XiaoMi-AI文件搜索系统
World File Search System校准技术
背景高速时间交错 ADC 中的时序失配校准技术：教程回顾
稿件于 2022 年 1 月 27 日收到；于 2022 年 3 月 15 日接受。出版日期 2022 年 3 月 21 日；当前版本日期 2022 年 5 月 27 日。这项工作部分由中国国家重点研发计划资助（资助号 2019YFB1310000），部分由中国澳门科学技术发展基金资助（文件编号 0052/2020/AGJ & SKL-AMSV(UM)-2020-2022）。副主编 E. Bonizzoni 推荐了这篇简介。（通讯作者：Sai-Weng Sin。）Mingqiang Guo 和 Sai-Weng Sin 就职于澳门大学模拟与混合信号超大规模集成电路国家重点实验室、微电子研究所和 FST-ECE（电子邮件：mqguo@um.edu.mo；terryssw@um.edu.mo）。 Liang Qi 和 Guoxing Wang 就职于上海交通大学微纳电子学系，上海 200240，中国（电子邮件：qi.liang@sjtu.edu.cn；guoxing@sjtu.edu.cn）。Dengke Xu 就职于珠海安微半导体有限公司，珠海 519000，中国（电子邮件：sunny.xu@amicro.com.cn）。Rui P. Martins 就职于模拟与混合信号超大规模集成电路国家重点实验室、微电子研究所和澳门大学 FST-ECE，澳门，中国，现就职于里斯本大学高等技术学院，里斯本 1049-001，葡萄牙（电子邮件：rmartins@um.edu.mo）。本文中一个或多个图片的彩色版本可在 https://doi.org/10.1109/TCSII.2022.3160736 上找到。数字对象标识符 10.1109/TCSII.2022.3160736
开发有限元模型的校准技术，用于计算添加剂制造中残留应力的作用的变形补偿
摘要。在增材制造中，有必要考虑并弥补由于残余压力的作用而造成的零件翘曲。用于计算CAE系统中变形幅度的有效快速方法之一是机械有限元分析，它不需要许多迭代。要确保CAE系统中计算的准确性，必须在特殊样本上校准它们。本文提出了一种对直接金属沉积过程（DMD）过程进行校准的方法，其结果是计算DMD期间零件变形所需的内部变形值。借助Shupustancy添加剂CAE系统，设计了DMD工艺的数字模型，并模拟了残留应力的效果。基于与全尺度样本的比较结果，已经调整了计算出的参数，可将其应用于优化工件部分的几何形状，并考虑到DMD过程的特征。
d. 采样空气污染物的一般注意事项
1. 选择测量方法和采样介质 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23 c. 使用膜过滤器采集灰尘样本 . . . . . . . . . . . . . 24 3. 大量样本 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24 a. 大量空气样本 . . . . . . . . . . . . . ... . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27 7. 采样和校准技术. ...
计算机视觉和智能系统研究小组
基于事件的相机校准是确定基于事件的相机的内部和外部参数的过程。与传统相机不同的是基于事件的摄像机测量任何时间内发生的亮度变化。因此，传统的相机校准技术不能直接应用于校准此类相机。基于事件的相机校准涉及考虑此类相机和特殊传感器特性的动态性质设计的特殊算法。
计量服务 - 诺斯罗普·格鲁曼
o AS9100 / ISO 900X 计量校准程序和系统 校准技术人员培训 不确定性、环境和间隔分析、测量技术、尺寸、物理、直流/低频和射频/微波 开发校准和召回系统 审查和生成校准程序、标准操作程序和命令媒体。 管理测试设备 o 提供咨询服务，帮助您从技术资产投资中获得丰厚的财务回报 从收购到处置的流程评估，以及后续策略和关键人员培训 可选软件工具
SC820 高精度电流传感器 IC
SC820系列是一款隔离式电流检测芯片，采用开环霍尔传感器检测原理，通过将高压侧的电流导线引入封装内，根据电流的磁效应，通过芯片内置的磁传感器感应出被测导线周围产生的等磁场量，转换成可处理的等电压信号，通过内置高精度ADC读数放大，采用数字校准技术，去除温度、噪声、迟滞、非线性等环境变量，最终得到接近理想的被测电流的电压值。
背景计时 - 旋转不匹配的校准，用于时间间隔的ADC
摘要 - 时间间隔ADC广泛用于高速应用中。该结构可以通过并联多重ADC来增加整个转换器的有效采样率。但是，该体系结构将受到不同子转换器之间的不匹配，包括偏移，增益和时机。时机偏斜会产生动态错误，从而提出更大的挑战。本文介绍了通过两种背景盲目校准技术来解决TI ADC中正时不匹配的最新最新解决方案：a）基于确定性均衡和b）基于输入信号的统计信息的方法。
AI-526 / AI-526P人工智能工业控制器
1.概述 1.1 主要特点 输入测量采用精确的数字校准技术。支持多种热电偶和热电阻。最高分辨率为 0.01 ℃。 先进的人工智能控制算法，避免过冲。提供自动调谐（AT）。 创新的模块化结构提供丰富的输出选项，以适应不同的应用。有利于快速的生产交付时间和维护方便。 用户友好的操作用户界面。 操作权限和界面可定制，如同量身定制。 可采用通用电源 100-240VAC 或 24VDC。提供不同的安装尺寸。 抗干扰能力符合恶劣工业环境下的电磁兼容性要求。
DST 组研究风洞压力环的校准
RWT 的压力环 1 的安装方式与 LSWT 类似，即分别位于收缩段之前和之后。这些压力环从未校准过，因此迄今为止未在任何测试中使用过。RWT 测试段的横截面形状在几何上与 LSWT 相似，并且两个风洞具有相同的收缩率。因此，对 RWT 压力环执行了与 [ 2 ] 和 [ 3 ] 类似的校准技术。然而，[ 2 ] 和 [ 3 ] 发现校准因子不会随着测试段内的流向位置而发生显著变化。此外，RWT 通常不用于高保真度测试，并且模型通常不会跨越测试段的长度。因此，RWT 内的校准因子仅在一个中心线站获得，适用于两种情况：
DST 集团研究风洞压力环的校准
RWT 的压力环 1 的安装方式与 LSWT 类似，即它们位于收缩段的前后。这些压力环从未校准过，因此迄今为止未在任何测试中使用过。RWT 测试段的横截面形状在几何上与 LSWT 相似，并且两个风洞具有相同的收缩率。因此，对 RWT 压力环进行了与 [2] 和 [3] 类似的校准技术。然而，[2] 和 [3] 发现校准因子不会随着测试段内的流向位置而发生显著变化。此外，RWT 通常不用于高保真度测试，并且模型通常不会跨越测试段的长度。因此，RWT 内的校准因子仅在一个中心线站获得，适用于两种情况：