方法观点：HéctorCorte-León探索的磁力显微镜校准
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来源:Advanced Science News方法观点：HéctorCorte-León探索的磁力显微镜校准
丽莎·史密斯（Lisa Smith）| 2025年6月3日
丽莎·史密斯 6月3日，2025年héctorcorte-León探索用于校准磁力显微镜的不同技术的优点和缺点。
什么是磁力显微镜？
最一般的术语是扫描探针显微镜（SPM），该探针显微镜（SPM）使用了使用物理探针感知样品表面的所有显微镜。通常，这些显微镜的视野约为100 µm，可以实现原子分辨率。在SPM系统中，使用范德华相互作用来感知样品表面的系统通常被称为“原子力显微镜”（AFMS）。在AFM家族内部有许多不同的模式，这些模式致力于感知一种或多种物理特性。例如，有些模式感觉到摩擦，电场或刚度，有些模式测量了电导率……
对于标准的2频MFM（即技术名称），AFM系统使用带有磁性涂层的基于硅的探针来感知磁场的梯度（同样，这是一般的：每天的新型探针和对标准成像模式上的变化模型的新模型，请参阅使用Nananosebructires的这种非常外国的探测器，请参阅使用NANOSETORES IN NANOSERITER的这种非常奇特的探针）。场的梯度增加了作用在探针上的力，因此，探针的振荡从激发元件的振荡转移了。
这是技术名称 这个非常异国的建议测量探针的流浪场
在测量探针的情况下，首选基于电子显微镜的技术，但有时人们还使用了微米大小线圈的已知场或已知开关场的磁性纳米结构。