红光显示为绿色 尽管 CIR 摄影可用于从任何有利位置拍摄物体,但本期论文将重点介绍其在航空影像中的应用。这种摄影技术在航空影像中的实用性基于以下科学原理:大多数物体的 NIR 反射率可忽略不计,但活跃生长的植物具有较高的 NIR 反射率(比植物对可见绿光的反射率高约 6 倍),而受压植物(无论是疾病还是干旱)的 NIR 反射率会降低。因此,活跃生长的植被在航空影像上以鲜红色突出显示,受压植被显示为深红色,而无植被区域则显示为取决于其材料成分的颜色。此外,不同植被类型(针叶树与阔叶树以及不同物种)之间存在细微的 NIR 反射率差异,这有助于植物识别。尽管 CIR 摄影最初是为二战期间的美国军方开发的,用于探测敌方伪装的坦克,但现在它已被政府机构(县、州和联邦)以及私营部门和学术界用于众多应用,例如:
红光显示为绿色 尽管 CIR 摄影可用于从任何有利位置拍摄物体,但本期论文将重点介绍其在航空影像中的应用。这种摄影技术在航空影像中的实用性基于以下科学原理:大多数物体的 NIR 反射率可忽略不计,但活跃生长的植物具有较高的 NIR 反射率(比植物对可见绿光的反射率高约 6 倍),而受压植物(无论是疾病还是干旱)的 NIR 反射率会降低。因此,活跃生长的植被在航空影像上以鲜红色突出显示,受压植被显示为深红色,而无植被区域则显示为取决于其材料成分的颜色。此外,不同植被类型(针叶树与阔叶树以及不同物种)之间存在细微的 NIR 反射率差异,这有助于植物识别。尽管 CIR 摄影最初是为二战期间的美国军方开发的,用于探测敌方伪装的坦克,但现在它已被政府机构(县、州和联邦)以及私营部门和学术界用于众多应用,例如:
飞行时间测量的一个主要优点是目标的表面反射率不会显著影响计算的距离。但是,反射率更高的目标可实现最小的误差和最远的测量。同样,较大的目标更容易检测,因为它们占据了传感器 25° 视野的更多部分。
这些官能团结合极性溶剂中的高特定表面积使得变得有效的各种有机和无机污染物的吸附剂。go被认为是一种非常有前途的材料,用于治疗放射性废物和自然水,因为它具有高分子的放射性核素能力。[3] GO还被广泛研究为吸附剂的各种污染物,包括例如染料,重金属和有机物。近年来,GO也被研究以吸附三价欧盟。[3A,4]在某些研究中,欧盟(III)被认为是核废料中其他三价灯笼和静脉的化学类似物。[5]因此,了解欧盟(III)的吸附特别有用,对于开发出更有效的吸附剂来用于核废料处理。应注意的是,近年来,与石墨烯相关材料的放射性核素和重金属的吸附相关的研究领域受到多次缩回的影响(例如,请参阅[6])和广泛的校正。[7]因此,在以前的一些研究中,与GO吸附有关的一些研究受到了损害。通常仅使用GO分散体进行吸附研究,但不使用实心石墨氧化物或多层GO层压板进行。GO分散体可以沉积在合适的底物上(例如,通过自旋涂层[8]或滴铸造[9]),以制成多层薄膜。分散剂也可以被填充以制作根据预期的纸张命名的独立箔,作为论文[10]或膜。[11]多层组件是由不规则形状的和大小的go akes形成的,互相堆积了近似平行的平面内部方向。多层GO的吸附特性有望受到C-tattice中层间尺寸的影响,因为水或其他用于溶解的极性溶剂的肿胀
X 射线反射率 (XRR) 被广泛用于研究硬质和软质凝聚态材料的表面和界面,包括二维材料、纳米材料和生物系统。它能够以亚埃的精度推导出材料表面区域沿法线的横向平均电子密度分布。[4–6] 这有助于确定各种参数,包括表面粗糙度、单层或多层材料的结构以及毛细波对液体表面的影响。高亮度同步加速器 X 射线束能够在环境条件下实时在分子水平上分辨材料结构,而其他表面敏感实验技术几乎无法做到这一点。[7] 此类实验的例子是使用专用设备和样品池研究液体表面和界面。[8–11] 然而,存在与液体 XRR 相关的特殊问题。液体和支撑物之间的润湿角会导致样品液体弯曲,这通常会使数据分析复杂化。 [12] 这个问题可以通过利用能够处理大面积样品的样品环境来解决,例如朗缪尔槽 [13] 应用特殊的数据处理方法 [12,14] 或使用 X 射线纳米束。 [15] 然而,在某些情况下,可以充分利用样品曲率,例如 Festersen 等人 [15] 使用宽平行同步加速器光束“一次性”记录 XRR 曲线,但散射矢量 q 的范围有限。 专用于原位和/或原位 XRR 研究的样品环境 [16] 的最新发展开辟了新的机遇,例如,通过化学气相沉积 (CVD) 研究在液态金属催化剂 (LMCats) 上生长 2D 材料的过程。 [17] 这些系统有望生长高质量的材料 [18] 但同时,对实验的要求很高。 [19] 它们必须适应高操作温度、高材料蒸发以及在大气压下暴露于反应气体混合物。此外,它们还局限于有限尺寸的样本
