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C63 会议
美国国家标准委员会 C63 电磁兼容性半年度会议。注意:请注明您计划参加的日期。由于每天名额有限,将按照先到先得的原则参加
来源:美国国家标准与技术研究院__计量学信息访客访问要求:
*不接受使用您的身份证件、护照或绿卡的应用程序、实体复印件和/或数字屏幕截图。
入住时未能出示有效且合规/未过期的带照片身份证件将导致拒绝进入该设施。
欲了解更多信息,请访问我们的校园访问和安全页面。
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美国国家标准委员会 C63 电磁兼容性半年度会议。注意:请注明您计划参加的日期。由于每天名额有限,将按照先到先得的原则参加
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