应按照前两段处理,一般不应检查或禁止。如果对操作员的索赔有疑问,检查人员应寻找未使用的确凿证据,例如吊销执照的证据。但是,如果车辆最近被使用过,或者可能在严重缺陷的条件下上路行驶,则此类证据并不妨碍检查。在这种情况下,如果发出禁令,应附上注释,表明该车辆已被要求退出服务。
使用基于线性的频道和基于规则的算法的硅晶片制造中的表面缺陷分类,在硅晶片制造中,在硅晶片制造中使用基于线性的信道和基于基于规则的固定算法的硅晶片制造中的基于线性的基于线性的频道渠道晶体轴向循环和基于规则的基于基于规则的灯泡的局限性的线化算法在硅晶片制造中使用基于线性的旋转算法进行了表面缺陷分类,并 Rule-Based Binning Algorithms Surface Defect Classification in Silicon Wafer Manufacturing Using the Linear-Based Channeling and Rule-Based Binning Algorithms Surface Defect Classification in Silicon Wafer Manufacturing Using the Linear-Based Channeling and Rule-Based Binning Algorithms Surface Defect Classification in Silicon Wafer Manufacturing Using the Linear-Based Channeling and Rule-Based Binning Algorithms Surface Defect Classification in Silicon Wafer Manufacturing Using the基于线性的渠道和基于规则的包裹算法,使用基于线性的渠道和基于规则的双钉算法在硅晶片制造中进行表面缺陷分类,并使用基于线性的信中的硅晶状体和基于规则的基于基于线性的基于线性的基于硅的渠道临床构造的硅化算法分类的硅晶片制造中的硅晶片制造中的表面缺陷分类,并使用基于线性的渠道和基于规则的算法的晶圆制造,使用基于线性的渠道和基于规则的binning算法使用基于线性的频道和基于规则的算法的硅晶片制造中的表面缺陷分类,在硅晶片制造中,在硅晶片制造中使用基于线性的信道和基于基于规则的固定算法的硅晶片制造中的基于线性的基于线性的频道渠道晶体轴向循环和基于规则的基于基于规则的灯泡的局限性的线化算法在硅晶片制造中使用基于线性的旋转算法进行了表面缺陷分类,并 Rule-Based Binning Algorithms Surface Defect Classification in Silicon Wafer Manufacturing Using the Linear-Based Channeling and Rule-Based Binning Algorithms Surface Defect Classification in Silicon Wafer Manufacturing Using the Linear-Based Channeling and Rule-Based Binning Algorithms Surface Defect Classification in Silicon Wafer Manufacturing Using the Linear-Based Channeling and Rule-Based Binning Algorithms Surface Defect Classification in Silicon Wafer Manufacturing Using the基于线性的渠道和基于规则的包裹算法,使用基于线性的渠道和基于规则的双钉算法在硅晶片制造中进行表面缺陷分类,并使用基于线性的信中的硅晶状体和基于规则的基于基于线性的基于线性的基于硅的渠道临床构造的硅化算法分类的硅晶片制造中的硅晶片制造中的表面缺陷分类,并使用基于线性的渠道和基于规则的算法的晶圆制造,使用基于线性的渠道和基于规则的binning算法
一般要求 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 进料 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 制造商的责任 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 检验程序 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 取样方法 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 检验阶段 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 检验顺序 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 缺陷材料—取样 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 缺陷材料—加工 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 详细要求 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 集装箱内容 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 一般要求 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 检验范围 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 缺陷墨盒 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 严重 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 重大和轻微 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 工艺损坏 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 纸箱包装 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 密封前 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 可接受的质量水平 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 缺陷分类 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 视觉标准 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 防水信封 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 