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1。引言多晶材料中的晶体纹理（首选方向）对这些材料的性质各向异性具有显着影响。这意味着Crystallites的方向分布或方向分布函数（ODF）的定量描述是材料表征和预测其性质的重要任务。无法直接测量ODF；取而代之的是，可以测量极线（PF）来确定ODF。从测量的PFS重建ODF是定量纹理分析的主要目标。因此，应解决两个问题以获得ODF：从PFS的实验PFS和ODF重建的测量和处理。在X射线衍射技术中，有两种用于PFS测量的基本模式：使用2D检测器（1）的常规模式，具有0D检测器和更高级的模式。虽然使用2D检测器的PF进行测量更为先进，但需要其他工具将检测器的数据转换为PFS。准备PFS时，可以启动ODF重建过程。当前，使用三种方法进行ODF重建：串联扩展方法（3），组件方法（4），（5）和直接方法，例如WIMV（6）或ADC（7）。每种方法都有优势和缺点。系列扩展方法更为笼统，但是它需要大量测量的PF，并且在数值计算中存在一些问题。组件方法将ODF表示为具有明确物理含义的一组模型函数（组件）。此方法最方便地解释和表示结果，但可能需要大量时间来选择组件并拟合其参数。直接方法在旋转空间中使用离散网格上的ODF的数值计算。它们是最简单，最方便的，但不提供ODF的解释。在下一节中，我们将描述SmartLab Studio II的纹理插件，该插件旨在用于数据处理和定量纹理分析。该插件实现了ODF重建的上述两种方法：WIMV和组件方法。两者都可用于所有类型的晶体系统和两种类型的样品对称性（三角骨和正骨）。另外，插件可以使用
SmartLab Studio II
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