本卷中的论文是封面和标题页上引用的技术会议的一部分。论文经过编辑和会议程序委员会的筛选和审查。一些会议演讲可能无法发表。其他论文和演讲录音可在 SPIE 数字图书馆 SPIEDigitalLibrary.org 上在线获取。这些论文反映了作者的工作和想法,并按提交内容在此处发布。出版商对信息的有效性或依赖该信息而导致的任何结果概不负责。请使用以下格式引用这些会议论文集的材料:作者,“论文标题”,第七届新型光电检测技术与应用研讨会,由 Junhong Su、Junhao Chu、Qifeng Yu、Huilin Jiang 编辑,SPIE 论文集第 11763 卷(SPIE,华盛顿州贝灵汉,2021 年)七位数文章 CID 编号。 ISSN:0277-786X ISSN:1996-756X(电子版) ISBN:9781510643611 ISBN:9781510643628(电子版) 由 SPIE 出版 PO Box 10,华盛顿州贝灵汉 98227-0010 美国 电话 +1 360 676 3290(太平洋时间)·传真 +1 360 647 1445 SPIE.org 版权所有 © 2021,光学仪器工程师协会。SPIE 授权将本书中的材料复制用于内部或个人用途,或用于特定客户的内部或个人用途,超出美国版权法授予的合理使用条款,但须支付复印费。本卷的交易报告服务基本费用为每篇文章 21.00 美元(或部分费用),应直接支付给版权许可中心 (CCC),地址为 222 Rosewood Drive, Danvers, MA 01923。也可以通过 copyright.com 上的 CCC Online 以电子方式付款。除非获得出版商的书面许可,否则禁止以再版、转售、广告或促销为目的的其他复制,或以任何形式的系统或多次复制本书中的任何材料。CCC 费用代码为 0277- 786X/21/$21.00。由 Curran Associates, Inc. 在美国印刷,经 SPIE 授权。
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