密封前 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 可接受的质量水平 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 缺陷分类 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 视觉标准 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 大包装 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 可接受的质量水平 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 缺陷分类 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 视觉标准 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 剪贴包装 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 可接受的质量水平 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 缺陷分类 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 视觉标准 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 金属链带包装 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 前代设计 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 断裂或软链环 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 扭曲测试 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 拉力测试 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 柔韧性测试 _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ i v
a. QAPP 的范围和适用性,[N] 包括 QAPP 适用的所有合同可交付 IETM 项目的清单(3.2.1.1)。b. 承包商 QA 组织的功能和结构描述(3.2.1.2)。c. 创作系统描述(3.2.1.3)。d. [N] 单词列表(3.2.1.4)。e. 承包商参与 IETM 生成的书面操作程序清单(3.2.1.6)。f. 承包商质量审查程序清单(3.2.1.7),包括完成所需的更改和纠正已发现的错误。g. 源数据管理计划(3.2.1.8)。h. 分包商和供应商控制计划(3.2.1.9)。i. 抽样程序和标准(3.2.1.10)。j. 验证方法摘要(3.2.1.11)。k. [N] 验证支持方法摘要(3.2.1.12)。l. 缺陷分类表(3.2.1.13)。
结果表明,由于背景图像噪声比颗粒尺寸更占主导地位,因此无法辨别晶圆上的颗粒。另一方面,所提出的方法可以以最小的串扰检查晶圆表面,并且使用实验定义的 HSV 颜色空间模型,可以按类型分离颗粒。生成的图像在视觉上清晰,没有颗粒和背景之间的串扰。所提出的方法简单、快速且易于使用,并表现出良好的颗粒分类性能。因此,该方法有望用于晶圆缺陷检测步骤,增强晶圆缺陷分类过程。
足够的护理人员,RN 8小时/7DAYS/WK。,全职DON,&基于工资单的基于薪资的期刊指南,使用基于工资单的日记帐记录数据报告进行调查。本报告将用作指示潜在不符合性的信息来源之一。的指示,特定于员工访谈,观察结果,不符合性的关键要素和缺陷分类的指导也已添加到指导中。根据报告是否确定了问题的指示,将其添加到指导中。针对护理需求和缺陷分类示例主管的调查探针,以及用于评估使用基于工资单的日记帐数据人员数据报告的调查符合直接护理人员信息和工资单的调查程序。
摘要 虽然自动光学检测 (AOI) 对薄膜/无纺布/纸张等表面及其随后的转换/层压产品的功能越来越强大和通用,但部署到日常运营中有时会很困难,特别是在运营和驻地工程人员减少的情况下。因此,AOI 制造商必须将开发重点放在工具和方法上,以实现 AOI 系统在日常操作中基本上无人干预的目标,并尽可能简化其初始部署。这是使用各种形式的人工智能 (AI) 来实现的,这些人工智能可以自动执行诸如调整光照水平、检测水平和缺陷分类等任务。本文将介绍这些功能的一般工作原理,并展示其使用情况的研究。
我们发现,许多经典概念需要扩展,以适应 AM(特别是激光粉末床熔合)中存在的特定微观结构(晶粒尺寸和形状、晶体结构)和缺陷分布(空间排列、尺寸、形状、数量)。例如,缺陷的 3D 表征变得至关重要,因为 AM 中的缺陷形状多种多样,对疲劳寿命的影响方式与传统生产的部件不同。这些新概念对解决 AM 部件疲劳寿命确定的方法有直接影响;例如,由于仍然缺少缺陷分类和可容忍形状和尺寸的量化,因此必须定义一种新策略,即理论计算(例如 FEM)允许确定最大可容忍缺陷尺寸,并且需要无损检测 (NDT) 技术来检测此类缺陷是否确实存在于组件中。这些示例表明,AM 部件的组件设计、损坏和故障标准以及特性(和/或 NDT)如何完全相互关联。我们得出结论,这些领域的均质化代表了工程师和材料科学家当前面临的挑战。
自动化纤维铺层技术广泛应用于航空领域,以高效生产复合材料部件。然而,所需的人工检查可能占用高达 50% 的制造时间。使用神经网络对纤维铺层缺陷进行自动分类可能会提高检查效率。然而,这种分类器的机器决策过程难以验证。因此,我们提出了一种分析纤维铺层缺陷分类过程的方法。因此,我们全面评估了文献中的 20 种可解释人工智能方法。因此,将平滑积分梯度、引导梯度类激活映射和 DeepSHAP 技术应用于卷积神经网络分类器。这些方法分析分类器对未知和操纵的输入数据的神经激活和鲁棒性。我们的研究表明,平滑积分梯度和 DeepSHAP 尤其适合可视化此类分类。此外,最大灵敏度和不保真度计算证实了这种行为。将来,客户和开发人员可以应用所提出的方法来认证他们的检查系统。
我们发现,许多经典概念需要扩展,以适应 AM(特别是激光粉末床熔合)中存在的特定微观结构(晶粒尺寸和形状、晶体结构)和缺陷分布(空间排列、尺寸、形状、数量)。例如,缺陷的 3D 表征变得至关重要,因为 AM 中的缺陷形状多种多样,对疲劳寿命的影响方式与传统生产的部件不同。这些新概念对确定 AM 部件疲劳寿命的方式有直接影响;例如,由于仍然缺少缺陷分类和可容忍形状和尺寸的量化,因此必须定义一种新策略,即理论计算(例如 FEM)允许确定最大可容忍缺陷尺寸,并且需要无损检测 (NDT) 技术来检测此类缺陷是否确实存在于组件中。这些示例表明,AM 部件的组件设计、损坏和故障标准以及特性(和/或 NDT)如何完全相互关联。我们得出结论,这些领域的同质化代表了工程师和材料科学家当前面临的挑战。