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新技术可精确定位电子产品中的纳米级“热点”以提高其寿命
罗切斯特的工程师们已经开发出一种方法来识别导致电子产品性能下降的微小过热部件。新技术可精确定位电子产品中的纳米级“热点”以提高其使用寿命，该文章首次出现在新闻中心。
来源:罗切斯特大学罗彻斯特的工程师们借鉴了生物成像方法，开发出一种方法来发现导致电子设备性能下降的微小过热组件。
当笔记本电脑或智能手机等电子设备过热时，它们从根本上来说受到纳米级传热问题的困扰。 找出问题的根源就像大海捞针。
“我们现代电子产品的构建模块是具有纳米级特征的晶体管，因此要了解哪些部分过热，第一步是获取详细的温度图，”罗彻斯特大学机械工程系助理教授、激光能量学实验室科学家 Andrea Pickel 说。 “但你需要具有纳米级分辨率的东西来做到这一点。”
Andrea Pickel 罗切斯特大学 机械工程系 激光能量学实验室现有的光学测温技术不切实际，因为它们在所能实现的空间分辨率上存在根本限制。因此，Pickel 和她的材料科学博士生 Ziyang Ye 和 Benjamin Harrington 设计了一种新方法来克服这些限制，即利用诺贝尔化学奖获奖的生物成像光学超分辨率荧光显微镜技术。在一项新的《科学进展》研究中，研究人员概述了他们使用发光纳米粒子绘制热传递图的过程。
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