我们首次报告了 50 MeV Li 3+ 离子辐照对串联电阻和界面态密度的频率依赖性影响的研究,这些影响是由射频溅射制备的 HfO 2 基 MOS 电容器的电容-电压 (C-V) 和电导-电压 (G-V) 特性确定的。样品在室温下用 50 MeV Li 3+ 离子辐照。测得的电容和电导已根据串联电阻进行校正。在辐照之前和之后,在 1 KHz 至 1 MHz 的不同频率下估算了串联电阻。观察到串联电阻在辐照前随频率从 6344.5 降低到 322 欧姆,在辐照后降低到 8954-134 欧姆。界面态密度D it 由辐照前的1.12×10 12 eV 1 cm 2 降至3.67×10 11 eV 1 cm 2
电子和质子辐照下 ASTRO-G 卫星热控膜的劣化 Minoru Iwata (1) 、Sumitaka Tachikawa (2) 和 Akira Ohnishi (3) (1) 九州工业大学航天器环境相互作用工程实验室 日本福冈市北九州市户畑区仙水町 1-1 邮编 804-8550 电话:+81-(0)93-884-3597 邮箱:iwata@ele.kyutech.ac.jp (2,3) 日本宇宙航空研究开发机构航空宇宙技术研究所 日本神奈川县相模原市吉野台 3-1-1 邮编 229-8510 电话:(2) +81(0)42-759-8480 (3) +81(0)42-759-8479 电子邮件: (2) sumitaka@isas.jaxa.jp (3) ohnishi.akira@jaxa.jp 摘要 与传统卫星相比,ASTRO-G 卫星使用的热控材料由于要穿过范艾伦辐射带,因此会受到非常严重的带电粒子辐射。在本研究中,我们对这些热控材料进行了电子和质子辐照试验。我们将空间中的深度剂量分布分离为电子和质子分量,用电子或质子辐照,类似于空间中的每个剂量分量,并比较由于电子分量和质子分量导致的退化。讨论了由于电子和质子辐照导致的退化的相对影响。
本最终安全分析报告(编号 NUH-003,修订版 8,NRC 档案编号 72-1004)为标准化 NUHOMS® 轻水反应堆废核燃料组件储存系统提供了通用安全分析。该系统可在被动式独立废燃料储存设施 (ISFSI) 中安全地干燥储存废燃料,完全符合 IOCFR72 和 ANSI 57.9 的要求。相关的 NUHOMS®-24P 专题报告(编号 NUH-002,修订版 IA,NRC 项目编号 M-49)于 1989 年 4 月 21 日获得美国核管理委员会批准。原始 NUHOMS'-07P 专题报告(编号 NUH-001,修订版 IA,NRC 项目编号 M-39)于 1986 年 3 月 28 日获得美国核管理委员会批准。
摘要。中子个人剂量计响应函数的测量通常涉及一系列非常广泛的测量,这些测量使用加速器产生的单能中子。这些测量成本高昂,对于希望研究其剂量计的剂量测定服务来说,通常不切实际,特别是当他们试图改善剂量计响应并希望研究设计或处理中各种变化的影响时。描述了一种技术,利用中子产生反应(例如 7Li(p,n)7Be 和 T(p,n)3He)的中子能量随角度的变化,在一次实验中将多个剂量计照射到一定范围的能量中。本报告描述了三个场的特性,特别是能量密度的角度分布,覆盖了 101 至 250 ke V、336 至 565 ke V 和 561 至 1200 ke V 的能量范围,它们之间覆盖了快中子个人剂量计检测灵敏度具有阈值的重要能量区域,并且有关响应函数的详细信息尤为重要。注意:本报告中引用的所有不确定性都是标准 (10) 不确定性的估计值,代表置信度约为 67%。
