电子诱导的电子发射通常用二次电子产额 (SEY) 来量化,有时也称为总电子产额 (TEY)。低 SEY 材料或表面旨在减少航天器和卫星的表面充电 [1,2] 以及减轻粒子加速器中电子云的形成。[3–7] 几十年来,为了满足不断发展的技术需求,人们在元素材料表面和化合物中 [7–17] 深入研究了二次电子产额的一次电子能量依赖性以及发射电子的动能分布。对于许多应用,低于 1 的 SEY 最大值足以避免撞击电子的级联倍增。然而,对于其他解决方案而言,进一步降低 SEY 可能会有所帮助,以抑制可能产生背景噪声或使测量信号恶化的反射、背散射和二次电子,例如在电子收集器中,用于测量超高真空 (UHV) 中的低电子电流或用于基于电离的压力计。[18,19]
摘要 卫星、航空航天设备和微机电系统 (MEMS) 中使用的许多微电子设备、模块和封装都需要长期运行可靠性。封装的电力和信号传输的完整性取决于封装能否在承受封装外部的恶劣力和条件的同时保持密封性,同时能够有效地保护封装组件。管理密封外壳内部的条件包括捕获可有效降低和降低设备功能的 VOC。在设计和开发电子封装时必须考虑所有这些因素。由于这些密封外壳是金属、聚合物、环氧树脂、陶瓷和玻璃的集成体;众所周知,在升高的工作温度下,封装外壳中可能释放出水分 (H 2 O)、氢气 (H 2 )、氧气 (O 2 )、二氧化碳 (CO 2 )、碳氢化合物 (HC) 和挥发性有机化合物 (VOC),这可能导致设备可靠性和使用寿命严重下降。
ATV 凭借其成熟的直接红外加热方法,为 SRO-706 吸气剂系统应用了顶部和底部加热。红外灯阵列作为 2 个独立的加热区进行独立监控和控制。这使得在热吸气剂工艺中达到最高温度 450°C 时,在真空下具有出色的加热均匀性。在吸气剂激活过程中,传感器或芯片温度保持在 100°C 以下。可选地,可以添加质谱仪