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使用数字万用表测量电解槽。使用给定材料作为电容器内部的介电层来测量其介电常数。使用螺线管研究 CRO 上给定铁磁材料的磁滞回线,并计算给定材料的矫顽力、剩磁和饱和磁化强度。使用亥姆霍兹线圈研究磁场叠加的原理。研究非本征半导体样品中的霍尔效应,并确定霍尔系数和多数电荷载流子的密度。借助棱镜和光谱仪测定玻璃的折射率和柯西常数。使用单缝、双缝、圆形光圈和氦氖激光源研究衍射现象。测定线性晶体的比旋光度

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