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Mira XR：Tescan Group
Tescan Group介绍了Mira XR，这是一种超高分辨率的SEM-EDS解决方案，旨在在学术研究和质量控制环境中快速，精确的材料分析。 Mira XR旨在弥合常规FEG SEMS和超高分辨率（UHR）系统之间的差距，为工业和研究应用提供了分析灵活性，易用性和简化工作流程...
来源:Lab Bulletin出版日期：2025年5月20日
2025年5月20日|
作者/来源：Tescan
TescanTescan Group介绍了Mira XR，这是一种超高分辨率的SEM-EDS解决方案，旨在在学术研究和质量控制环境中快速，精确的材料分析。
MIRA XR旨在弥合常规FEG SEMS与超高分辨率（UHR）系统之间的差距，为工业和研究应用程序提供了分析灵活性，易用性和简化工作流程。
行业与研究的精度，速度和多功能性
MIRA XR针对高通量环境进行了设计，包括质量控制，冶金，电池研究和半导体故障分析，其中速度和成像精度都至关重要。
分辨率和可用性之间的新平衡
“使用Mira XR，我们为寻求高级成像性能的苛刻用户提供了优化的解决方案，并易于操作，” Tescan Group首席执行官Jean-Charles Chen说。 “我们的客户现在拥有一个SEM，可以在纳米级，生产力和多用户环境的分析性多功能性。”
“我们听取了客户的反馈，并设计了一个系统，可以优化工作流程的每个步骤。介绍Mira XR，以Mira优化的Brightbeam™技术为特色，用于特殊的低键化成像性能，重点是最小化数据的时间。MiraXR可以使操作员允许操作员注意到他们的样品，而不是添加仪器的启动，以使其添加较高的启动，以实现更高的启动，以实现更高的sem selem siles ofer selem selem selem selem selem selem seam seam seam seam seam seam sime''''''''詹森斯（Janssens），特斯坎集团（Tescan Group）的首席战略官。
Mira XR的关键优势：
高速，高分辨率成像 - BrightBeam™技术在低加速电压下实现了子纳米分辨率，而广域Optics™将样品导航加速40％。
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