本卷中的论文是封面和标题页上引用的技术会议的一部分。论文经过编辑和会议计划委员会的筛选和审查。一些会议演讲可能无法发表。其他论文和演讲录音可在 SPIE 数字图书馆 SPIEDigitalLibrary.org 上在线获取。这些论文反映了作者的工作和思想,并按提交内容在此处发布。出版商对信息的有效性或依赖该信息而导致的任何结果概不负责。请使用以下格式引用这些会议论文集的材料:作者,“论文标题”,第七届新型光电检测技术与应用研讨会,由 Junhong Su、Junhao Chu、Qifeng Yu、Huilin Jiang 编辑,SPIE 论文集第 11763 卷(SPIE,华盛顿州贝灵汉,2021 年)七位数文章 CID 编号。 ISSN:0277-786X ISSN:1996-756X(电子版) ISBN:9781510643611 ISBN:9781510643628(电子版) 由 SPIE 出版 P.O. Box 10, Bellingham, Washington 98227-0010 USA 电话 +1 360 676 3290(太平洋时间)·传真 +1 360 647 1445 SPIE.org 版权所有 © 2021,光学仪器工程师协会。 除美国版权法授予的合理使用条款外,为内部或个人用途或为特定客户的内部或个人用途复制本书中的材料已获得 SPIE 授权,但须支付复印费。 译文
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