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本文介绍了功率循环测试台的最新进展,该测试台旨在在低 Δ TJ(>10 9 次循环,10 至 20°C)下执行非常高的循环次数。该测试台基于桥式逆变器的操作,其中功率器件是要测试的模块,并在实际条件(切换)下对功率芯片进行功率循环,具有很高的灵活性。该设备可以执行功率循环常规测试(低频,0.01Hz 至 0.1Hz)以及使用由 PWM 调制调整的中频(10Hz 至 100Hz)负载电流引起的温度变化进行快速测试。简要介绍了测试台,并通过使用红外摄像机对 1200V-75A IGBT 模块进行的热测量说明了现在可用的功率循环模式。最后,介绍了低温波动(10°C 和 20°C)下的老化测试结果。