光子综合电路的领域近年来已经取得了重大进展,对设备的需求不断增长,这些设备提供了高性能可重构性。由于常规可调方向耦合器(TDC)无法在调谐反射率时保持固定相,因此使用Mach-Zhhnder干涉仪(MZIS)作为用于构建大型电路的反射率调谐的主要构件。但是,由于需要完美平衡方向耦合器实现0-1的反射率,因此MZIS容易出现制造错误,这阻碍了它们的可扩展性。在这项研究中,我们在薄膜锂锂平台中基于耦合恒定调整引入了TDC的设计,并提出了优化的设计。我们优化的TDC设计实现了任意的反射率调整,同时确保在各种操作波长范围内保持一致的阶段。此外,与MZIS和常规TDC相比,它表现出的弯曲部分比MZIS较少,并且固有地对波导几何形状和耦合长度的制造误差具有固有的弹性。我们的工作有助于开发高性能光子综合电路,对各个领域的影响,包括光学通信系统和量子信息处理。
在包含镜面的几何结构中,由于积分球的不均匀性,反射的镜面分量可能无法以与漫反射分量相同的效率收集。可以使用校准镜和哑光白色反射标准再次确定与镜面光束相关的误差。确定此错误的方法在附录中给出。镜面光束反射误差系数表示为 K:;。表 3 列出了所有参与者的 K:; 值。这些值介于约 0.4% 和 0.04% 之间。对于光泽样品,镜面反射率通常在 4% 左右。因此,对于光泽样品,总反射率永远不会低于 4%,即使是黑色光泽样品也是如此。因此,对于参与者的结果,反射率始终至少是镜面光束误差的 10 倍。
人们正在考虑在下一代光刻节点中使用 Ta 基吸收体的替代品,以减少 3D 掩模效应并通过相位干涉改善图像调制。低复折射率 (n-ik) 材料可以在比传统吸收体所需厚度更薄的情况下提供相移行为,本质上充当衰减相移掩模 (attPSM) 膜。确定 attPSM 吸收体厚度和随之而来的相位需要确定最佳相移掩模反射率。使用高反射率吸收体进行成像可显示出更好的成像性能。吸收体厚度是在干涉效应导致高吸收体反射率的地方确定的。因此,低折射率 (n) 材料是理想的 attPSM 吸收体候选材料。使用维纳边界和有效介质近似 (EMA) 建模确定的低 - n 材料组合使用吸收体反射率在线空间和接触孔图案针对 NILS 和 MEEF 进行优化。使用反射近场强度成像将接触孔最佳厚度的吸收体候选物与传统的 Ta 基吸收体进行了比较。
使用一种新型的基于热力充分的技术作为一种适合这些高级反射器诊断需求的良好工具。热素感光谱已成为一种有力的工具,用于衡量材料光学性质的变化,并同时将光学性质的这些变化与物理和化学性质以及固体中的电子和热传输过程的相关变化相关。25–36疗法的原则依赖于测量由于温度和/或载流子密度的扰动而导致的样品反射率的变化。26,37,38最大程度地实现了热心型测量值,采用了激光泵 - 探针几何形状,其中调制泵激光器会诱导较小的振荡温度升高,而连续波(CW)探测器探针激光器显示反射率。在调制泵频率下的锁定检测可以使探针反射率的变化敏感至δr = 10-6 –6 –10-4。39–42这种检测表面反射率的小分数变化的能力使疗法更多地触觉计量学可行的途径,以检测表面化学,缺陷和结构的小变化,而这种途径可能无法通过传统上传统上采用的表面表征方法来分辨出来。43,44在这项研究中,我们比较椭圆法,X射线Pho- Toelectroscopicy(XPS),拉曼光谱和傅立叶变换红外(FTIR)光谱,如下所述。43,44在这项研究中,我们比较椭圆法,X射线Pho- Toelectroscopicy(XPS),拉曼光谱和傅立叶变换红外(FTIR)光谱,如下所述。此外,作为基于激光的泵 - 探针 - 探测热型光谱镜依赖于聚焦的激光源(通常是基于1/e 2个点尺寸的单位数字微米的顺序),这类测量还提供了出色的反射率空间分辨率,45-49
