以及产品销售和贸易。对于食用和非食用油精炼部门，该集团为食用和非食用油精炼厂、下游特种产品和加工厂提供工程、采购、设计、施工和调试（“ EPCC ”）服务；现有设施的升级和改造；以及交钥匙电池范围之内（“ ISBL ”）和电池范围之外（“ OSBL ”）基础设施工程。对于该集团的可再生能源部门，Oiltek 为可再生能源行业提供服务，包括多原料生物柴油、酶生物柴油、冬季燃料、HVO 原料（处理和精炼的 POME 油）和棕榈油厂废水（“ POME ”）沼气甲烷回收厂的 EPCC；现有设施的升级和改造；以及交钥匙 ISBL 和 OSBL 基础设施工程，其中包括环境解决方案和蒸汽和发电集成。 Oiltek 的产品销售及贸易部门为集团创造经常性收入，其服务包括工程零部件销售、代理及分销、以及特种化学品贸易。
使用计算机断层扫描 (CT) 成像检查人脑内的子弹
我们报告了使用计算机断层扫描 (CT) 的 2D 和 3D 图像中人脑内子弹的位置。它基于在圆形 3600 CCD 探测器上用 X 射线光子扫描大脑的硬组织和软组织以及子弹。目标大脑和子弹的吸收在测量电流 (mA) 和映射的亨斯菲尔德单位 (HU) 方面存在显著差异，这是切片数量的函数。2D 和重建的 3D 图像显示大脑软组织，与 HU 较高的子弹部分相比，大脑软组织较暗且 HU 较低，而子弹部分为白色且 HU 较高。子弹与铜 (Cu) 的衰减系数和脑颅骨与钙 (Ca) 的衰减系数高于脑软组织与氢 (H) 和氧 (O) 的衰减系数。一个典型的例子是观察到切片中心的图像在 3071 HU 处显示更亮。生成了 3D 脑结构图像，并在不同的观察位置进行了可视化。子弹的测量值为距离入口（前部）11.28 厘米，距离后部 7.92 厘米，深度 6.96 厘米，位于大脑上部。根据我们的分析，子弹位于左半球，是下丘脑和胎盘的一部分。
发现生命科学 - 运动
辉煌的紫罗兰色染料亮紫421 4紫罗兰色（405 nm）407 423 450 ／50亮紫480 3紫罗兰色（405 nm）440 479 525 ／40亮点40亮点650 2紫罗兰色650 2紫罗兰色（405 nm）（405 nm）407 649 649 660 660 630 lp Prilliat frirate flirt viret 711 lp vilet 711 411 411 45 nm viveret（ 690 LP亮紫786 3紫罗兰色（405 nm）407 786 780 ／60 、60 、750 lp亮紫色紫外线染料亮紫色395 3紫外线（355 nm）350 395 379 ／28亮点496 2紫外线496 2 Ultraviolet（355 NM） 563 4 Ultraviolet (355 nm) 350 564 585 ／ 15 、 535 LP or 560 ／ 40 、 535 LP Brilliant Ultra Violet 615 3 Ultraviolet (355 nm) 350 616 610 ／ 20 、 595 LP Brilliant Ultra Violet 661 4 Ultraviolet (355 nm) 350 660 670 ／ 25 、 630 LP亮Ultra Violet 737 4 Ultraviolet（355 nm）350 737 740 ／35 Brilla Ultra Violet 805 3 Ultraviolet（355 nm）350 805 820 ／60 ／60或780 ／60 ／60
关于建立NTT Precision Medicine
董事会（兼职）Asonuma Shinji董事兼副公司办公室Yukawa Yoichiro董事OHNO KEI董事（兼职）Nishiura Ryoji总监（兼职）Yamamoto Koichiro审计师（兼职）
使用 SEEBIC | STROBE 绘制 TEM 中的电导率图
TEM 是研究电子设备纳米级特征的重要工具。TEM 基于散射的对比度在确定材料的物理结构方面表现出色，并且通过 EDS 和 EELS 等光谱附件可以精确确定设备中原子的组成和排列。结合原位功能，TEM 可以精确映射设备在运行和缺陷形成过程中的物理结构变化。但是，在许多情况下，设备的功能或故障是小规模电子变化的结果，这些变化在变化成为病态之前不会呈现为可检测的物理信号。为了在 TEM 中检测这些电子变化，必须采用与电子结构直接相关的对比度的互补成像。在 TEM 中获得电子对比度的一项技术是电子束感应电流 (EBIC) 成像，其中由光束在样品中产生的电流在 STEM 中逐像素映射。自 20 世纪 60 年代以来 [1]，EBIC 电流产生的“标准”模式是在局部电场中分离电子-空穴对 (EHP)。最近，展示了一种新的 EBIC 模式，其中电流由束流诱导二次电子 (SE) 发射在样品中产生的空穴产生[2]。这种 SE 发射 EBIC (SEEBIC) 模式不需要局部电场的存在，通常比标准 EBIC 的电流小得多，并且能够实现更高分辨率的成像[3]。在基于 TEM 的技术中，SEEBIC 独一无二，还能产生与样品中局部电导率直接相关的对比度[4]，即使在操作设备中也是如此[5]。在这里，我们讨论了 STEM EBIC 电导率映射技术，并提供了它在被动成像和原位实验中的几个应用示例。图 1 显示了 SEEBIC 电阻映射的简单演示。该设备由一条 GeSbTe（GST）条带组成，该条带横跨两个在薄 SiN 膜上图案化的 TiN 电极。图 1 中的 STEM EBIC 图像包含标准 EBIC 和 SEEBIC 对比度。如图所示，当电子束入射到 TiN/GST 界面时，肖特基势垒处的电场将 EHP 分开，空穴在每个界面处朝 GST 移动，在连接到 EBIC 放大器的右侧电极上产生暗对比度，在接地的左侧电极上也产生暗对比度。在这些界面之外，SEEBIC 对比度与左侧（接地）电极的电阻成正比 [4]。靠近 EBIC 电极（即，与接地电极相比，EBIC 电极的电阻更小）的 SE 发射产生的空穴更有可能通过该电极到达地，从而产生更亮的（空穴）电流。 SEEBIC 在右侧（EBIC）电极上最亮，由于非晶态GST的电阻率均匀，SEEBIC 在整个GST条带上稳定减小，在左侧电极上最暗[6]。