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本研究改进了计量数据集的表面配准方法，以提高增材制造 (AM) 晶格的多方法鉴定精度。使用基于理论补充表面定义的派生几何基准特征对齐从 X 射线计算机断层扫描和 AM 晶格的坐标测量机获取的数据集，该理论补充表面定义已在最近的草案标准中建立，但在使用复杂 AM 结构时进行了有限的检查。基于空间相关子采样的晶格几何的改进采样配准方法被推导并显示可统计地减少测量源之间的差异。强调了明确定义的采样实践和定义的重要性。讨论了这种方法对复杂 AM 部件的多方法鉴定的适用性。本研究为利用新标准中正在考虑的规范奠定了基础，并可能采用验证技术。
增材制造 - NIST 的 TSAPPS
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