使用数字万用表测量电解槽。使用给定材料作为电容器内部的介电层来测量其介电常数。使用螺线管研究 CRO 上给定铁磁材料的磁滞回线,并计算给定材料的矫顽力、剩磁和饱和磁化强度。使用亥姆霍兹线圈研究磁场叠加的原理。研究非本征半导体样品中的霍尔效应,并确定霍尔系数和多数电荷载流子的密度。借助棱镜和光谱仪测定玻璃的折射率和柯西常数。使用单缝、双缝、圆形光圈和氦氖激光源研究衍射现象。测定线性晶体的比旋光度
纵观激光粒度测量的发展历史,曾使用过许多光源作为粒子入射光的光源。其中最流行的是激光器。20 世纪 70 年代初,Microtrac 使用氦氖气体激光器作为准直相干光源,该光源提供近乎单一波长,是光散射粒度测量所必需的。电子技术的进步导致了半导体激光器(俗称激光二极管)的发展。因此,在 20 世纪 80 年代中期,Microtrac 开始使用这些类型的激光器,以便为客户提供长寿命稳定性和应用,从而降低服务要求和维护成本。毫无疑问,Microtrac 已证明这些设备具有极高的可靠性和稳定性。1990 年,随着超细粒度分析仪 (UPA) 的出现,它们被广泛使用,并扩展到采用动态光散射测量纳米颗粒的现代 Nanotrac 型号。本文解答了粒度人员考虑激光器类型时经常出现的问题。它还试图解决合理的光学设计原理和技术知识如何解决仪器设计过程中的问题。