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电子产品过时性和可靠性调查 - DTIC
执行摘要 军事能力的使用寿命大大超过实现关键功能的商用电子系统的设计寿命。随着电子行业继续投资于定期增加功能并减小物理尺寸，过时也与不可避免的物理现象和影响有关，这些现象和影响会降低小型化半导体技术和电子系统的可靠性，无论是在使用还是存储过程中。从设计上讲，电子技术在商业保修期之外几乎没有可靠性裕度。高度小型化的电子设备越来越多地出现间歇性故障或其他违反直觉的行为，因为组件会退化，而不是表现出明显的故障。系统可靠性也会随着系统复杂性而降低，由于软件难以正确运行，软件仍然是电子系统整个生命周期可靠性的主要限制因素。由于需要重新构建软件才能通过多核处理器获得所需的性能，多核处理器的商业趋势将加剧这一问题。过时和可靠性相互关联的问题影响着所有商用电子系统。这些担忧的范围很广，从使用尖端技术的自然影响（不成熟的技术很少高度可靠）到计划报废，计划报废是指故意将部件设计为只能在保修期内使用，客户有义务再次购买。无论出于何种原因，国防部都要承担维持可行能力的成本增加的影响，因为需要实施重大系统更新或更换，以确保大多数依赖电子系统的军事能力的长期可行性和可负担性。简单的反应，如淘汰旧能力和购买新能力，只会放大影响，因为报废速度可能会加快，保修期不太可能延长，制造商继续在保修期之外降低可靠性裕度。本报告调查了一些相互关联的问题，包括基础电子、电子系统可靠性、报废、软件可靠性、这些对军事应用的典型长使用寿命的影响、传统后勤反应（例如最后一次购买）的局限性，以及对这些担忧的一些新反应。技术重点略微偏向飞机上的嵌入式计算系统，但讨论适用于任何依赖某种电子系统的军事能力。目的是为讨论潜在的协调响应提供一些基础，并指出其中涉及许多技术和非技术因素。当前的国防能力计划 (DCP) 包括几个旨在解决过时问题的项目，其中相当一部分特别提到了与电子产品过时或可靠性相关的担忧。商业趋势可能会增加这些担忧对能力开发过程的影响。
电子产品过时性和可靠性调查 - DTIC
R. J. O'Dowd 空中作战部 国防科学技术组织 DSTO-TR-2437 摘要 军事资产的使用寿命大大超过其中使用的商业电子系统的设计寿命。电子产品的过时性越来越多地与物理特性相关联，这些特性会降低组件和系统的可靠性，无论是在使用还是存储过程中，商业保修期之外的设计余地很少。然而，软件内容仍然是电子系统可靠性的主要限制因素，新兴的商业趋势加剧了这一问题。因此，管理和维持电子系统的传统方法越来越低效且成本高昂。本报告调查了电子系统过时性和可靠性的相互关联问题，并描述了针对这些问题的新反应。