热部件关键词检索结果

罗切斯特大学
2024年7月17日 18:03

新技术可精确定位电子产品中的纳米级“热点”以提高其寿命

New technique pinpoints nanoscale ‘hot spots’ in electronics to improve their longevity

罗切斯特的工程师们已经开发出一种方法来识别导致电子产品性能下降的微小过热部件。新技术可精确定位电子产品中的纳米级“热点”以提高其使用寿命，该文章首次出现在新闻中心。